Научная литература
booksshare.net -> Добавить материал -> Физика -> Бонч-Бруевич В.Л. -> "Физика полупроводников " -> 96

Физика полупроводников - Бонч-Бруевич В.Л.

Бонч-Бруевич В.Л. , Калашников С.Г. Физика полупроводников — Москва, 1977. — 678 c.
Скачать (прямая ссылка): fizikapoluprovodnikov1977.djvu
Предыдущая << 1 .. 90 91 92 93 94 95 < 96 > 97 98 99 100 101 102 .. 295 >> Следующая


ехре“^<ехр^ (8.1)

и уравнение (6.11) упрощается:

d2<p 4ле е<р
$ 8] ОБОГАЩЕННЫЙ КОНТАКТНЫЙ СЛОЙ В ОТСУТСТВИЕ ТОКА 221

Умножая обе части этого уравнения на d<p/dx и интегрируя по <р, получаем

Ш \2 _ 8mkkT е<р р \dx) ~ е exP*f + c-

Постоянная интегрирования С определяется из условия, что на границе обеих областей

dq>

Поэтому

С =

Ф = и*. d;c

ЬппькТ

¦ 0 •

Р 'feT

Отсюда видно, что, вследствие условия (8.1), для области вблизи контакта постоянной С можно пренебречь по сравнению с первым слагаемым. Поэтому

d(p__/Snn^kT V/г

dx “

eq>

exp Typf •

Так как мы рассматриваем обогащенный слой в электронном полупроводнике, то ф < 0 и увеличивается по абсолютной величине с увеличением х, а следовательно, нашей задаче соответствует знак минус. Интегрируя это уравнение еще раз по х в пределах от 0 до х, находим распределение потенциала в виде

W%.F

— еф = 2kT In

(8.2)

где а есть характеристическая длина:

/ zkT Vh

a —I

(8.3)

Рис. 6.10. Распределение электрического потенциала ф и концентрации электронов п в пластинке полупроводника с двумя металлическими контактами в отсутствие ток.а. .

\2яп*е2

С точностью до множителя Т'1’- это есть не что иное, как длина экранирования (7.2), в которой, однако, концентрация электронов в глубине образца п0 заменена ее значением на контакте п*. Таким образом, потенциал вблизи контакта изменяется по логарифмическому закону. Распределение концентрации электронов выражается соотношением

п =

Вдали от контакта (область 2)

Ф = «*,.

еиъ

n = nk ехр-~г

-п0.

(8.4)

(8.5)
222

ЯВЛЕНИЯ в КОНТАКТАХ (МОНОПОЛЯРНАЯ ПРОВОДИМ.) [ГЛ. VI

Распределение потенциала и концентрации электронов в слое полупроводника между двумя одинаковыми металлическими электродами с обогащенными слоями схематически показано на рис. 6.10.

Таким образом, прилегающие к металлическим электродам слои полупроводника, толщина которых ~а, могут «заливаться» носителями заряда. При этом концентрация носителей вблизи контактов, как показывает формула (8.4), не зависит от их концентрации в глубине полупроводника п0, которая может быть как угодно мала (изолятор). Поэтому электропроводность слоистых (пленочных) структур металл — тонкий слой диэлектрика — металл (структура МДМ) может быть велика, даже если удельная электропроводность диэлектрика (в отсутствие контакта) ничтожно мала,

§ 9. Истощенный контактный слой

Рассмотрим теперь противоположный случай, когда приконтакт-ный слой в полупроводнике обеднен основными носителями (запорный, или блокирующий, контакт). Мы ограничимся предельным случаем очень сильного обеднения, который особенно легко поддается расчету и в то же время часто встречается в практике.

Контакт металл—полупроводник. Положим, что к контакту приложено внешнее напряжение и, .создающее обедненный слой. Если напряжение достаточно велико, то, следуя Шоттки, можно приближенно считать, что в некотором слое полупроводника толщиной d электронов нет вовсе («полностью истощенный слой»), так что объемный заряд обусловлен только заряженными донорами и акцепторами. В этом случае имеем euk > 0 (запорный слой),

ехр e-^kTU^ < 1 и уравнение Пуассона (6.11) принимает простой вид:

а--*?-™*. (9.,,

Интегрируя это уравнение два раза и принимая во внимание гра-

ничные условия (при d, подлежащем определению):

х = 0: ф = 0; x = d: ф = ы + и*, § = 0, (9.2)

мы получаем

-1=8=-^-*), ^

» = id-xf. (9.4)

Полагая в формуле (9.4) ф = 0, х = 0, находим толщину запорного слоя:

, е (uk + u)

й~ V 2пепо * (9-5)
ИСТОЩЕННЫЙ КОНТАКТНЫЙ СЛОЙ

223

р

п

§

'¦Ш

Ушл

-*р0

X

A I
~dp
0 oh'*
Аналогично можно найти распределение электрического поля и потенциала в контакте двух полупроводников. При этом особый интерес представляет случай, когда один из полупроводников имеет проводимость р-.типа, а другой — n-типа. Такие электронно-дырочные переходы, или, иначе, р—«-переходы, широко применяются в современной полупроводниковой электрони- а) _ ке (см. гл. VII и VIII). Для получения истощенных слоев, очевидно, необходимо, чтобы к n-части перехода был приложен плюс источника, а к р-части— минус (рис. 6.11, а), или, при обратной полярности, | и | < I uk
Предыдущая << 1 .. 90 91 92 93 94 95 < 96 > 97 98 99 100 101 102 .. 295 >> Следующая

Реклама

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed

Есть, чем поделиться? Отправьте
материал
нам
Авторские права © 2009 BooksShare.
Все права защищены.
Rambler's Top100

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed