Научная литература
booksshare.net -> Добавить материал -> Физика -> Уиллардон Р. -> "Оптические свойства полупроводников" -> 66

Оптические свойства полупроводников - Уиллардон Р.

Уиллардон Р. Оптические свойства полупроводников — Мир, 1970. — 488 c.
Скачать (прямая ссылка): opticheskiesvoystvapoluprovodnikov1970.djvu
Предыдущая << 1 .. 60 61 62 63 64 65 < 66 > 67 68 69 70 71 72 .. 165 >> Следующая


Алмаз

г ч S в ю 12

Постоянная решетин, А

Фиг. 18. Зависимость энергии зон от постоянной решетки (иа работы Бардина и Шокли [76}).

на зонную изменения Статически можно про-

ского давления особый интерес вызывает поглощение в тех случаях, когда о изменением давления происходит замена одних экстремумов зон, участвующих в фундаментальном поглощении, другими.

Как температура, так и давление воздействуют структуру, вызывая постоянной решетки, такую деформацию А извести, либо нагрузив образец гидростатическим давлением, Ji ибо изменив его температуру. Динамическая деформация возникает при наличии длинноволновых акустических фононов. О том. пак злектроппо-фононное взаилгодействие создает вклад в собственную энергию электрона, мы уже говорили.

Зависимость электронных энергетических уровней от постоянной решетки качественно отражена на фиг. 18. Бардин и Шок-ли [76] показали, что изменение данного энергетического уровня при малых деформациях почти во всех экспериментальных условиях можно описать посредством тензора деформационного потен- Гл. '<?. Поглощение вблизи края фундамеїітальной полосы 209

циала Е,j, такого, что изменение энергии данного уровня в точке г кристалла дается выражением

(і Щ

І.З

где Wi Дг) — тензор деформации.

Одноосная или двухосная деформации могут вызывать сложные эффекты вследствие изменения симметрии кристалла. Такая деформация снимает вырождение экстремумов зон и может создать тонкую структуру края поглощения '). Детальные исследования этих эффектов в соединениях A111Bv не проводились. Мы рассмотрим только случай однородной деформации. Энергию краев зон Ec или E11 кубического кристалла, подверженного деформации А, можно записать в виде

Я,(А)=Я,(0) + Я,Д. (125)

При заданных температуре и давлении имеем

E1(T1P) = E1(T) +E1A(P), (126)

где A(Zj) — деформация, вызываемая приложенным давлением Р, a Ei (T) — энергия крея зоны при нормальном давлении, которая дается выражением

E1 (T) = E1 (0) + E8t і (Г) ]-EtA (T). (127)

Здесь Es, г — собственная энергия, a A (T) — температурная деформация. Далее,

El(TtP) = El(Q) I Esj (T) +EtA (Т, Р). (128)

Для энергии запрещенной зоны получаем

Ea (Т, Р) = E8 (0) - [E1, с (T) - Es, 0 (Г)] + (Et, с - Eu „) А (Г, /<) (129) і'де

о

1J Валентная зона соединения Ar В четырехкратно вырождена При k = 0. Наложение одноосной деформации приводит к появлению двух максимумов в валентной, зоне с малым расстоянием по энергии. Зона нрово-димости фосфида галлия имеет несколько минимумов в различных эквивалентных направлениях в fe-пространстве. При одноосной деформации в иро-изпольном направлении разные минимумы должны сдвигаться в разной сте-пепи. Исследования подобного рода были бы необычайно поденными в тех случаях, когда мояшо наблюдать максимумы поглощения, тание, как в дкеи-тонных спектрах пли в спектрах межзониого магнетооптилесного еффекта.

14—1289 210

' Е. Джонсон

Здесь первая (по порядку) частная производная —тепловой коэффициент расширения, а вторая — сжимаемость, взятая со знаком минус. Это макроскопические величины, которые легко измерить. Из выражения (129) можно получить

§)т. (!32)

Обычный способ изучения изменения ширины запрещенной зоны таков: определяют, как изменяется энергия фотона, при которой величина фундаментального поглощения имеет заданное значение. При этом предполагают, что прай поглощения смещается без изменения формы. Этим способом изменение ширины запрещенной зоны можно измерить с гораздо большей точностью, чем саму ширину запрещенной зоны. В случае разрешенных переходов в фундаментальном поглощении такой способ определения изменения ширины запрещенной зопгл, по-видимому, правилен. Но, вообще говоря, при интерпретации изменений формы и интенсивности фундаментального поглощения нужна осторожность. Например, в случае переходов, в которых участвуют фононы, интенсивность поглощения пропорциональна числу фононов, и поэтому7 фундаментальное поглощение зависит от темпера ту pi,і. Когда же запрещенная зона связана с непрямыми переходами, оптический матричный элемент может зависеть от давления. Осложнения могут возникать и благодаря тому, что в поглощении принимают участие экентоны или примеси.

2. ЭФФЕКТЫ ДАВЛЕНИЯ

Эффекты давления в элементах IV группы и соединениях AlrlBv

исследовал целый ряд авторов, в том числе Пол с сотрудницами

в Гарварде и Дрикмейер с сотрудниками в шт. Иллинойс. Обзор

работ этого направления был сделан в статьях Пола [77] п Кейса [200]. Найденное изменение ширины запрещенной зоны, вообще говоря, линейно зависит от давления в согласии с линейной теорией деформационного потенциала. Но зачастую возникает излом, когда один линейный участок сменяется другим, с иным наклоном. Таной излом свидетельствует о смепс типа зон, принимающих участие в поглощении.

Теоретически следует ожидать три типа минимумов зоны проводимости; один тип в симметричной точке зоны Бриллюэна, точке Г, Другой — вблизи ТОЧКИ X И Третий — около точки L. Край валентной зоны должен лежать вблизи точки Г. Существо- Г л. в. Поглощение вблизи края фундаментальной полосы 211
Предыдущая << 1 .. 60 61 62 63 64 65 < 66 > 67 68 69 70 71 72 .. 165 >> Следующая

Реклама

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed

Есть, чем поделиться? Отправьте
материал
нам
Авторские права © 2009 BooksShare.
Все права защищены.
Rambler's Top100

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed