Физическая энциклопедия Том 4 - Порохов А.М.
Скачать (прямая ссылка):
Рис. 11. Атомная модель молекулы гуанил-специфичной рибонуклеази Cj, построенная на основе рентгеноструктурного исследования монокристаллов этого белка с разрешением 1,55 А.
мого белка. Разностные ф-ции Патерсона для производных и нативного белка дают возможность локализовать в элементарной ячейке кристалла положения тяжёлых атомов. Координаты этих атомов и наборы модулей структурных амплитуд белка и его тяжелоатомных производных используются в спец. алгоритмах для оценки фаз структурных амплитуд. В белковой кристаллографии применяются поэтапные методы установления атомного строения макромолекул с после до ват. переходом от низкого к более высокому разрешению (рис. 11). Разработаны и спец. методы уточнения атомного строения макромолекул по реитг. дифракц. данным. Объёмы вычислений при этом столь велики, что эффективно могут быть реализованы только на самых мощных ЭВМ.
Вопросы Р. с. а., связанные с изучением реального строения твёрдого тела по дифракц. данным, рассмотрены в ст. Рентгенография материалов.
Jlum.: Белов Н. в., Структурная кристаллография, М., 1951; Бокий Г. Б., Пораи-Кошиц М. А., Рентгеноструктурный анализ, 2 изд., т. 1, М., 1964; Липсон Г., К о к р е н В., Определение структуры кристаллов, пер. с англ., М., 1956; Бюргер М., Структура кристаллов и векторное пространство, пер. с англ., М., 1961; Г и н ь е А., Рентгенография кристаллов. Теория и практика пер. с франц. М., 1961; Stout G. H., Jensen L1 H., x-ray structure determination, N. Y.— L., 1968; X e й к e p Д. М. Рентгеновская дифракто-метрия монокристаллов, JI., 1973; Бландел Т., Джонсон Л., Кристаллография белка, пер. с англ., М., 1979; Вайнштейн Б. К., Симметрия кристаллов. Методы струнтурной кристаллографии, М., 1979; Electron and magnetization densities In molecules and crystals, ed. by P. Becker, N. Y.— L., 1980; Кристаллография и кристаллохимия, М., 1986; Structure and physical properties of crystals, Barselona, 1991. B. И. Симонов.
РЕНТГЕНОВСКОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ (реитгеиовские лучи) — электромагнитное излучение, занимающее спектральную область между УФ- и гамма-излучением в пределах длин волн А. от IO2 до 10~3 им (или энергий фотонов Av от 10 эВ до иеск. МэВ; V = с/А. — частота излучения). Открыто в 1895 В. К. Рентгеном (W. К. Roentgen). Р. и. сА, <0,2 им обладает значит, проницающей способностью и иаз. жёстким; при Я > 0,2 нм Р. и. сильно поглощается веществом, и иаз. мягким.
Источники рентгеновского налученнн. Наиб, распространённый источник Р. и.— рентг. трубка, в к-рой электроны, вырывающиеся из катода в результате термоэлектронной или автоэлектрониой эмиссии, ускоряются электрич. полем и бомбардируют металлич. анод. Атомы анода, возбуждаемые электронным ударом, н электроны, теряющие кинетич. энергию при тор-цожении в веществе, испускают Р. и. Излучение реитг. трубки иаз. первичным и состоит из двух частей: линейчатой (характеристическое Р. и.) и вепрерывной (тормозное Р. и.; CM. Рентгеновские спектры). При действии первичного Р. и. на вещество последнее испускает флуоресцентное (вто-пичиое) Р. и., состоящее только из линейчатой части. Если мишень бомбардировать протонами, а-частицами или более тяжёлыми но нами с энергией неск. МэВ иа нуклон, то мишень будет испускать Р. и. линейчатого спектра с очень слабым непрерывным излучением (контрастность характеристич. линий такого Р. и. очень высокая). Для ускорения ионов используют электро-статич. геиераторы или циклотроны.
В качестве источников Р. и. могут служить также иек-рые радиоактивные изотопы; одни из них непосредственно испускают Р. и. (иапр., атом 66Fe в результате Я-захвата превращается в 55Mn и испускает Я-спектр Mn), ядра др. радиоактивных элементов (напр., 210Po) испускают электроны или а-частицы, бомбардирующие мишень, к-рая испускает Р. и. Интенсивность излучения изотопных источников на иеск. порядков ниже интенсивности излучения рентг. трубки, а их габариты, вес и стоимость значительно меньше, чем у уста-БОВКИ с рентг. трубкой.
Излучение рентг. диапазона присутствует и в сипхро-тронном излучении. Это Р. и. можно выделить монохроматором и использовать для разл. целей. Оно иа неск. порядков величины превосходит по интенсивности
излучение рентг. трубки. Ещё более интенсивную реитг. составляющую содержит ондуляторное излучение, к-рое иа неск. порядков превосходит по интенсивности рентг. составляющую синхротронного излучения; в этих случаях энергия Р. и. столь велика, что кристалл-анализатор, используемый в рентгеновской спектральной аппаратуре, нагревается до неск. сотен °С и разрушается, если ие приняты спец. меры защиты.
Очень высокой интенсивностью обладает также рентг. составляющая переходного излучения. Естеств. источники Р. и.— Солнце и др. космич. объекты, в т. ч.
Луиа, поверхность к-рой бомбардируют частицы высокой энергии, испущенные Солнцем.
Характеристич. Р. и. поликристаллич. анода рентг. трубки распространяется в пространстве изотропно, тогда как распространеине тормозного Р. и. анизотропно. При малых напряжениях на рентг. трубке (до 20—30 кВ) тормозное Р. и. имеет макс. интенсивность в направлениях, лежащих в плоскости, перпендикулярной направлению движения электронов, возбуждающих Р. и. При очень высоких напряжениях иа рентг. трубке (более неск. сотен тысяч кВ) почти всё излучение распространяется в направлении движения пучка электронов и выходят наружу через пластинку анода. Рентг. составляющая синхротронного излучения поляризована н распространяется только в плоскости кольца синхротрона. Вертикальная расходимость этого излучения очень мала.
