Физическая энциклопедия Том 4 - Порохов А.М.
Скачать (прямая ссылка):
между собой интерферометров — рентгеновского и MW* терферожетра Фабри — Перо было найдено значення
1-й уел. единицы измерения длины волиы Р. И.-TVtf.1 X-единицы (IX = 1,0020802«IO-4 им). Рентг. интер* ферометр позволяет выполнять особо точные измерения параметров кристаллич. структуры, определять малые механич. напряжения в кристаллах, показатели пр№ ломления Р. и. в разл. веществах.
Для получения рентг. спектров используют дифракцию Р. и. от монокристаллов; причём, согласно уело-вию Брэгга — Вульфа, может быть получен рентг. спектр при X < 2d (где d — межплоскостиое расстояние; применяемые в реитг. спектроскопии кристалли имеют разл. значения 2d < 2,6 нм); прн X > 2,6 нм мбгут быть использованы многослойные микроструктуры, к-рые, однако, обеспечивают лишь сравнительно незиачит. разрешение. Диспергирующим элементов для получения спектров с Р. и. в области I < X <
< 100 нм служат дифракционные решётки со скользят щим падением Р. и. под углом в иеск. градусов. Такие ешётки обычно изготовляют нарезанием штрихов про-илиров. алмазным резцом, причём число штрихов доходит до 1200 на 1 мм. Резец передвигается от штриха к штриху с помощью прецизионных винтов, что He7 избежно накладывает иа решётку дополнит, периодичность, в результате чего в спектре появляются ложные линии, называемые духами. Этого недостатка избегают решётки, изготовленные литографич. методами; с их помощью получают дифракц. решётки с числом штрихов до 6000 иа 1 мм.
Характеристич. Р. и. реитг. трубки ие поляризовано, тормозное — частично поляризовано, причём вблизи квантовой границы его спектра коэф. поляризациЕ приближается к 100%. При дифракции характеристич. Р. и. в кристалле возникает поляризация, зависящая от угла Брэгга 0 и приближающаяся к 100% при д = = 45°, т. е. когда угол между падающим и дифрагированным лучами равен 90°.
Регистрация рентгеновского излучения. Для регистрации Р. и. используют чаще всего спец. рентг. фотоплёнку (см. Рентгенограмма). Т. к. жёсткое Р. и. обладает значит, проницаемостью, фотоплёнка содержит повыш. кол-во AgBr и выполняется двусторонней. Для определения отношения интенсивностей линий спектра илн распределений интенсивностей в дифракц. картине по их фотоснимку используют микрофотометры и сенситометрич. кривую зависимости логарифмич. фото плотности от интенсивности Р. и. Прн больших интенсивностях их измеряют с помощью ионизационной камеры, при средних и малых интенсивностях — с помощью к.-л. пропорционального детектора. Амплитуда регистрируемого сигнала в последних пропорциональна эиергки фотона, что позволяет использовать эти приборы в сочетании с многоканальным амплитудным анализатором импульсов в качестве реитґ. спектрометров. Для регистрации Р. и. служат сцин-тилляц. счётчики [при X <0,3 им; кристаллы Nal(Tl), относит, разрешение ~50% (в области X « 0,15 им)], пропорциональные счётчики отпаянного или проточного типа [при 0,1 < X < 10 им; относит, разрешение ~15% (в области X да 0,15 нм)], вторнчно-электрониые или каналовые электронные умножители открытого типа с входным фотокатодом (при X > 1 нм), полупроводниковые детекторы [при X < 1 им; кристаллы Si(Li) или Ge(Li), относит, разрешение ~2,5°/о (в области X « 0,15 нм)]; см. Детекторы частиц. Используют также координатно-чувствительные детекторы типа микроканальных пластин или приборов с зарядовой связью, с помощью к-рых линейчатый спектр можно зарегистрировать на ленте самописца в виде записи с правильным относит, расположением линий и правильными относит, амплитудами этих лкиий.
Применение рентгеновского излучения. Нанб. широкое использование Р. н. нашло в медицине (для рентгенодиагностики н рентгенотерапии нек-рых заооле-
ваний), дефектоскопии металлич. изделий и сварных швов, рентгенографии материалов, реитг. структурном анализе (для исследования атомной решётки кристаллов, фазового анализа сплавов, в частности сталей, определения внутр. механич. напряжений, выявления размеров частиц нек-рых материалов, в частности катализаторов с частицами коллоидного размера), в рентгеновской топографии, реитг. микроскопии, спектроскопии твёрдых тел и молекул, реитгеноспект-ральном анализе элементного состава материалов (например, поверхности Луны н плаиет), реитг. астрономии.
Лит.: Хараджа Ф., Общий курс рентгенотехники,
3 изд., M - Л., 1966; Блохин М. А., Физика рентгеновских лучей, 2 изд., М., 1957; его же, Методы рентгеноспектральных исследований, М., 1959; Рентгеновские лучи, пер. с нем. и англ., М., 1960; Миркин Л. И., Рентгеноструктурный анализ. Справочное руководство, М., 1976; Рентгенотехника. Спра-
вочник, под ред. Bt В. Клюева, кн. 1—2, М., 1980; Блохин М. А., Швейцер И. Г., Рентгеноспектральний спра-йочник, М., 1982; Рентгеновская оптика и микроскопия, под ред, Г. Шмаля, Д, Рудольфа, пер. с англ., М., 1987.
М. А. Блохин.
РЕНТГЕНОГРАММА — зарегистрированное иа фотоплёнке (фотопластинке) изображение объекта, возникающее в результате взаимодействия с ним рентг. излучения. При таком взаимодействии могут происходить поглощение, отражение и дифракция рентг. лучей. Пространственное распределение интенсивности излучения после взаимодействия, фиксируемое иа Р., отражает строение объекта.
