Введение в методы микроскопического исследования - Аппельт Г.
Скачать (прямая ссылка):
1. Прежде всего необходимо обращать внимание на обычно неровную поверхность объектов. Следует непрерывно поднимать и опускать тубус, фокусируя отдельные части препарата. Отсутствие у объективов глубины резкости особенно ощутимо при больших увеличениях.
2. При освещении по методу светлого поля покровные стекла так сильно рефлектируют, что их не при-
Рис. 168. Эффект резких теней при одностороннем освещении по методу темного поля падающим светом с отвесно и плоско падающими лучами.
а — лучи; б — объект.
меняют. При освещении по методу темного поля покровные стекла мешают тем меньше, чем больше азимут лучей, освещающих объект; это значит, что больше всего мешают покровные стекла при одностороннем освещении и меньше всего — при всестороннем.
3. Ошибки освещения.
а) Азимут-эффект (см. рис. 107).
б) Возникновение резких теней. Чем более косо падает свет, тем длиннее и контрастнее становятся резкие тени подобно тому, как самые длинные тени бывают при заходе солнца. Контуры объекта, оказывающиеся в затененной области, видны плохо, а иногда их изображение и совсем отсутствует. В этих участках появляются черные поверхности. Правда, благодаря этому изображение приобретает большую рельефность. Чем больше азимут освещения и чем более отвесно падает свет, тем меньше становится рельефность; однако изображение объекта все больше соответствует действительности. Если свет падает перпендикулярно поверхности столика, как в вертикальном иллюминаторе Бекка, то ввиду недостаточной контрастности в горизонтальных поверхностях исчезает рельеф. Кроме
того, блики с поверхности объекта значительно маскируют некоторые детали, так как вертикально падающий свет хорошо отражается от верхней поверхности препарата.
Рис. 169. Отражение падающих лучей наклонными поверхностями при одностороннем освещении объекта падающим светом по методу темного поля.
1 — при низкой; 2 — при средней; 3 — при высокой апертуре; а •— луч; б — косостоящий объект.
Рис. 170. Отражение падающих лучей от поверхности объекта при различном наклоне (одностороннее освещение падающим светом по методу темного поля).
Рис. 171. Отражение падающих лучей от поверхности объекта при различном наклоне (освещение падающим светом по методу светлого поля).
в) Просматриваемость поверхностей объекта. Рассматриваемые поверхности объектов не всегда расположены строго горизонтально; часто они имеют
какой-либо наклон; поэтому нельзя получить одновременно изображения всех поверхностей.
В этом играют роль различные обстоятельства.
Во-первых, при освещении по методу темного поля имеет место отражение лучей на наклонной поверхности. Если апертура объектива очень мала, то лишь немногие из отраженных лучей попадут во фронтальную линзу.
Во-вторых, в объектив попадает тем меньше отраженных лучей, чем больше наклон освещенной поверхности.
В-третьих, имеет значение также угол падения лучей, освещающих объект. Чем более полого они падают, т. е. чем больше, следовательно, угол падения по отношению к оптической оси микроскопа, тем меньше отраженных лучей попадает в объектив.
Если речь идет об освещении по методу светлого поля, как у вертикальных иллюминаторов, то, например, при применении вертикального иллюминатора Бекка имеет место следующая картина.
Чем более косо расположена освещаемая поверхность по отношению к горизонтали, тем скорее отраженный луч минует объектив; если его апертура очень велика, то наклон поверхности может быть довольно значительным.
Из всего сказанного вытекает, насколько различными могут быть результаты, полученные при разном освещении. Представление об истинном строении одного и того же объекта может дать лишь совокупность наблюдений при различных условиях освещения.
Глава 8
МИКРОСКОПЫ ОСОБОГО НАЗНАЧЕНИЯ
Настоящая глава преследует цель познакомить читателя с наиболее важными микроскопами специальных конструкций, имеющих строго определенное назначение и не являющихся поэтому общеизвестными.
1. Хорошо знакомая всем: лупа может служить для рассматривания микроскопических препаратов при незначительных увеличениях; видимые через лупу изображения являются прямыми и неперевернутыми.
Поэтому лупу можно характеризовать как простой микроскоп в противоположность сложному микроскопу с двойной ‘системой построения изображений при помощи объектива и окуляра. У «лупного микроскопа» сменные лупы — в большинстве случаев апланатические, с 5—20-кратным увеличением — закреплены так, что они могут перемещаться по вертикали. Объект помещают на предметный столик, как в сложном микроскопе, и освещают зеркалом (см. рис. 173). Лупные микроскопы служат главным образом для препаровочных работ в научно-исследовательских институтах. Их применяют для наблюдений как в проходящем, так и в падающем свете.
Особенно удобны простые микроскопы для преподавания. На рис. 172 изображен такой микроскоп с вмонтированным осветителем и насаженной проекционной призмой, являющийся школьным пособием.
