Научная литература
booksshare.net -> Добавить материал -> Физика -> Вайнштей Б.К. -> "Структурная электронография" -> 63

Структурная электронография - Вайнштей Б.К.

Вайнштей Б.К. Структурная электронография — Академия наук СССР, 1956. — 342 c.
Скачать (прямая ссылка): strukturnayaelektronografiya1956.djvu
Предыдущая << 1 .. 57 58 59 60 61 62 < 63 > 64 65 66 67 68 69 .. 137 >> Следующая

(стр. 146). Интенсивность рефлексов электронограмм от текстур, так же как
и от мозаичной монокристальной пленки из мелких блоков, можно подсчитать,
вводя в рассмотрение функцию распределения кристалликов по углам. В
случае текстур характерным признаком этой функции распределения является
равномерный разброс кристалликов вокруг оси текстуры.
Как и в случае мозаичной пленки, функцию распределения кристалликов можно
представить через ее составляющие по плоским углам,
143
причем для каждой из составляющих справедливо нормирующее условие (51).
Первой составляющей функции распределения в текстурах является плотность
распределения /(а,) по углам вокруг оси текстуры в полном угловом
интервале 2:т. Эта величина постоянна и, в соответствии с (51),
определяется соотношением:
2 я
/ (a,) J </*, = /*;/(",)=?. (72)
О
Вследствие несовершенства реальных препаратов все те оси кристалликов,
которые в идеальной текстуре должны быть параллельны, в действительности
разбросаны в некотором телесном угловом интервале. Чем меньше этот
интервал, тем совершеннее текстура. Такой разброс обусловливает
превращение колец обратной решетки в сферические пояса (см. рис. 81 и
82), вследствие чего рефлексы электронограмм от текстур, соответствующие
сечению таких поясов, имеют вид дужек. Этот разброс неравномерен, т. е.
должен быть охарактеризован второй составляющей функции
распределения/(со). Вместо распределения по телесным угдам со удобнее
рассматривать проекцию этого распределения / (а2) на любой (вследствие
цилиндрической симметрии) плоский
угол а2. Вид /(а2) определяет как вид узлов, лежащих на оси
текстуры,
так и вид сечения остальных кольцевых узлов (рис. 81).
Если угловой интервал существования /(а2) есть а/, то, согласно (58),
можно полагать, что плотность в максимуме примерно вдвое больше среднего
значения /(ос2), т. е. что
/ (*2)пшх " 2 A J7 (ос2) dy.2 = ^ , (58)
где а = а'/2- эффективная угловая ширина функции /(х2).
Заметим сразу же следующее. Если интересоваться интегральной
интенсивностью дужки, то совершенно безразлично, как и на какую
протяженность дужки распределена в ней интенсивность. Следовательно, в
этом случае угловой разброс вокруг оси текстуры несущественен и /(ос2) не
должно входить в формулу интегральной интенсивности. Однако возможен и
другой подход к измерению интенсивностей рефлексов электронограмм от
текстур - можно измерять не интегральную интенсивность всей дужки, а
интенсивность в центре дужки, приходя-
П*г)
Рис. 81. Схема к вычислению интегральной интенсивности дужек
электронограмм "прямых текстур".
144
щуюся на малый участок. Естественно, что такая "локальная" интенсивность
будет зависеть от вида дужки, т. е. от /(а2).
Формула интегральной интенсивности для "прямых текстур". Этим условным
названием обозначаются снимки от игольчатых текстур,, снятые без наклона
препарата - при угле <р = 0°, т. е. при перпендикулярном положении его к
пучку электронов, а также снимки пластинчатых текстур на отражение. В
обоих случаях ось текстуры перпендикулярна к пучку.
Для подсчета интегральной интенсивности дужки следует, точно так же, как
это было сделано для рефлексов электронограмм от мозаичных препаратов,
взять интеграл значений интерференционной функции по двум направлениями
хх и х2 в плоскости экрана, которые и в данном случае совпадают с
направлениями hx и h2 в обратной решетке, представленной на экране в
масштабе Ы (рис. 81). Значит, и для прямых текстур справедлива формула
(52а, б):
В данном случае а - это угол поворота аг вокруг оси текстуры. Направление
отсчета <хг совпадает с направлением Л3, перпендикулярным к плоскости
экрана. Поскольку, по (72), /(aj) = п/2т:, получим, что для текстур
Установим соответствие между элементарным углом поворота вокруг оси
текстуры da2 и расстояниями в обратном пространстве. Угол ах
отсчитывается вдоль кольца (см. рис. 81), радиус которого в обратной
решетке - горизонтальная составляющая вектора Нш данного кольца. Для
ортогональных решеток эта горизонтальная составляющая есть /7ш-На снимке
этсгму расстоянию соответствует расстояние рефлекса от оси текстуры, т.
е. его горизонтальная координата R = LlHhko• Следовательно, согласно рис.
81,
Заметим, что если выводимые формулы нужно будет применять не к
ортогональным, а к косоугольным решеткам, то под Hhko (и dhko) в них
следует понимать соответствующую горизонтальную составляющую вектора Нщ
данного кольца. Имея в виду (42) и (74), получим, что, согласно формуле
(73), величина G для текстур принимает значение:
(73)
(74)
(75)
10 Б. К. Вайнштейн
145
Интересно сравнить формулы (75) и (55а). Отличие их - в замене dhkl на
d/ikQ, поскольку теперь угловой разброс не произволен, а происходит лишь
вокруг оси текстуры; кроме того, в знаменателе небольшая величина а
(равная vu радиана) заменена на большую, а именно 2тг радиан, т. е. в
отражении участвует гораздо меньшая доля кристалликов- примерно однаj
сотая прежнего количества. Действительно, из всей окружности, в которую
Предыдущая << 1 .. 57 58 59 60 61 62 < 63 > 64 65 66 67 68 69 .. 137 >> Следующая

Реклама

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed

Есть, чем поделиться? Отправьте
материал
нам
Авторские права © 2009 BooksShare.
Все права защищены.
Rambler's Top100

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed