Научная литература
booksshare.net -> Добавить материал -> Физика -> Смирнов Л.С. -> "Легирование полупроводников методом ядерных реакций" -> 44

Легирование полупроводников методом ядерных реакций - Смирнов Л.С.

Смирнов Л.С., Соловьев С.П., Стась В.Ф., Харченко В.А. Легирование полупроводников методом ядерных реакций: Монография — Новосибирск: Наука, 1981. — 186 c.
Скачать (прямая ссылка): legir.zip
Предыдущая << 1 .. 38 39 40 41 42 43 < 44 > 45 46 47 48 49 50 .. 76 >> Следующая


Роль протонов как отжигающего агента показана на рис. д.2Ь и 3.26. В последнем случае (рис. 3.26) авторы [117] подчерки-] вают, что «отжиг» парамагнитных центров ускоряется вслед-, ствие их взаимодействия с атомами водорода. Это взаимодей-: ствие происходит тогда, когда концентрация водорода сравнима с концентрацией парамагнитных центров. В раоотах [117, 118] отмечается, что если взаимодействие дефекта с дри-

Таблица 3.3]

Измерение холловским методом электрофизических параметров ионнолегированных слоев на кремнии p-типа проводимости, полученных с при. .. ATWimOH I 1 1

Режим бомбардировки Лазерный отжиг Термический отжиг
Тип иона Энергия,кэВ Доза, ионов/см2 1Л тН і О cSJ г 1 8 ^7? J3 я о *» СО О Г1 - 1 ¦«, % О С о •*¦4 -1 о <м У 1 к« g < о ¦ О S о '* а. гэ ¦ 1 V. ' ° 1 : ^ S е" °
р+ 40 3-Ю16 1,5 66 16,5 1,2 68 2,3 -|
р+ • -X 80 6-Ю15 5,0 45 36,0 2,5 60 24’0;1
р+ 150 2-.1016 9,0 40 57,0 ' 5,2 58 48,0 'щ !

Примечание. Решим лазерного отжига: Л=1,06 мкм, х~20 не, Иг=2 X10?-Вт/см*. Решим термического отжига^Т =800-С, готж=3() мин<
Рис. 3.27. Влияние температуры внедрения на замещаю- /

щую компоненту сурьмы (залитые кружки) и на количество точечных дефектов в "кремнии

(светлые кружки).

\

Штриховой линией для сравнения 20-

\

_о—т-°—г°

400

показано уменьшение при отжиге количества дефектов в слоях,

легированных сурьмой при ком- и ^

натной температуре. Т0б>,» О

месным атомом приводит к исчезновению наблюдаемых свойств (например, парамагнитности), то эти свойства можно восстановить дополнительным облучением.

В последнее время все шире применяется новая техника отжига — лазерный отжиг. Исходя из возможности ускорения отжига дефектов при сильпой ионизации и изменении зарядового состояния дефектов, лазерное излучение применено для отжига ионно-легированных слоев. Ускорение отжига зафиксировано уже в первых экспериментах по совмещению нагрева и воздействия лазерного излучения [119]. При использовании мощного импульсного излучения удалось полностью отказаться от обычного термического отжига, а иногда получить качественно новые эффекты [120—122]. В этом случае, хотя и нельзя исключить роль нагрева, сам процесс отжига, несомненно, следует считать радиационно-стимулированным. Табл. 3.3 иллюстрирует эффективность лазерного отжига.

Лазерный отжиг кремния, облученного нейтронами, в литературе еще не описан. Наши эксперименты, проведенные при активном участии Е. В. Нидаева, позволяют сделать предварительный вывод, что и в нейтроняо-облучепном кремнии лазерный импульсный отжиг во многом эквивалентен

термическому отжигу.

Эксперименты по обратному рассеянию (рис. 3.27) показали, что если внедрение проводить при повышенных температурах, то дефектность ионно-легированных слоев уменьшается. Но при повышенных температурах облучения возникает ра-диациоцно-стимулированная диффузия. На этом явлении и остановимся в следующем параграфе.

При рассмотрении радиационно-контролируемой (ускоренной или замедленной) диффузии в полупроводниках определились два направления: 1) диффузия, контролируемая избыточными структурными дефектами*, 2) диффузия, ускоренная

ионизацией. „

Типичная методика наблюдения радиационно-ускоренной диффузии и в кремнии [123], и в германии [124] заключается

3.6. РАДИАЦИОННО-УСКОРЕННАЯ ДИФФУЗИЯ

..г

107
в выявлении смещения р — п-перехода при облучении части I образца электронами или протонами. Основные результаты этих первых работ следующие.

1. Диффузионное смещение перехода имеет место при воздействии протонов со средней длиной пробега как сравнимой с глубиной залегания перехода, так и меньше ее.

2. Эффект ускорения диффузии нечувствителен к зарядовому состоянию и ионному радиусу примеси.

3. Ускорение диффузии наблюдается при температурах не ниже 800°С для кремния и 400°С для германия.

4. В интервале температур 900—1200°С (для кремния) и 600—950°С (для германия) ускорение диффузии не зависит ни от плотности потока частиц, ни от температуры облучения.

5. Зависимость скорости диффузии от температуры, появляющаяся при температурах облучения ниже 900°С для кремния и 600°С для германия, смещается в область более низких темне-ратур с увеличением интенсивности излучения.

Дальнейшее развитие указанное направление получило в работах [125—127]. В монографии [128] дан подробный обзор всех работ (до 1975 г.) до радиационно-ускоренной диффузии. В большинстве работ эффект объясняется увеличением коэффициента диффузии вследствие появления избыточных вакансий при облучении. В качестве альтернативы предлагается диффузия атомов по междоузелъным положениям. Роль облучения при этом сводится к переводу атомов из узла кристаллической решетки в междоузельное положение. Однако эти два механизма не позволяют объяснить всю совокупность экспериментальных данных. В [128] описываются возможные механизмы ускорения диффузии, упор делается на ионизационные механизмы. Но экспериментально очень трудно выделить роль ионизации при ускорении диффузии, поскольку одновременно действует несколько факторов. Один из таких факторов — эффект увлечения «фотонным ветром» [129].
Предыдущая << 1 .. 38 39 40 41 42 43 < 44 > 45 46 47 48 49 50 .. 76 >> Следующая

Реклама

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed

Есть, чем поделиться? Отправьте
материал
нам
Авторские права © 2009 BooksShare.
Все права защищены.
Rambler's Top100

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed