Научная литература
booksshare.net -> Добавить материал -> Физика -> Пронкин Н.С. -> "Основы метрологии: практикум по метрологии и измерениям" -> 5

Основы метрологии: практикум по метрологии и измерениям - Пронкин Н.С.

Пронкин Н.С. Основы метрологии: практикум по метрологии и измерениям — M.: Логос, 2007. — 392 c.
ISBN 978-5-98704-267-4
Скачать (прямая ссылка): osnovimetrolog2006.djvu
Предыдущая << 1 .. 2 3 4 < 5 > 6 7 8 9 10 11 .. 125 >> Следующая

Субъективная погрешность измерения (Асуб) — это составляющая систематической погрешности измерений, обусловленная индивидуальными особенностями оператора. Например, при от-считывании показаний СИ в аналоговом виде большое значение имеет правильное расположение оператора по отношению к показывающему устройству.
Общая (результирующая) погрешность измерения определяется «суммарной» погрешностью
Д = Ам*Д„„с*Дсуб> (1-2)
где значок * обозначает объединение составляющих погрешностей измерения (алгебраическое, геометрическое и др.)
1.4. МЕТОДИЧЕСКИЕ ПОГРЕШНОСТИ
Отличительной особенностью методических погрешностей является их индивидуальность, связанная не только с применением данного метода или физического принципа, но и с конкретным воплощением этого метода измерения. Эта погрешность обычно не указывается в нормативной документации. Однако в ней могут быть приведены особенности (указания) применения данного СИ, позволяющие снизить или устранить некоторые составляющие методической погрешности.
Можно указать характерные причины, приводящие к их появлению:
— отличие принятой модели объекта измерения от модели, описывающей свойство, которое определяется путем измерения;
— влияние неинформативных1 параметров объекта измерения, которые могут учитываться моделью объекта измерения;
— влияние способов применения СИ;
— влияние алгоритмов (формул), по которым производится вычисление результатов измерений;
— влияние правильности выбранной модели градуировки СИ с помощью рабочих эталонов или стандартных образцов.
Рассмотрим примеры проявления различных методических погрешностей.
1 Неинформативный параметр объекта измерения — параметр объекта измерения, влияющий на показания СИ, но не подлежащий измерению в соответствии с поставленной задачей.
12
Пример 1.1. Измерение плотности р пористого тела сложной формы производится косвенным методом в два приема: сначала на рычажных весах измеряется масса тела т, а затем его объем путем погружения тела в сосуд с жидкостью и измерения объема вытесненной телом жидкости. Поскольку поверхность тела имеет поры (или шероховатости), а жидкость, используемая в эксперименте, смачивает (заполняет) поверхностные поры, то измеренный объем тела будет несколько меньше (V- Кпор), чем реальный V
Абсолютная методическая погрешность будет равна
V V
Д - 171 т пор _ гпор
Pm ~у V-V "^V-V ^ V 9 пор пор
По-видимому, для снижения этой методической погрешности целесообразно использовать жидкость, которая не обладает эффектом смачивания вещества этого тела.
Пример 1.2. Таблетки ядерного топлива (диаметр около 10 мм, высота от 10 до 20 мм) перед загрузкой их в цилиндрическую оболочку тепловыделяющего элемента подвергаются контролю по плотности. Для того чтобы измерение плотности не зависело от разброса размеров таблеток как по диаметру, так и по высоте, используют хордовый метод просвечивания таблетки тонким пучком ионизирующего гамма-излучения. При этом таблетку устанавливают на призмы, расстояние между которыми — хорда А меньше диаметра таблетки. Плотность р определяется по зависимости поглощения среднего числа частиц гамма-излучения, прошедшего через измеряемей объект N9 от плотности: 7V=TV0CXp(^pA), где [і — массовый коэффициент поглощения излучения веществом, зависящий от энергии гамма-излучения и состава вещества.
Методическая погрешность при этом определяется прежде всего неравномерностью распределения топлива по объему таблетки, поскольку при хордовом методе контролируется около 20% всего объема таблетки. Кроме того, замена нелинейной зависимости Р=/(Л0 линейной также приводит к появлению дополнительной методической погрешности, которую при хорошей аппроксимации можно сделать несущественной.
Пример 1.3. Для измерения толщины деталей из изоляционного материала емкостным методом используется формула емкости плоского конденсатора C=s0sS/d, где є0 — абсолютная диэлектрическая проницаемость вакуума; є — диэлектрическая проницаемость материала детали; S и d — площадь и толщина детали.
Методическая погрешность при этом может быть обусловлена неоднородностью материала и отклонением действительного зна-
13
чения диэлектрической проницаемости Ає от номинального eN или принятого при расчете модели измерения. Относительная методическая погрешность будет равна 5М = Ає/єк.
Непостоянство (нестабильность) площади в этой модели измерения толщины является источником дополнительной методической погрешности из-за изменения неинформативного параметра — площади.
Пример 1.4. Кондуктометрический метод основан на зависимости электропроводимости веществ от их состава и концентрации отдельных компонентов. Поскольку при этом измеряется общая электропроводимость, то присутствие в измеряемом веществе наряду с измеряемым веществом каких-либо других компонентов или растворенных газов вносит методическую погрешность.
Этот метод также широко используется для определения влажности пористых тел и газов. Электропроводимость капиллярно-пористых веществ резко возрастает с увеличением влажности из-за растворения в воде электролитов, входящих в состав этих веществ. Методическая погрешность возникает при этом вследствие неравномерности распределения влаги по объему, а также из-за поляризации измеряемого объема, поверхностного сопротивления и др.
Предыдущая << 1 .. 2 3 4 < 5 > 6 7 8 9 10 11 .. 125 >> Следующая

Реклама

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed

Есть, чем поделиться? Отправьте
материал
нам
Авторские права © 2009 BooksShare.
Все права защищены.
Rambler's Top100

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed