Физическая энциклопедия Том 4 - Порохов А.М.
Скачать (прямая ссылка):
ведёт к размыванию и деформации дифракц. максимумов. Напр., если и(г) имеет гармонич. зависимость от координат, то П. р. отлична от нуля не только в направлениях к' — к -{- Н, но й в близких к иим направлениях k' = k 4- H -{- Iq (т. н. сателлиты), где q — волновой вектор ф-ции смещения и(г, f), a ^ = ±1, ±2, ...—
порядок сателлита; сателлиты одного номера, но с противоположными знаками располагаются симметрично относительно осн. максимума.
П. р. для аморфных веществ и жидкостей, где существует лишь ближний порядок в расположении атомов, не имеет таких ярких физ. проявлений, как в кристаллах. П. р., как и поляризуемость в др. диапазонах эл.-магн. спектра, является универсальной характеристикой диэлектрич. свойств среды. С её помощью возможно описание всех оптич. явлений в рентг. диапазоне, и прежде всего дифракции.
Лит.: Джеймс Р., Оптические принципы дифракции рентгеновских лучей, пер. с англ., М., 1950; Колпа-
ков А. В., Бушуев В. А., Кузьмин P. H., Диэлектрическая проницаемость в рентгеновском диапазоне частот, «УФН», І978, т. 126, fc. 3, с. 479. А. В. Колпаков.
ПОЛЯРЙМЕТР — 1) прибор для измерения угла вращения плоскости поля’ризации монох роматич. света в веществах, обладающих естественной или наведённой магн. полем оптической активностью. Дисперсию оптического вращения измеряют спектрополяри-метрами.
П. делятся-на визуальные и фотоэлектрические. Конечным измерит, элементом и тех, и других является светочувствит. устройство (глаз или фотоэлектрич. приёмник), реагирующее на изменение интенсивности света, а не на состояние его поляризации. Этот принцип реализуется, напр., в П., построенных по схеме полутеневых приборов. Исследуемое вещество
5 (рнс. 1) помещается между полутеиевым поляризатором, Состоящим из двух половин 3—4, и анализатором 6.
IIIIVv J Il UU и M UIJ в Ж. W (>уіж ^ W J • рф
в(к,ю)=( е'* е “(к,со)^)1/а^1—2л ~ ~ /^(к,0;со), *^| [J]-^—^
і j
іде 0; со) — структурный фактор рассеяния иа
нулевой угол, Zr(k, 0; to) = («'V^k, k'; a>)6k»-k; о ei)>
‘ й —единичные векторы поляризации падающего
а рассеянного излучений. Показатель преломления •#fk, со) меньше единицы на ~10-в. Это означает, что 'Шффекты преломления в реитг. диапазоне очень слабы, *' среда имеет меньшую оптич. плотность, чем вакуум. В соответствии с этим в рентг. оптике говорят о полном вешнем отражении, критич. угол к-рого выражается через нулевую фурье-компоненту П. р.:
0К=*2YлX0(^1CO) ~10“3рад.
•Мнимая часть П. р. определяет линейный коэф. поглощения налучеиня в среде:
ИМ)= ~ Im X°(t,fi>) =7 їт ^(0,to).
Эффекты локального поля в рентг. диапазоне чрезвы-чайно малы н никогда не учитываются.
Несовершенства строения реального кристалла (точечные дефекты, дислокации, деформации н т. д.), ес-JB их присутствие ие ведёт к изменению рессеивающей
Рис. 1. Принципиальная схема полутеневого поляриметра: J — источник света; S — конденсор; S—4:— полутеневой поляризатор; 5 — трубка с исследуемым оптически активным веществом; в — анализатор с отсчётным устройством; 7 — зрительная труба; s —окуляр отсчётного устройства.
Пропускание анализатора меняется в соответствии с Малюса законом при изменении угла ф между плоскостью поляризации AA анализатора и плоскостью поляризации падающего на него света. Наиб. абс. изменение интенсивности прошедшего через анализатор света в зависимости от угла ф происходит вблизи угла ~45°; одиако относит, изменение интенсивности максимально вблизи угла ~90°. Действительно, (Д///)/Дф ~ 2tgq> —> оо при ф —> 90°. Поэтому для наиб, чувствительной регистрации малых углов вращения плоскость поляризации анализатора AA устанавливается перпендикулярно биссектрисе малого угла 2а между плоскостями поляризации P1 и Pa двух половин полутеневого поляризатора (рис. 2,а). В таком случае обе половины JaII поля зрения имеют одинаковую освещённость. Когда между поляризатором и анализатором находится исследуемое вещество, поворачивающее плоскость поляризации, освещённость резко меняется (рис. 2, б,
75
ПОЛЯРИМЕТР
ПОЛЯРИМЕТРИЯ
Рис. 2. Полутевевые поляризаторы: AA — плоскость поляризации анализатора; P1 и Pt — плоскости поляризации двух половин поляризатора;
2а — угол между ними.
Э €
в). Измерение угла вращения сводится к повороту плоскости поляризации анализатора до визуального выравнивания яркостей двух половин поля зрения. Измеряемый угол считывается со шкалы отсчётного устройства. Подобная методика визуальной регистрации обладает достаточно высокой чувствительностью, что позволяет применять полутеиевые П. при разл. исследованиях. Однако более распространены автоматич. фотоэлект-рнч. П., в к-рых сопоставление двух интенсивностей осуществляется с помощью поляризац. модуляции светового потока (см. Модуляция света). Последний в свою очередь вызывает переменный фототок, к-рын после усиления и выпрямления регистрируется, и с помощью компенсирующей схемы производится измерение угла. Макс. пороговая чувствительность лазерных П. ^lO"7 град; прн использовании виутрирезоиаторных лазерных методов измерений чувствительность П. доходит до 5-Ю-* град.
