Физическая энциклопедия Том 4 - Порохов А.М.
Скачать (прямая ссылка):
1336 °С устойчив a-Sc с гексагональной решёткой, параметры к-рой а = 0,33080 и с — 0,52653 нм; прн темп-рах от 1336 0G до гпл =1541 °С существует P-Sc с объёмноцентриров. кубич. решёткой, параметр к-рой а = 0,4541 им. Плотность a-Sc 3,020 кг/дм®, *кип ~ 2850 °С, теплоёмкость ср = 25,5 Дж/(моль-К), теплота плавления 14,1 кДж/моль, теплота испарения 315 кДж/моль. Темп-ра Дебая 231 К. Уд. электрич. сопротивление 0,64 мкОм-м (прн 20 °С), термич. коэф. электрич. сопротивления 2,463-Ю_3 К-1 (при 25— 100 °С). Слабый парамагнетик, маги, восприимчивость a-Sc 0,177-IO-8. Термич. коэф. линейного расширения 1,14-10~® К'1 (при 400 С). Теплопроводность 15,5 ВтУ(м-К) (при 18 °С). Твёрдость по Бринеллю С. чистотой 99% 750—1000 МПа, модуль нормальной упругости при растяжении отожжённого С. чистотой 99,1% 77 ГПа, модуль сдвига 31,9 ГПа. Химически активен, особенно при повыш.темп-рах. В соединениях проявляет степени окисления -(-3 н -(-2 (реже).
С. применяется как компонент лёгких коррозионноустойчивых сплавов, как нейтронный фильтр в ядерной физике. Оксид Sc2O3 используют при изготовлении скандиевого феррита для элементов памяти ЭВМ. Как радиоакт. индикатор применяют 4eSc (fi-распад, =
= 783, 783 сут), его используют также в медицине.
С. С. Бервоносов.
СКАНЕРЫ — устройства для управления направлением светового луча в пространстве на основе явления акустооптич. рефракции (см. А кустооптика); представляют собой НЧ-приборы (/ ^ 0,5 МГц), осуществляющие развёртку светового луча по синусоидальному закону.
СКАНИРОВАНИЕ в радиолокации — угловое перемещение диаграммы направленности (ДН] антенны, в случав остронаправленных систем — её луча. Наиб, простым (но надёжным) способом С. ДН является механич. изменение ориентации антенны, широко применяемое в радиолокац. и радионавнгац. устройствах. Существуют, однако, и методы электрнч. управления ДН, или С. Обычно их классифицируют по типу изменяемого параметра (амплитуда, фаза илн частота) распределения токов иа апертуре антеины. Особо выделяется частотное С., поскольку оио реализуется только для систем с достаточно сильной дисперсией ДН, т. е. зависимостью её формы и ориентации от несущей частоты сигнала. В случае передающих антени (излучателей) в результате изменения амплитуд, фаз или частот должно осуществляться действит. перемещение направления излучения. Для приёмных антени перемещение направления луча может быть следствием обработки принимаемого сигнала, напр, путём приёма только определ. образом сфазнрованных компонент сигнала в многоэлементных антеннах. Такого типа С. часто используется в пассивной локации и радиоастрономии (в частности, в системах апертурного синтеза). С. применяется в радиоастрономии при обзорах небесной сферы (при наблюдении внеземных объектов для С. иожет использоваться также вращение Земли), в радиометеорологии при исследованиях пространственного распределения яркостной темп-ры для получения метеоданных (напр., о высотном профиле темп-ры, распределении водяного пара, скоростей ветра), в пассивной радиолокации для раднокартографирования поверхности Земли и планет, в радиолокации для обнаружения, идентификации и сопровождения раал. объектов. С. служит иногда и для улучшения характеристик приёмных систем: повышения чувствительности (модуляц. метод приёма с «качанием луча»), разрешения (напр., соада-ние разностной ДН для точного определения т. н. равносигнального направлення), помехозащищённости (напр., компенсац. исключение влияния распределённого, радноизлучения).
Лит. см. при ст. Антенна, Апертурный синтез.
СКАНИРУЮЩИЙ АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОП — прибор длд. изучения поверхностей твёрдых
тел с разрешающей способностью порядиа межатомных расстояний, основанный на сканировании исследуемого участка образца S{x, у) плоской пружиной, свободный конец к-рой (нлн укреплённое на нём остриё) удалён от поверхности образца на расстояние z в неси. А. Изобретён Г. Бинниигом (G. Binning), К. Ф. Kyатом (С. F. Quate) и К. Гербером (С. Geroer) в 1986. При таких расстояниях сила взаимодействия между двумя ближайшими атомами, расположенными соответственно на кончике острия и на поверхности образца, составляет IO"7—10”8 Н. При жёсткости упругого элемента порядка 1 Н/м это приводит к измеримой деформации пружины. При сканировании цепь обратной связи поддерживает деформацию пружины (и тем самым силу взаимодействия), соответственно изменяя г. Синхронная со сканированием запись сигнала обратной связи Vz представляет собой запись профиля поверхности пост, силы F(a:, у), т. е. фактически поверхности образца.
Т. к. силы взаимодействия между атомами острия и поверхности быстро спадают с расстоянием (для сил притяжения типа Ван-дер-Ваальса при взаимодействии двух атомов как г-7, для сил отталкивания при потенциале Ленарда — Джонса как г~13; см. Межатомное взаимодействие, Межмолекулярное взаимодействие), то разрешающая способность С. а.-с. м. может достигать 0,001 нм по г и 0,1 нм по х, у. Прибор может работать в вакууме и жидкости, значительно хуже — при обычных атм. условиях, когда поверхностные плёнки влаги приводят к слипанию коичика упругого элемента с поверхностью образца, к росту действующих между ними сил і^на неск. порядков и к значит, гистерезису зависимости F(z).
