Физическая энциклопедия Том 4 - Порохов А.М.
Скачать (прямая ссылка):
Р. с. в. возникают также при дииамич. дифракции др. типов излучений (электронов, нейтронов, ядерного гамма-излучения) с длиной волны ок. 10 им.
Лит.: Ковальчук М. В., К о н В. Г., Рентгеновские стоячие волны — новый метод исследования структуры кристаллов, «УФН», 1986, т.149, с. 69. В. Г. Коп.
РЕНТГЕНОВСКИЙ ГОНИОМЕТР — прибор для од-новрем. регистрирования направления дифрагированного на исследуемом образце рентг. излучения; я положения образца в момент возникновения дифракции. Р. г. может быть самостоят. прибором, регистрирующим на фотоплёнке или пластине с фотостимулиров. люминесценцией дифракц. картину; в этом случае ои представляет собой рентгеновскую камеру. Р. г. называют также все гоннометрич. устройства, являющиеся составной частью рентгеновских дифрактометров и служащие для установления образца в положение, соответствующее условиям возникновения дифракции* рентгеновских лучей, и детектора — в направлении днфра-гиров. лучей.
В Р. г. с фоторегистрацией или с люминесцирующнми пластинами для исследования монокристаллов или текстур выделяют дифракц. конус, соответствующий при вращении образца исследуемой кристаллографнч. плоскости в обратном пространстве. Фотоплёнка и образец движутся синхронно, поэтому одна из координат на плёнке соответствует азимутальному углу дифрагиров. луча, вторая — углу поворота образца [так работают Р. г. Вайсенберга (рис. 1) и текстурный Р. г. Жданова]. В Р. г. дифрактометров для монокристаллов может быть использована аналогичная геом. схема,
Гис. I. Cxenia рентгеновского гониометра типа Вайсенберга. Зубчатые передачи и ходовой винт обеспечивают синхронное движение исследуемого образца (О) и цилиндрической кассеты (К) с рентгеновской плёнкой.
однако угол поворота образца и углы поворота и наклона счётчика в этом случае отсчитываются непосредственно по угл. датчикам, установленным иа . соответствующих валах. В случае использования дву-364 мерные ПОЗициоино-чувствит. детекторов в гониометре
отсчитывается только угол поворота образца, а угли поворота н наклона дифрагиров. пучка ,пересчитываются из координат днфракц. пятна в детекторе, В рентг. дифрактометрах для исследования монокристаллов и текстур с точечным счётчиком широко прі^ меняется т. и. экваториальная геометрия: счётчик перемещается только в одной экваториальной плоскости, а образец поворачивается вокруг трёх эйлеровых осей таким образом, чтобы нормаль к заданной кри-сталлографич. плоскости в отражающем положении располагалась в экваториальной плоскости (рнс. 2),
Рис. 2. Схема экваториального четырёхкружного гониометра для исследования монокристаллов. Лимб 1 измеряет Ф — угол поворота кристалла вокруг оси гониометрической головки; лимб 2 регистрирует х — угол наклона оси ф; лимб 3 измеряет ш — угол вращения кристалла относительно главной оси гониометра; лимб 4 измеряет угол поворота счётчи«а 20.
В Р. г. для исследования монокристаллов на образец направляется пучок с сечением ~0,1 0,5 мм, сфор-
мированный коллиматором, состоящим из двух круглых диафрагм или двух фокусирующих зеркал полного внеш. отражения (см. Рентгеновская оптика). Чаще всего излучение моиохроматизируется с помощью монохроматора из пиролитич. графита.
В Р. г. для исследования поликристаллич. образцов для повцшеиия интенсивности дифракц. излучения используют первичные пучки с расходимостью в неск. градусов. Для получения высокого (в сотые и тысячные доля градуса) угл. разрешения применяются фокусирующие схемы Брэгга — Бреитано, Зеемана — Болиг иа илн Гинье. Эти Р. г. являются двуосными, с двумя коаксиальными осями. Для формирования пучков в них используются щели, монохроматизация пучков осуществляется с помощью фокусирующих монохроматоров из монокристаллов или пиролитич. графита на первичном и дифрагиров. пучках, а также селективных фильтров.
В одноосных малоугловых Р. г. основой является щелевой коллиматор, обеспечивающий мин. расходимость первичного пучка. Особенность Р. г. для исследования поверхностных слоёв монокристаллов методом рентгеновских стоячих волн — наличие встроенного пропорц. счётчика электронов, анализирующего электроны, выходящие из образца при дифракции реитг. лучей.
Лит.; Уманский М.М., Аппаратура рент гено структурных исследований, М., 1960; Хейкер Д. М., Рентгеновская дифрактометрия монокристаллов, Л., 1973; Современная кри-сталлографня, т. 1 М., 1979. Д. М. Хейкер.
РЕНТГЕНОВСКИЙ ДИФРАКТОМЕТР — прибор для измерения интенсивности и направления рентг. пучков, дифрагированных на исследуемом образце (см. Дифракция рентгеновских лучей). Р. д. применяется для решения разл. задач рентгеновского структурного анализа, рентгенографии материалов, исследования реальной структуры монокристаллов. Он позволяет измерять интенсивность дифрагированного в заданном направлении излучения с точностью до десятых долей % и угол дифракции с точностью от неси, минут до долей секунды.
Р. д. состоит из источника рентг. излучения, рентг. гониометра, в к-рый помещают исследуемый образец, детектора излучения, электронного измерительно-ре-гистрирующего устройства, управляющей ЭВМ. В Р. д. в отличие от камер для регистрации излучения не используют фотоматериалы или люмниесцирующне пластины, а применяют сцинтилляционные, пропорциональные, полупроводниковые детекторы (см. Детекторы частиц, Ионизирующее излучение). В процессе измерения счётчик перемещается в гониометре и регистри-
