Научная литература
booksshare.net -> Добавить материал -> Физика -> Порохов А.М. -> "Физическая энциклопедия Том 4" -> 405

Физическая энциклопедия Том 4 - Порохов А.М.

Порохов А.М. Физическая энциклопедия Том 4 — М.: Большая российская энциклопедия, 1994. — 701 c.
Скачать (прямая ссылка): fizenciklopedt41994.djvu
Предыдущая << 1 .. 399 400 401 402 403 404 < 405 > 406 407 408 409 410 411 .. 818 >> Следующая


Рис. 1, Схема рентгеновского спектрометра с вогнутой дифракционной решёткой:

G — дифракционная решётка; S — щель; I — источник излучения; і — фокальная окружность; О' — её центр; О — центр окружности, по которой изогнут кристалл, или центр вогнутой дифракционной решётки; D — детектор; А.*, X. — дисперсионные лучи (A1 > А.,).

кой, как правило, ограничивается шириной входной щелн и равно

VAJLi=O ,92 RXmfSd1

где S — ширина щели, d — период решётки, т — порядок дифраиции, R — радиус решётки.

В области спектра с X < 20 А излучение разлагают в спектр с помощью кристаллов-анализаторов (табл.),

Кристаллы-анализаторы и нх характеристики

Кристалл Отражающая плоскость Межплос-костное расстояние, 2d, А Максимальная разрешающая способность, Я./АЯ. Интегральный коэффициент отражения, 10”рад
Кар 001 27,714 1400 8+18
Слюда (мус-
ковит) 002 19,884 -2000 2 + 3
Гипс 020 15 ,168 — —
ADP 101 ’ 10,659 10000 1 + 10
EDDT 02? 8,808 — —
PET 002 8,726 8000 Ю+20
Кварц 1010 8,512 20000 1 + 10
Кварц і оТГ ft,7158 100 00 2+14
Графит 002 6,696 ~100 50+200
Ge *¦ 111 6,5327 6000 —
Флюорит 111 6,28 — —
Si Ill 6,271 10000 2+10
Кальцит 211 6, 069 15000 2+30
NaCl 200 5,64 — —
Кварц 1120 4,912 30000 0,4+3,8
Топаз 200 4 ,638 —
Кварц 2020 4,246 — —
LiF 200 4,028 ~2000 ~ 10
Ge 220 4,00 13 000 17+23
Si 220 3,8399 29000 1+6
Кальцит 422 3,034 64000 0,4+0,9
LiF 220 2,848 , ~1300 10+20
Кварц 2023 2.806 90000 0,3+0,9
Топаз 303 2,712 — —
Кварц 2240 2,451 — —
Кварц 2243 2,024 144000 0,2+0,45
Кальцит 033 2,02 122000 0,3+0,6

в происходит дифракция рентгеновских., лучей

на атомной структуре. В случае более ДВ-изл учения дифракция происходит при отражении излутаядо от поверхности кристалла, в случае В-излучения — при его прохождении через кристалл. В первом случае отражающие атомные плоскости должны быть расположены вдоль, во втором — перпендикулярно поверхности кристалла. В Р. с. а. используются- додедае . (рис. 2), выпуклые (рис. 3) н вогнутые кристаллы 7-ада-; ДО!

РЕНТГЄЙОВСКАЯ
РЕНТГЕНОВСКАЯ

Рио. 2. Схема рентгеновского спектрометра с плоским кристаллом: К — кристалл-анализатор (остальные обозначения см. на рис. 1).

Рве. 3. Схема рентгеновского спектрометра с выпуклым кристаллом (обозначения на рис.З— 9 те Mte, что на рис. 1 и 2).

Ряс. б. Схема спектрометра Иоганна.

Рис. 6. Схема спектрометра Кошуа.

В качестве детеиторов в Р. с. а. используются реитг. фотоплёнка, газовые детекторы (ионизационные камеры, пропорциональные счётчики, Гейгера счётчики),

Рнс. 7, Схема спектрометра Дю-Монда.

Рис. 4. Схема рентгеновского спектрометра с плоским кристаллом и коллиматором Соллера (С).

лизаторы. Схемы с выпуклыми и плоскими кристаллами позволяют исследовать излучение в широком диапазоне спектра, но являются дефокусирующими. Для повышения светосилы в спектрометрах с плоским кристаллом служит многопластинчатый коллиматор Соллера (рис. 4), ограничивающий угл. расходимость падающего на кристалл излучения от 1° до неск. угл. минут. В фокусирующей Р. с. а. применяются вогнутые кристаллы с цилиндрич, и сферич. поверхностями. В методах Иогаина (рис, 5), Кошуа (рис. 6) и Дю-Моида

Рнс. 3. Схема спектрометра Иоганссона.

сцинтилляционные детекторы, полупроводниковые детекторы и др. (см, Детекторы частиц). Выбор детектора зависит от характера решаемой задачи, спектраль-

352

(рис. 7) плоская кристаллич. пластиика изгибается по цилиндрич. поверхности радиуса R, а щель располагается на фокалькой окружности радиуса г = Д/2; эти методы дают довольно острую (но ие строго точкую) фокусировку спектральных линий. В методе Иогаиссо-на (рис. 8) после предварит, кзгиба пластинки кристал-ла по радиусу Д её шлифуют, доводя до цилиндрич. поверхности радиуса г = Rf2, что обеспечивает точную фокусировку спектра на фокальную окружность. В методе Гамоша (рис. 9) применяются цилиидрическк изогнутые кристаллы, а щель к плоскость регистрации располагаются на оси цилиндрич. поверхности. Фокусировка в этом случае осуществляется в направлении, перпендикулярном направлению дисперсии. Спектральное разрешение в кристаллич. спектрометрах ограничивается разрешением выбранного кристалла-анализатора.

ного диапазона, требований к чувствительности, пространственному илн временному разрешению и др. причин.

Недисперсвоввая Р. с. а. основана на особенвостях поглощения ревтг. лучей в веществе в работы иек-рых детекторов рентг. излучения. В ультрадлинноволновой области спектра монохроматизация излучения (А./ ЛА. ~ ~ 10) обеспечивается сочетанием тонких поглощающих фильтров из разл. материалов и зеркал скользящего падения, а также с помощью многослойных интерференц. зеркал. В ДВ- и KB- областях для выделения сраввительво узких участков спектра применяется неск. пар сбалансиров. фильтров с одинаковым коэф. пропускания во всей области спектра, за исключением узкой области между краями поглощения элементов, нз к-рых сделаны фильтры каждой пары. Фотометры с такими фильтрами и радиоактивным изотопом в качестве источника первичного излучения служат для флуоресцентного н абсорбционного рентг. излучения (сцинтилляц. н пропорц. счётчики, полупроводниковые детекторы); возможен такой режим работы, когда амплитуда регистрируемого импульса пропорц. энергии рентг. кванта. С использованием амплитудного анализатора импульсов детектора можно проводить намерения интенсивности излучения в зависимости от эвергин квавтов Такие детекторы регистрируют не-
Предыдущая << 1 .. 399 400 401 402 403 404 < 405 > 406 407 408 409 410 411 .. 818 >> Следующая

Реклама

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed

Есть, чем поделиться? Отправьте
материал
нам
Авторские права © 2009 BooksShare.
Все права защищены.
Rambler's Top100

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed