Физическая энциклопедия Том 4 - Порохов А.М.
Скачать (прямая ссылка):
Большие флуктуации в образовании 6-электроиов не позволяют получить хорошее энергетич. разрешение от малых долей эиергии, оставленных в П. с. быстрой частицей.
Для регистрации нейтронов П. с. заполняется газами. 9He или 10BF3. Нейтроны захватываются ядрами 3He и 10B с последующим вылетом из них заряж. частиц с энергией порядка 1 МэВ. Ионизация от этих частиц во много раз превосходит ионизацию от ^-квантов, постоянно присутствующих в нейтронных потоках. Т. о., введя амплитудную дискриминацию, удаётся ввлностью сделать П. с. нечувствительными к Y-фону. Для нейтронов с энергией /д~10 кэВ с помощью П. с. можно измерить их эиергию по величине смещения пика в амплитудном дифференц. спектре от захвата нейтронов ядром 3He либо по величине импульсов от ядер отдачи при заполнении счётчика лёгкими газами Ha ИЛИ 4He (CM. Нейтронные детекторы).
П. с. используется для измерения малых уд. активностей. От Гейгера счётчика его выгодно отличает способность выделять монозиергетич. линни от отд. радионуклидов иа фоне непрерывно распределённого фона в широком энергетич. интервале от 1 до IO8 кэВ.
Как спектрометр П. с. уступает полупроводниковым детекторам, одиаио надёжность в простота дают возможность применять его, если не требуется высоко-энергетич. разрешение. П. с. позволяет работать в области энергий ~0,2 кэВ, где полупроводниковый детектор неприменим. По сравнению со сцинтилляци-опным детектором П. с. имеет лучшее эиергетич. разрешение, меньшие шумы, нечувствителен к маги. полю. П. с. работает в диапазоне темп-p ~10—IO3 К.
П. с. применялся при изучении бета-распада ядер (оценки массы антинейтрино), исследовании тонкой структуры а-спектра, изомерных состояний ядер (см. Изомерия ядерная), при обнаружении захвата ядром L-электрона (см. Электронный захват), исследовании слабых конверсионных пиков (см. Конверсия внутренняя) и в др. случаях. Он используется также в астрофизике, археологии, геологии, медицине и т. д. Нек-рое пром. применение осиоваио иа зависимости лавинного разряда от напряжённости поля у анода и чистоты на-
полняющего газа (контроль диаметра и качества поверхности микроприводов, газоанализатор в газовой хромографии и т. д.). С помощью установленного на «Луноходе-1» П. с. по реитг. флюоресценции производился элементный анализ вещества поверхности Луны.
Лит.: Rice-Evans P., Spark, streamer, proportional and drift chambers, L., 1974; Sau I і F., Principles of operation of multi wire proportional and drift chamhers, Gen., 1977; 3 a-невский KL В,, Проволочные детекторы элементарных частиц, М., 1978; Sanada J., GrOwth the avalanche about the anode wire in a gas counter, «Nucl. Instr. and Meth.», 1982, v, 196, p. 23; S a u і I F., Basic processes in time-prolection like detectors, в кн.: Time projection chamber 1-th workshop, Vancouver,
1943, N. Y., 1984; Ионизационные ивмеренин в физике высоких энергий, М., 1988. А„ П« Стрелков, Б, Ситар.
ПРОПУСКАНИЕ в оптике — прохождение сквозь среду оптического излучения без изменения иабора частот составляющих его монохроматич. излучений и их относительных интенсивностей. Различают: направленное П., при к-ром рассеяние света в среде практически отсутствует; диффузное П., при к-ром излучение в осн. рассеивается, а преломление в среде и направленное П. не играют заметной роли; смешанное П.— частично направленное и частично диффузное. Особый вид диффузного П.— равномерно-диффузное П., при к-ром пространственное распределение рассеянного излучения таково, что яркость одинакова по всем направлениям. ПРОПУСКАНИЯ КОЭФФИЦИЕНТ среды (т) — отношение потока излучения Ф, прошедшего через Cpe- 1 ду, к потоку Ф0, упавшему на её поверхность: т = Ф/Ф0. Чаще всего понятием П. к. пользуются для световых потоков. Значение П. к. тела зависит как от его размера, формы и состояния поверхности, так и от угла падения, спектрального состава (рис.) и поляризации излучения. Различают П. к.: для направленного пропускания (среда не рассеивает проходящего через неё излучения), для диффузного пропускания (среда рассеивает всё проникающее в неё излучение) , для смешанного пропускания (с частичным рассеянием). П. к. находят по измерениям освещённости и яркости. П. к. определяют в световых измерениях (см. также Фотометрия).
Лит.: Тиходеев П. М., Световые измерении в светотехнике, 2 иад,, М.— JI., 1962; Эпштейн М, И., Измерения оптического излучения в электронике, M,, 1990.
ПРОСВЕТЛЕНИЕ ОПТИКИ — уменьшение отражения коэффициентов поверхностей оптич. деталей путём нанесения на них иепоглощающих плёнок, толщина к-рых соизмерима с длиной волиы оптич, рзлуче-нмя. Бег просветляющих влёнок, даже при нормальном падении лучен, потери на отражение света могут составлять до 10% от интенсивности падающего излучения. В оптич. системах с большим числом поверхностей (напр., в объективах) потерн света могут достигать 70% и более. Многократное отражение от преломляющих поверхностей приводит к появлению внутри приборов рассеянного света, что ухудшает качество изображений, формируемых оптич. системами приборов. Эти нежелательные явления устраняются с помощью П. о., что является одним из важнейших применений оптики тонких слоёв.
