Научная литература
booksshare.net -> Добавить материал -> Физика -> Окатов М.А. -> "Справочник технолога-оптика" -> 69

Справочник технолога-оптика - Окатов М.А.

Окатов М.А. Справочник технолога-оптика — Спб.: Политехника, 2004. — 679 c.
ISBN 5-7325-0236-Х
Скачать (прямая ссылка): spravochniktehnologaoptika2004.djvu
Предыдущая << 1 .. 63 64 65 66 67 68 < 69 > 70 71 72 73 74 75 .. 270 >> Следующая

При пользовании как контактно-щуповыми, так и бесконтактно-оптическими приборами следует иметь в виду характерное «не-доощупывание» вершин микрорельефа шлифованных оптических поверхностей по сравнению с измерением «направленной» шероховатости, достигающее 10-20 %.
Для аттестации контроля параметров шероховатости используют три вида приборов: контактные профилографы-профиломет-ры, бесконтактные оптические приборы светового сечения (теневые и интерференционные) и рефлектометры. На рис. 3.44 представлен общий вид профилографа-профилометра модели 201. Прибор состоит из самостоятельных блоков: стойки 1 с кареткой, универсального столика 2, датчика 3, жестко закрепленного в корпусе мотопривода 4, электронного блока 5 с показывающим прибором и записывающего прибора 6. Столик 2 служит
1 2 3
4
I
5
5
W
Рис. 3.44. Внешний вид профилографа-профилометра
181
для перемещения исследуемой детали в двух взаимно перпендикулярных направлениях и для поворота ее. Стойка 1 позволяет устанавливать столик 2 с испытуемой деталью параллельно траектории движения датчика.
Таблица 3.20. ОСНОВНЫЕ ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ
ПРИБОРОВ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ШЕРОХОВАТОСТИ
Тип прибора Режим работы Измеряемый параметр Пределы измерения Базовая длина, мм
Профилограф-профилометр модели 201 Профилометр Ra 8,0-0,02 мкм 0,08; 0,25; 0,80; 2,50
Профилограф Ra Rz< Rmax s; sm lP 20.0-0,008* мкм 100.0-0,025 мкм 12,5—0,003 мм 90-10% Весь ряд
Профилометр модели 253 Профилометр Ra 2,5-0,04 мкм 0,25; 0,80; 2,50
Профилограф-профилометр модели 252 Ra P ¦‘‘•max sm tp 100.0-0,02 мкм 200.0-0,1 мкм 12,5-0,003 мм 90-10% 2,50; 0,80; 0,25; 0,08
Профилограф Rz* Rmax Ra s; sm h 250.0-0,02 мкм 60.0—0,06* мкм 12,5-0,003 мм 90-10% Весь ряд
МИС-11 Световое сечение p • p 2* ¦‘‘•max 80,0-0,8 мкм 0,80; 0,25
ПСС-2 p . p ¦*\z> лтах s; sm 40,0-0,8 мкм 2,5-0,002 мм 2,50; 0,80; 0,25; 0,08; 0,03; 0,01
ПТС* ^г> -^max 320-40 мкм 6,3-0,020 мм 8,0; 2,50; 0,80; 0,25
ТСП-4М** p . p z* ¦‘‘•max s; sm 1600-63 мкм 6,3-0,1 мм 8,0;2,50; 0,80; 0,25
Микроинтерферометр МИИ-4 -^max 0,8-0,1 мкм 0,25—0,02 мм 0,25; 0,08; 0,03; 0,01
* Значения параметров приведены ориентировочно и зависят от конкретной поверхности. Возможно (но очень трудоемко) измерение параметров Ra и tp.
182
Главным звеном, ощупывающим испытуемую поверхность и преобразующим колебания иглы, соответствующие неровностям поверхности, в электрические импульсы, является датчик (рис. 3.45). Алмазная ощупывающая игла 11 (с радиусом закругления от 2 до 10 мкм) расположена на конце коромысла 10, качающегося на ножевой опоре 9. На этом же коромысле укреплен якорь 8. Прижим иглы к испытуемой поверхности регулируется с помощью пружинок 2, компенсирующих неуравновешенность плеч коромысла. Усилие иглы устанавливается не более 0,001 Н. Магнитная система крепится в корпусе датчика 4 и снаружи закрывается экраном 3. К штоку мотопривода датчик крепится посредством цилиндра 6, штифта 5 и винта (на рисунке не показан). Включение датчика в схему прибора осуществляется вилкой 7 разъема при креплении датчика к штоку. Давление опоры 1 датчика регулируется пружиной, расположенной на мотоприводе, и не должно превышать 0,5 Н. Для проверки деталей малых размеров имеются специальные опоры, не требующие базирования на поверхности. Основные данные приборов приведены в табл. 3.20.
Оптическая схема прибора светового сечения ПСС-2 (рис. 3.46) включает в себя источник света 1, конденсор 2, светофильтр 3, щель
4, дополнительные линзы 5, 8,10 плоские зеркала б и 7, пару микрообъективов 9, призму 11, откидное зеркало 12, окулярный микро-
Рис. 3.46. Схема прибора светового сечения ПСС-2 для измерения шероховатости
14
183
метр МОВ-4-15х 13, фотообъектив 14, плоскость фотопленки 15. Вид в поле зрения изображения показан на рис. 3.47. Измерительные данные приведены в табл. 3.20.
Микропрофилометр МИИ-12 предназначен для визуальной оценки и измерения высоты произвольно расположенных неровностей на наружных поверхностях, обладающих хорошей отражательной способностью. Высота неровностей измеряется в диапазоне от 0,1 до 0,8 мкм. В поле зрения прибора наблюдаются одновременно спектр с располагающимися на нем интерференционными полосами равного хроматического порядка и участок испытуемой поверхности, ограниченный щелью, наложенные друг на друга. В местах выступов или впадин на наблюдаемом участке поверхности интерференционные полосы имеют искривления, характеризующие высоту неровностей. Возникающие на спектре интерференционные полосы равного хроматического порядка следуют друг за другом по закону
NX = N^X-^ = N2X 2 = const,
где N — относительное искривление интерференционной полосы; X — длина волны света.
Высоту неровности определяют по формуле
н _ Xn+i(XN' ~Xn)
2(Xn+i -XN)
где XN, XN* и XN+l — отсчеты по микрометру длин волн при наведении на полосу, на искривление той же полосы и на следующую полосу соответственно.
Оптическая схема микропрофилометра представлена на рис. 3.48. Пучок лучей от осветителя 19 проходит через коллектор 18, апертурную диафрагму 17, линзы 16, 20 и полевую диафрагму 14, затем, отражаясь от плоских зеркал 15 и 9, поступает на светоделительную пластину 10. Параллельный пучок лучей, отразившись от последней, интерференционным объективом 8 собирается в точке на исследуемой поверхности АВ и, отразившись от нее, снова проходит через интерференционный объектив и пластину 10. В результате в поле зрения окуляра 11 наблюдаются интерференционные полосы.
Предыдущая << 1 .. 63 64 65 66 67 68 < 69 > 70 71 72 73 74 75 .. 270 >> Следующая

Реклама

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed

Есть, чем поделиться? Отправьте
материал
нам
Авторские права © 2009 BooksShare.
Все права защищены.
Rambler's Top100

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed