Справочник технолога-оптика - Окатов М.А.
ISBN 5-7325-0236-Х
Скачать (прямая ссылка):
Чем меньше диаметр рабочего отверстия, т. е. чем меньше сечение рабочего пучка лучей, тем выше требования к системе, и наоборот. По вычисленному диаметру рабочего отверстия детали в соответствии с табл. 2.10 назначают класс чистоты.
Для фотографических и проекционных объективов, к которым нельзя применять этот расчет, а также для визуальных приборов класс чистоты можно назначать в зависимости от вида и назначения детали согласно табл. 2.11. Такая система нормирования дефектов снижает их влияние на эксплуатационные свойства приборов. При нормировании допускаемых дефектов на поверхностях деталей фотоэлектрических приборов, поверхностях с большой концентрацией световой энергии (силовая оптика) учитывают допустимое количество рассеянного или поглощенного этими дефектами света.
106
Таблица 2.9. l-IXa КЛАССЫ ЧИСТОТЫ ПОВЕРХНОСТЕЙ
ОПТИЧЕСКИХ ДЕТАЛЕЙ
Класс ЧИСТОТЫ Царапины Точки Скопление дефектов
Ширина, мм, не более Суммарная длина, мм, не более Диаметр, мм, не более Число, не более Диаметр ограниченного участка, мм Суммарная площадь царапин и точек, мм , не более
I 0,004 2,0 х О0 0,02 0,5 х О0 1,0 0,004
II 0,006 0,05 1,2 0,006
III 0,010 0,10 2,0 0,020
IV 0,02 0,30 5,0 0,10
V 0,04 0,50 10,0 0,40
VI 0,06 0,70 25,0 3,00
VII 0,10 1,00 50,0 10,00
VIII 0,20 2,0 0,4 х О0 Не нормируется Не нормируется
Villa 0,30 1,5 х О0
IX 2,0 х О0 3,0 0,3 х О0
IXa 0,4 1,5 х О0
Кроме того, в зависимости от материала оптической детали классы чистоты поверхностей выбирают в соответствии с табл. 2.12 с учетом требований, предъявляемых к оптическим системам.
Взаимное расположение поверхностей характеризуется клино-видностью и децентрированием.
Клиновидность пластин. Клиновидность — непараллельность плоских поверхностей пластин — измеряют значением угла 0. Клиновидность вызывает отклонение визирной оси и поперечный хроматизм (цветной ореол). Допуск на 0 зависит от допуска на угловой хроматизм за окуляром и геометрических параметров оптической системы. Допуски на углы клиньев в самом общем виде устанавливают исходя из допустимого отклонения оси визирования от заданного направления. Допуск на
Таблица 2.10. РЕКОМЕНДУЕМЫЕ КЛАССЫ ЧИСТОТЫ ПОВЕРХНОСТЕЙ
ОПТИЧЕСКИХ ДЕТАЛЕЙ ВИЗУАЛЬНЫХ ПРИБОРОВ
Диаметр рабочего отверстия поверхности детали ?>п, мм Класс чистоты
0 0-10, 0-20, 0-40
До 0,5 I
Св. 0,5 до 1,5 II
» 1,5 » 4,5 III
» 4,5 » 10,0 IV
» 10,0 » 25,0 V
» 25,0 » 50,0 VI
» 50,0 VII-IXa
Примечание. Допускается устанавливать другие классы чистоты, обеспечивающие технические характеристики прибора.
107
Таблица 2.11.
РЕКОМЕНДУЕМЫЕ КЛАССЫ ЧИСТОТЫ ПОВЕРХНОСТЕЙ ОПТИЧЕСКИХ ДЕТАЛЕЙ
В ЗАВИСИМОСТИ ОТ ИХ ВИДА И НАЗНАЧЕНИЯ
Класс чистоты Вид и назначение оптических деталей
0-10,0-20 Сетки и коллективы в приборах с фокусным расстоянием окуляра или последующей оптической системы от 10 до 15 мм; шкалы и лимбы, рассматриваемые под увеличением более 2^; подложки дифракционных решеток
0-20 Сетки и коллективы в приборах с фокусным расстоянием окуляра или последующей оптической системы от 15 до 25 мм; шкалы и лимбы, рассматриваемые под увеличением от 25х до 10х
0-40 Сетки и коллективы в приборах с фокусным расстоянием окуляра или последующей оптической системы более 25 мм; шкалы и лимбы, рассматриваемые под увеличением менее l(f; подложки растров и детали, находящиеся в плоскости изображения фотоэлектрических систем, работающих в инфракрасной области спектра
I Первая линза широкоугольных окуляров; первая линза микрообъективов с увеличением более l(f
II Призмы, коллективы, первая линза широкоугольных окуляров и другие детали, расположенные вблизи от плоскости действительного изображения оптической системы; линзы микрообъективов
III Линзы окуляров телескопических приборов, микроскопов и измерительных лабораторных приборов; окулярные призмы; выравнивающие стекла фотоаппаратов; линзы обтекателей и линзы объективов, работающих в ИК-области спектра в условиях солнечной засветки; пластины и кольца стоп; призмы, применяемые в качестве оптико-механи-ческих затворов и зеркал отражателей; плоско-параллельные пластины, применяемые в качестве компенсаторов светоделительных пластин, селекторов; подложки для диэлектрических зеркал в световой зоне, применяемые в твердотельных лазерах и приборах, разработанных на основе лазеров
IV Линзы окуляров, объективов и оборачивающих систем в телескопических приборах; призмы и пластины в параллельных и сходящихся пучках лучей телескопических приборов; лупы; линзы конденсоров и объективов, работающих в ИК-области при отсутствии солнечной засветки; выравнивающие стекла фотографических аппаратов; подложки для интерференционных фильтров; защитные стекла для электронно-лучевых трубок
V Линзы объективов, окуляров и оборачивающих систем, головные призмы, призмы в параллельных пучках и защитные стекла в телескопических приборах; линзы и зеркала фотографических, киносъемочных и линзы проекционных объективов диаметром от 20 до 50 мм; линзы конденсоров и объективов, работающих в ИК-области при отсутствии солнечной засветки; активные элементы (торцевая поверхность); цилиндрические двухканальные отражатели (внешняя и внутренняя поверхности), применяемые в лазерах
