Научная литература
booksshare.net -> Добавить материал -> Физика -> Кольер Р. -> "Оптическая галография" -> 159

Оптическая галография - Кольер Р.

Кольер Р., Беркхарт К., Лин Л. Оптическая галография — М.: Мир, 1973. — 698 c.
Скачать (прямая ссылка): optikgalograf1973.djvu
Предыдущая << 1 .. 153 154 155 156 157 158 < 159 > 160 161 162 163 164 165 .. 230 >> Следующая

Если перемещать приемник так, чтобы он все время находился в точках локализации, то регистрируемые полосы будут наиболее контрастными. Это следует из требования, чтобы вариации величины б в таких точках были близки к нулю. Таким образом, каждая пара соответственных точек, регистрируемых приемником, вносит почти одинаковый вклад в интенсивность. Когда приемник перемещается над рассеивающей поверхностью, величина б и величины этих вкладов в интенсивность медленно и плавно меняются. Например, когда зарегистрированная интенсивность имеет минимум в точке локализации, это обусловлено тем, что все наблюдаемые соответственные точки дают нулевой вклад в интенсивность, регистрируемую приемником. Таким образом, интенсивность в минимуме может быть почти нулевой и контраст полос будет близок к максимальному. Совокупность точек локализации образует поверхность локализации, на которой полосы кажутся сфокусированными, или локализованными. При соответствующем ограничении угловой апертуры приемника контраст полос можно сделать сколь угодно близким к максимальному. Как будет показано в п. 2, при изменении направления наблюдения поверхность локализации может изменяться.
В некоторых случаях, один из которых будет рассмотрен ниже, полосы локализуются на плоскости, перпендикулярной направле-
3 1-0990
482
ГОЛОГРАФИЧЕСКАЯ ИНТЕРФЕРОМЕТРИЯ
ГЛ. 15
нию наблюдения и расположенной очень близко к предмету. В этом случае можно одновременно сфотографировать как полосы, так и предмет и получить снимок, пригодный для обработки. В других случаях расстояние от поверхности локализации до рассеивающей поверхности меняется в широких пределах. Уменьшая апертуру линзовой системы, можно и в этом случае добиться одновременного наблюдения как поверхности, так и интерференционной картины, однако при этом может ухудшиться разрешение.
Чтобы найти зависимость между деформацией и наблюдаемой интерференционной картиной [15.11—15.13], рассмотрим малый участок поверхности и его смещение, как это сделано в работе Александрова и Бонч-Бруевича [15.14]. Этот малый участок наблюдают с помощью оптической системы с ограниченной апертурой, обеспечивающей большую глубину резкости. При этом в большинстве случаев удается одновременно получить сфокусированное изображение предмета и интерференционной картины. Наблюдая последовательно данный участок предмета с четырех различных направлений и считая полосы, которые как бы проходят по участку изображения при изменении направления наблюдения, можно получить систему из трех уравнений, которая позволяет найти смещение данного участка поверхности.
Прежде чем переходить к некоторым простым примерам связи смещения с соответствующей ему интерференционной картиной, рассмотрим более детально основные полоя^ения. Для этого обратимся к фиг. 15.4, на которой ABC представляет собой начальное положение небольшого участка диффузно отражающей поверхности, а А'В'С — смещенное положение того же участка поверхности. При этом микроструктура поверхности вблизи точек А и А'', В и Вг и т. д. одинакова. Как показано на фиг. 15.4, вектор
смещения Ar одинаков для пар точек A, Ar, 5, Вг и С, С", что соответствует случаю поступательного смещения поверхности ABC. В случае интерферометрии в реальном времени участок ABC соответствует мнимому изображению поверхности. Если же используется метод двух экспозиций, то участок АБС представляет собой мнимое изображение, соответствующее положению объекта во время первой экспозиции. В обоих случаях А ВС мояшо рассматривать как поверхность сравнения. Поверхность А'В'С в методе интерферометрии в реальном времени соответствует реальной поверхности предмета, а в методе двух экспозиций — мнимому изображению поверхности при второй экспозиции. Плоская волна, идентичная плоской волне, освещавшей исходный предмет, одновременно освещает малые участки поверхности сравнения и смещенной поверхности, полоя^ение которых определяется радиус-
вектором г.
Световые волны, рассеянные этими поверхностями в пределах ограниченного телесного угла, приходят к наблюдателю или при-
ЛОКАЛИЗАЦИЯ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫХ ПОЛОС
483
емнику, расположенному в точке Р. Перемещая приемник и сохраняя фиксированное направление наблюдения, попытаемся найти поверхность локализации интерференционной картины,
соответствующую смещению поверхности Ar. Для определения
У Освещающий
пучон
ФИГ. 15.4. Поступательное смещение поверхности
ABC
точки локализации P нам нужно только рассмотреть интерференцию света, рассеянного любой точкой A1 лежащей на исходной поверхности, с соответствующим светом, рассеянным точкой А\ лежащей на смещенной поверхности. В отсутствие смещения поверхности разность фаз между световыми лучами, рассеянными точками А и А', равна нулю. Смещение не должно изменять микроструктуру поверхности. Отсюда следует, что разность фаз б, приобретаемая световой волной, рассеянной точкой Ar, по сравнению с волной, рассеянной точкой А, непосредственно определяется —>
вектором смещения Ar.
Это выполняется и для других пар точек В и Вг и т. д. В каждом случае при интерференции лучей от пары соответственных
Предыдущая << 1 .. 153 154 155 156 157 158 < 159 > 160 161 162 163 164 165 .. 230 >> Следующая

Реклама

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed

Есть, чем поделиться? Отправьте
материал
нам
Авторские права © 2009 BooksShare.
Все права защищены.
Rambler's Top100

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed