Отражение света - Кизель В.А.
Скачать (прямая ссылка):
Н - напряженность магнитного поля;
D -электрическая индукция;
В - магнитная индукция;
Р - поляризация среды;
S --вектор потока энергии;
<S> -то же, усредненный по периоду колебаний;
Эа, Эя - соответственно электрическая и магнитная энергия поля;
<33>, <3М> -то же, усредненные по периоду колебаний;
(о - угловая частота;
о)0, Wj,co пи - собственные частоты среды или отдельных частиц; X -длина волны;
Х0 - то же в вакууме;
v -скорость света (фазовая) в среде, v - cjn\
- групповая скорость; к - волновой вектор; ш - вектор рефракции;
s - волновая нормаль (в однородной волне);
5фаз - нормаль к поверхности равных фаз; вампл - нормаль к поверхности равных амплитуд;
N - нормаль к поверхности раздела сред;
R, г - радиусыгвекторы;
Ф - угол падения;
~ Угол преломления (вещественный);
X -комплексный угол преломления;
Фбр - угол Брюстера;
Фкр -критический угол полного внутренного отражения; фгл -главный угол;
е -диэлектрическая проницаемость е = е' - is";
(х - магнитная проницаемость;
12
ПРИНЯТЫЕ ОБОЗНАЧЕНИЯ
<т- проводимость;
Р-поляризуемость молекулы; п-показатель преломления (вещественный); к-показатель поглощения;
v-показатель преломления комплексный; \=п-/х;
П-степень поляризации;
С-циркулярность;
Я-Энергетический коэффициент отражения; <NSy ;
Iе I
г-амплитудный коэффициент отражения; г-т^т- ;
/.- поверхностный импеданс;
I, L- глубина проникновения поля в среду; толщина слоя;
N - число Авогадро;
Ni - число частиц в 1 см3;
Мпр-число электронов проводимости в 1 смг;
/пк- сила осциллятора; d-постоянная решетки;
/иЭфф-эффективная масса;
Уэл-скорость электронов;
т-длительность релаксационного процесса; t-время;
Т° - температура;
Укрист-равновесная номинальная температура кристаллизации;
Тзатв- фактическая температура кристаллизации в рассматриваемом опыте или процессе:
Тдерех-температура фазового перехода, фазового превращения.
Индексы. Индексы 1,2 (например Е,, Е2, 8ь е2) относятся соответственно к среде 1 (откуда приходит падающая волна и куда уходит отраженная) и к среде 2 (куда уходит преломленная волна); индексы г, d относятся соответственно к отраженной и преломленной волнам (например, D,, Dd, kr, kd); параметры падающей волны индексов не имеют. Индексы II, _1_ относятся соответственно к компонентам векторов, лежащим в плоскости падения и перпендикулярным к ней.
Оси X, У лежат в отражающей плоскости, ось X - в плоскости падения. Ось Z перпендикулярна к поверхности и направлена в глубь среды 2 (по ходу луча).
Кристаллографические обозначения и обозначения групп симметрии даны по Шенфлису. Обозначения универсальных констант - стандартные.
Ссылки на литературу даны в квадратных скобках, ссылки на список общей литературы обозначены перед порядковым номером
О (например, [022]); ссылки даны по стандарту ВИНИТИ.
ВВЕДЕНИЕ
Закон отражения света - исторически один из первых четко осознанных и сформулированных законов физики. Это естественно, ибо с явлением отражения человечество знакомо столько же времени, сколько существует само, и каждый из нас сталкивается с ним с момента нашего рождения. Не будет преувеличением сказать, что большую часть информации об окружающих нас предметах мы получаем по тому, как они отражают свет.
Сведения о явлении отражения света можно найти уже в египетских надписях, древних китайских трактатах и второй книге Моисея; закон отражения в его современной формулировке был известен еще Платону (430 г. до н. э.).
Часто говорят, что закон отражения - древнейший и простейший из всех законов оптики. Если первое утверждение не вызывает сомнений, то простота закона - лишь кажущаяся; более серьезный его анализ выявляет ряд сложных вопросов, не полностью разрешенных и по сей день. Детали явления, внутренний механизм его, как будет видно из дальнейшего, продолжают интенсивно изучаться и пересматриваться заново. Нарастающее число работ по этому вопросу в научных журналах говорит об интенсивности и актуальности этих исследований и появлении все новых результатов.
Экспериментальные и теоретические исследования идут по двум основным направлениям. С одной стороны, возросшие технические возможности позволяют исследовать те стороны явления и те детали его механизма, которые ранее были недоступны наблюдению. Получение небывало мощных световых потоков, например, позволяет изучать нелинейные оптические явления.
14
ВВЕДЕНИЕ
Повышение разрешения аппаратуры во времени дает возможность измерять или хотя бы оценивать время формирования отраженной волны, и ,т. д. Новые возможности эксперимента стимулируют также развитие более глубокой теории основ явления - тех глав теоретической оптики, которые раньше казались исчерпанными и тривиальными.
Другое направление заключается в применении отражения для исследования состава, свойств и структуры вещества.
До недавнего времени оптические характеристики вещества, необходимые для выяснения его свойств и структуры, определялись в основном по параметрам проходящего света. Между тем, свет, отраженный от вещества, несет в себе не меньшее, а зачастую большее, количество информации о свойствах этого вещества. Эта информация не идентична получаемой "на просвет", и часто удачно дополняет ее. Поэтому быстро растет интерес к исследованиям процессов отражения и связи параметров отраженного света со структурой вещества.
