Методы анализа молока и молочных продуктов - Инихов Г.С.
Скачать (прямая ссылка):
Всего делают 100 измерений кристаллов и разбивают их на 4 группы. Величину кристалла измеряют по длинной грани, а не по диагонали; ширина перпендикулярна грани длины. При разбивке на группы измеряют несколько кристаллов и делают подсчет. При переводе кристаллов на объем отмечают ширину кристалла и его форму. Кристаллы молочного сахара чаще встречаются в форме пинокоидов и ромбоидов. По средней величине кристалла в каждой группе и количеству их высчитывают средний размер кристаллов молочного сахара в сгущенном молоке. Подсчет лучше производить при увеличении в 100 раз, так как, если кристаллов немного и величина их не менее 1 мкм, то их легко сосчитать во всей камере (глубиной 0,1 мм).
Таблица I
Средний размер кристаллов, мкм Возможное количество кристаллов лактозы в і млі* продукта Сречний размер кристаллов, мкм Возможное количество кристаллов лактозы в I мм3 пролукта
6 770 000 I 12 98 000
7 500 000 15 50 000
8 270 000 20 21000
9 220 000 30 7000
10 175000 40 2 600
При увеличении в 600 раз производят подсчет с окулярной сеткой. Если окулярной сетки нет, то отсчет производят во всем поле зрения, предварительно измерив Диаметр поля зрения объектмикрометром. Величину кристаллов измеряют окулярмикрометром.
По среднему размеру кристаллов находят количество кристаллов лактозы в I мм3 продукта, т. е. ожидаемую массовость кристаллизации (табл. 1).
При определении без счетной камеры на обычных предметных стеклах наносят одинаковые по величине капли сгущенного молока петлей диаметром 1 мм. В этом случае измерить количество кристаллов сахара не удается, можно провести лишь качественное отличие различных проб сгущенного молока.
методы исследований с помощью электронных микроскопов
Электронный микроскоп
Для тонкого исследования структуры веществ, вплоть до молекул, пользуются специальными электронными микроскопами, увеличивающими исследуемый объект в 200 000—3 000 000 раз.
В электронном микроскопе вместо световых лучей используются быстролетящие электроны — электронные лучи, а вместо стеклянных линз — электронные линзы. В молочной промышленности используют просвечивающие электронные микроскопы, в которых изображение объекта создается электронами, проходящими через объект.
Схемы пути электронов и расположения магнитных линз (полет) в микроскопах приведены на рис. 4. Пучок электронов проходит через исследуемый предмет и просвечивает его. Линзы обычно располагаются одна над другой, образуя вертикальную колонку, наверху которой находится источник электронов — электронная пушка. В колонне поддерживается вакуум 10~~4— 5- Ю-5 мм рт. ст.
Источником электронов является тонкая вольфрамовая нить (диаметром около 0,1 мм), которая нагревается переменным током до температуры около 2000° С. Вершина нити находится у небольшого отверстия в фокусирующем электроде, к которому подведено высокое напряжение. Под влиянием напряжения сосредоточивается пучок электронов, выходящих из отверстия на определенном участке. Между катодом и анодом, который заземлен (потенциал равен нулю), подключено напря-
16
жение в несколько десятков тысяч вольт (ускоряющее напряжение). Ускоренные электроны устремляются через отверстие в колонку микроскопа. Система из катодной нити, фокусирующего электрода и анода — электронная пушка (рис. 5).
Пучок электронов, выходящий из отверстия фокусирующего электрода, попадает в магнитное поле кондеисорной линзы, которая сужает его и фокусирует на образце. В 12 объективной линзе полуді чается первоначальное изображение. Чтобы увеличить его, необходимо фокусное расстояние объективной линзы по возможности сделать более коротким (до 1 мм), сосредоточив интенсивное магнитное поле на небольшом участке.
Исследуемый образец на специальном держателе помещают близко к фокальной плоскости линзы Пучок электронов, проходя через исследуемый объект, взаимодействует с его атомами и рассеивается. От величины и характера рассеивания зависит качество изображения. Рассеиваемые электроны попадают в поле объективной линзы. Для повышения контрастности изображения в объективную линзу вводят шафрагму. Электроны, отклоненные объективом на угол, больший апертурного в соответствии с диаметром диаф-
Рис. 4. Упрощенная схема электронного микроскопа:
/ — источник электронов; 2 — І конденсорная линза; 3 — конденсорная диафрагма; 4— 11 конденсорная лннза; В — объект; Є объективная линза; 7 — объективная диафрагма; 8—I изображение; 9 — 11 изображение; 10 — проекционная линза; 11 — конечное изображение; 12 — промежуточная линза.
17
рагмы (0,025—0,05 мм), задерживаются и не искажают изображения. Первичное изображение исследуемого объекта увеличивается проекционной линзой, его запечетле-вают на фотопленке.
Исследование в электронных микроскопах жидких продуктов требует размещения их на тончайших пленках-подложках, опорой для которых служат специальные сетки-подложки, изготовляемые из меди электролитическим способом или сплетенные из тонкой проволоки. Электроны, дающие изображение исследуемых объектов, взаимодействуют с пленкой-подложкой, поэтому материал пленки, толщина, механическая прочность, стойкость к электронной бомбардировке должны быть
