Научная литература
booksshare.net -> Добавить материал -> Физика -> Бонч-Бруевич В.Л. -> "Сборник задач по физике полупроводников" -> 8

Сборник задач по физике полупроводников - Бонч-Бруевич В.Л.

Бонч-Бруевич В.Л., Звягин И.П., Карпенко И.В., Миронов А.Г. Сборник задач по физике полупроводников — М.: Наука, 1987. — 144 c.
Скачать (прямая ссылка): sbornikzadachpofizikepoluprovodnikov1987.pdf
Предыдущая << 1 .. 2 3 4 5 6 7 < 8 > 9 10 11 12 13 14 .. 46 >> Следующая


45. Положение уровня Ферми в некотором полупроводнике определяется дефектами с отрицательной энергией корреляции, причем U0 > kT. Как сместится уровень Ферми при добавлении акцепторов в концентрации,втрое меньшей концентрации дефектов при 300 К? Насколько отличается при 300 К положение уровня Ферми в материале, содержащем вместо доноров акцепторы в той же концентрации? Насколько сместится уровень Ферми в описанном полупроводнике с донорами при изменении температуры от 100 К до 300 К?

Глава 2

РЕКОМБИНАЦИЯ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА

В ПОЛУПРОВОДНИКАХ

При отклонении концентраций носителей заряда от равновесных значений па и р0 нарушается баланс между процессами тепловой генерации, с одной стороны, и захватом носителей на локальные центры или убылью носителей за счет межзонных переходов, с другой. Становятся отличными от нуля абсолютные темпы рекомбинации электронов /?„ и дырок RP, равные результирующим числам захватов носителей в 1 см3 за 1 с. Равенствами

^г) = ^ ~(Чг) =ЯР = ^(2.1)

? 1 рек ~п V /рек р

определяются времена жизни электронов и дырок т„ и х-р (в нестационарных условиях имеет смысл говорить только об их мгновенных значениях). Величины тп и тр зависят в общем случае от Дп и Др. Так, если преобла-

21
дают процессы прямой межзонной рекомбинации, то

Rn = Rp = а(пр — щр0),

(2.2);

где а — постоянная.

Во многих случаях рекомбинация осуществляется путем захвата свободных носителей заряда дефектами решетки (называемыми еще центрами захвата, или ловушками), дающими локальные энергетические уровни в запрещенной зоне. Для описания этого процесса удобно ввести темпы захвата электрона и дырки на данный уровень, гп и гр, а также темпы обратного выброса электронов и дырок с данного уровня соответственно в зону проводимости и валентную зону, gn и gp. Обозначим эффективные сечения захвата электрона и дырки соответственно через Sn п Sp и введем коэффициенты захвата электрона и дырки, а„ и аР, полагая по определению an — vTSn, ap — vTSp, где ут = {‘ЬкТ/та)иг—«тепловая» скорость свободного электрона. Тогда

где / — доля ловушек, заполненных электронами. Пользуясь принципом детального равновесия и считая газы свободных электронов и дырок невырожденными, можно записать темпы обратного теплового выброса электронов и дырок, gn и gP, в следующем виде:

где величины nt и даются формулами типа (1.34).

Результирующие темпы захвата электронов и дырок на данный уровень, Rn и RP, представляют собой разности величин (2.3) и (2.4):

В стационарных условиях Rn = Rp(^R). Это равенство определяет величину /, после чего легко получается выражение

rn = annNt (1 — /), гр = appN,f,

(2.3)

gn = N,anfnl, gp = Ntap(l — f)pu (2.4)

Rn = rn — gn, Rp = rp — gp.

(2.5)

Rn = Rp = R = N,

anap(Pn~ Ppno)

(2.6)

' Mn + ni) + Mp + Pi)'

При наличии подсветки помимо тепловой генерации носителей заряда имеет место еще и генерация их за
счет энергии неравновесного излучения. Ее называют оптической *).

Обозначим через J поток фотонов должной частоты, а через Sи — эффективные сечения захвата фотона с выбросом электрона в зону проводимости и дырки в валентную зону соответственно. Тогда темпы оптической генерации запишутся в виде

gn,опт = NifJST, gp,om = Nt( 1- /) JSf. (2.7)

Пусть концентрация N, мала, так что можно пренебречь неравновесным изменением концентрации электронов на ловушках, т. е. отношение Д nt Apt Nt

Ар Ар

по + п1 Г Ntn 1 ]
«„ (Р0 + Рх) + + и, 4- .
0 1 п0 + п1
(2.8)

мало. Это — случай, когда отсутствует прилипание носи^ телей. При этом

т = ТП0 (Рр + Pl + Ап) + ТРП ("о + П1 + Ап) (2 QV

п0 + Р0 + Ап 1 '

где величины

т„о ~(Ntan)~\ тРо =(Nt<xP)-1 (2.10)

суть времена жизни пар носителей при слабом возбуждении в униполярных материалах р- и «-типа соответственно.

Если центр захвата: создает в запрещенной зоне два локальных уровня Et и Ег, то при небольшом отклонении от равновесия и в отсутствие заметного прилипания

л_--------i+Vi-------- дг|Х

* i+PjPo + PiPi/Po

X

!/«„! + ni/*plP0 Van2 + nJapiPo

где вторые индексы у коэффициентов захвата указывают, на какой уровень захватывается носитель, а величины

*) Подчеркнем, что генерация за счет равновесного теплового излучения, всегда имеющегося в полупроводнике, этим понятием не охвйтыЬается. Она учитывается коэффициентами а„ и аР.

23
Hi, пг, p\, рг определены аналогично (1-34) с заменой

Е, на Et или Ег-

Пусть в полупроводнике помимо центров, через которые идет рекомбинация и которые сами по себе не вызывают заметного прилипания, имеются еще ловушки, способные захватывать только, например, электроны из зоны проводимости и отдавать их обратно. Тогда в образце n-типа при малом отклонении от равновесия справедливы выражения
Предыдущая << 1 .. 2 3 4 5 6 7 < 8 > 9 10 11 12 13 14 .. 46 >> Следующая

Реклама

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed

Есть, чем поделиться? Отправьте
материал
нам
Авторские права © 2009 BooksShare.
Все права защищены.
Rambler's Top100

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed