Научная литература
booksshare.net -> Добавить материал -> Физика -> Бонч-Бруевич В.Л. -> "Физика полупроводников " -> 86

Физика полупроводников - Бонч-Бруевич В.Л.

Бонч-Бруевич В.Л. , Калашников С.Г. Физика полупроводников — Москва, 1977. — 678 c.
Скачать (прямая ссылка): fizikapoluprovodnikov1977.djvu
Предыдущая << 1 .. 80 81 82 83 84 85 < 86 > 87 88 89 90 91 92 .. 295 >> Следующая


П (П-j-Nq)

Nd-Na

:«l(T), (17.2)

где п1 (Т) по-прежнему выражается формулой (9.5). При Na = О это уравнение переходит в ранее полученное (15.2). Оно опять приводит к квадратному уравнению относительно «. Для очень низких температур, когда ti Na, Nd — N а, уравнение (17.2) дает

*=тг!*-ч(4)' <17-з>

Следовательно, в координатах In (пТ~'/=) и l/Т зависимость п (Т) имеет опять вид прямой линии. Однако, в отличие от случая одних некомпенсированных доноров, наклон этой прямой равен в?Ik, т. е. соответствует не половине, а полной энергии ионизации <&. Из выражения (17.3) также видно, что концентрация компенсирующих акцепторов сильно влияет на концентрацию электронов в зоне и может изменять ее на много порядков.

В общем случае примесной проводимости квадратное уравнение (17.2) дает ____________

*=>.+<.,)(/i+4(^+y -')¦ <17-4>

т—г (Afrf—Л^д) Я| ^ I

При достаточно высоких температурах, когда ^ 1 и*

кроме того, nL Na, мы имеем

n~Nd — Na,
198

СТАТИСТИКА ЭЛЕКТРОНОВ И ДЫРОК

1гл. V

т. е. полученную ранее формулу (16.1а). Эту область температур иногда называют «областью истощения» доноров.

Зависимость п от Т для конкретного случая германия с донорами V группы, частично компенсированными акцепторами III группы, показана на рис. 5.11. Для случая некомпенсированных доноров кривая 1 при низких температурах имеет наклон, соответствующий половине энергии ионизации доноров (ср. § 15). При наличии компенсации наклон соответствует полной энергии ионизации. Следует подчеркнуть, однако, что при малой степени компенсации (кривая 2) имеется область температур (она соответствует условию N„ <€п -€^ _< Nd), в которой наклон отвечает тоже половине энергии ионизации и лишь при достаточном понижении температуры этот наклон удваивается.

Чтобы найти температурный ход уровня Ферми, мы, соотношением (5.1). Это дает

Рис. 5.11. Зависимость концентрации электронов от температуры в германии, содержащем доноры V группы (принято Ес — Еа = 0,01 эВ), частично компенсированные акцепторами III группы |1]. Для всех кривых N(/ — Na= 101в см~3. 1 — N'a= 0; 2 — Na= 1014 см-3; 3 — Na= = 1015 см 3; 4—Na= 1016 см 3. При расчетах положено mn = 0,25 mQ, gjgi =-0-

как и раньше,

F-E,. = kT In

воспользуемся Ne + n i

2Nr.

VT

4 (Nd — Na) пг

(N a + /;i)2

(17.5)

Зависимость F — Ec от T для тех же четырех степеней компенсации, что на рис. 5.11, показана на рис. 5.12. Из рисунка видно, что в частично компенсированном полупроводнике при низких температурах ход уровня Ферми существенно отличается от такового в некомпенсированном полупроводнике. При низких температурах (количественное условие см. выше) формула (17.5) дает

F = Ed — kT In

Nq N и — N.

_gi

go

При T 0 F стремится к Еа, в то время как в некомпенсированном полупроводнике F располагается посередине между уровнями Ес и Ed.
§ 18]

ЭНЕРГЕТИЧЕСКИЕ УРОВНИ ПРИМЕСНЫХ АТОМОВ

199

Для полупроводника р-типа с акцепторами, частично компенсированными донорами, мы получили бы

p{Nd + p) Na-Nd-p

"Pi (Т),

(17.6)

где pl (Т) дается формулой (9.13). В частности, при низких температурах концентрация дырок

выражается формулой, логичной (17.3):

ана-

Р

Ж

go

Na-N

Nd

Nvexp (

(17.7)

-0,02

Рис. 5.12. Зависимость уровня Ферми от температуры в германии с частично компенсированными донорами V группы для тех же образцов, что на рис. 5.I I.

Здесь еУа=^Еа—Ev есть энергия ионизации акцептора (энергия отщепления дырки от него). При очень низких температурах уровень Ферми стремится к уровню энергии основной примеси, т. е. к Еа.

Рассуждая, как и выше, легко найти температурную зависимость концентрации электронов (дырок) для двух

других возможных случаев: частично компенсированных акцепторов в полупроводнике п-типа и частично компенсированных доноров в полупроводнике р-типа,

§ 18. Определение энергетических уровней примесных атомов

Результаты предыдущего параграфа лежат в основе важного метода определения локальных энергетических уровней, создаваемых примесными атомами и структурными дефектами. Для этого изготовляют образцы, содержащие исследуемую примесь и, кроме того, компенсирующую примесь, концентрацию последней подбирают так, чтобы исследуемый уровень энергии был компенсирован частично. В этом случае при достаточном понижении температуры уровень Ферми располагается на частично компенсированном уровне (ср. рис. 5.12), а зависимость концентрации основных носителей от температуры в координатах In (пТ~3/г) и l/Т описывается прямой линией, наклон которой дает энергию ионизации.
Предыдущая << 1 .. 80 81 82 83 84 85 < 86 > 87 88 89 90 91 92 .. 295 >> Следующая

Реклама

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed

Есть, чем поделиться? Отправьте
материал
нам
Авторские права © 2009 BooksShare.
Все права защищены.
Rambler's Top100

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed