Научная литература
booksshare.net -> Добавить материал -> Геофизика -> Шевнин В.А. -> "Электроразведка методом сопротивлений" -> 41

Электроразведка методом сопротивлений - Шевнин В.А.

Шевнин В.А., Акуленко С.А., Березина С.А., Бобачев А.А., Большаков Д.К., Горбунов А.А., Игнатова И.Д., Любчикова А.В., Марченко М.Н., Модин И.Н., Перваго Е.В., Рыжов А.А., Симоне М.М., Смирнова Т.Ю., Яковлев А.Г. Электроразведка методом сопротивлений: Учебное пособие. Под редакцией В.К. Хмелевского и В.А. Шевнина — M.: Изд-во МГУ, 1994. — 160 c.
ISBN 5-211-03303-5
Скачать (прямая ссылка): ka1994electrorazv-metod-sopr.pdf
Предыдущая << 1 .. 35 36 37 38 39 40 < 41 > 42 43 44 45 46 47 .. 49 >> Следующая


На рис.5.2.6,В диаграмма для E вытянута вкрест простирания, а для U и D - по простиранию, хотя вытянутость эллипса для U практически незаметна.

На рис.5.2.5-5.2.6,С все три диаграммы показывают заметную вытянутость, существенно более резкую для D-установки, и сходную для установок UnE. Интересно отметить, что в этом случае Хк для U установки выше, чем для E при близких или равных р]} за счет заниженных р^ для U установки.

При дальнейшем росте разносов качественно картина не меняется, а происходят только некоторые количественные изменения. Диаграммы КЭП для UnE становятся почти

Рис.5.2.5. Диаграммы КЭП для модели А рис.5.2.2

--^ 2 г-10

Рис.5.2.6. Диаграммы КЭП для модели С рис.5.2.2

идентичными, а диаграммы для D резко от них отличаются.

Пример- На рис.5.2.7 приведены результаты расчетов над моделью двухслойной среды с анизотропным основанием, соответствующей условиям Крымской учебной практики. Смоделирован разрез плато Патиль. Нижняя часть разреза сложена породами таврической серии, залегающими почти вертикально, с Рм=45 Рис.5.2.7. Расчеты ВЭЗ и КЭП для Омм, А=1.62, а верхняя плато Патиль часть мощностью 10 м -

это известковистые песчаники резанской свиты с P1=450 Омм. Расчеты показывают, что установка Шлюмберже (E) в практическом интервале разносов дает очень слабые различия продольных и поперечных кривых ВЭЗ (А). Это объясняет неудачи предпринимавшихся время от времени попыток обнаружить анизотропию основания под слоем наносов с помощью установки Шлюмберже. Потенциал- установка AM (U) может дать более заметный эффект анизотропии. Наилучший эффект можно получить при использовании установки ДЭП (D). Технологически наиболее удобно в одной точке выполнить зондирование с установкой Шлюмберже и круговые наблюдения с установкой ДЭП, что позволит охарактеризовать как слоистость, так и анизотропные свойства основания. На рис.5.2.7(В,С) приведены диаграммы КЭП для трех установок на разносах 30 (В) и 40 (С) м при мощности наносов 10 м. Начиная с r/h=3-4 установка ДЭП дает сильный эффект анизотропии. 9 І /Ю2

Выводы. Анализ результатов зондирования для потенциал (AM)-, градиент (АММ)-установок и ДЭЗ над двухслойной средой с анизотропным основанием показывает, что анизотропия и слоистость проявляются в широком интервале разносов совместно и их влиянием нельзя пренебречь. Эту задачу нельзя свести к более простой двухслойной модели с изотропными слоями или к модели анизотропного полупространства. Особенно противоречивый характер носят графики рк ВЭЗ для градиент-установки (E)1 где отмечается область исчезновения парадокса анизотропии. Поперечные восходящие кривые зондирования над двухслойным разрезом выглядят как трехслойные типа К. Это заставляет относиться к интерпретации данных над разрезами с анизотропным основанием с максимальной осторожностью и учитывать данные моделирования. Рекомендуется шире использовать установку ДЭЗ, обладающую максимально высокой чувствительностью к анизотропии.

5.3. Вертикальный контакт двух анизотропных сред

Рассмотрим решение задачи о поле точечного источника вблизи контакта двух анизотропных сред.

Рис.5.3.1. Первоначальная сис- Рис.5.3.2. Переходная система тема координат, связанная со координат. Ось Х1 - вдоль сло-слоистостью истости

Определим систему координат, связанную со слоистостью анизотропной толщи (рис. 5.3.1). Пусть ось X направлена по простиранию слоистой толщи, ось Y - по ее падению (таким образом, оси XnY лежат в плоскости падения анизотропной толщи), а ось Z - перпендикулярно плоскости падения анизо-

тройной толщи.

При переходе от вышеописанной системы координат (X,-Y1Z) к системе координат (X11Y11Z1), в которой ось X1 направлена вдоль простирания анизотропной толщи, ось Z1 - вертикально вниз, а ось Y1 располагается перпендикулярно плоскости XOZ (см. рис.5.3.5). Вокруг оси X осуществляется поворот, причем матрица преобразования выглядит следующим образом:

где a - угол падения анизотропной толщи.

Теперь для описания наблюдений в любой точке на дневной поверхности необходимо перейти к произвольной системе координат, составляющей некоторый угол р с направлением слоистости.

Матрица перехода к описанной системе координат от первоначальной выглядит следующим образом:

О

О COSa Sina О -Sina COSa

(36)

' cosp sinp О ' -einp cosp О k О 0 1,

(37)

В результате получаем общую матрицу преобразования координат от исходной к произвольной:

10 0 О cosa sin a , О -sina cosa ,

' cosp sinP О " -sinр cosp О О О 1

cosp sin р O^

-sinpcosa cosp COSa sina Sinpslna -COSP Sina COSa

(38)

Далее рассмотрим собственно решение поставленной задачи с помощью метода зеркальных отражений (рис.5.3.3). Сначала проанализируем алгоритм решения для более простой ситуации - контакта двух изотропных сред. Рис.5.3.3. Мнимый источник тока А"

Потенциал точечного в методе зеркальных отражений источника в среде 1 равен:

U<1) =

JfJL

Искажающее влияние среды 2 можно учесть, если в точку А', которая является зеркальным отображением А относительно
Предыдущая << 1 .. 35 36 37 38 39 40 < 41 > 42 43 44 45 46 47 .. 49 >> Следующая

Реклама

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed

Есть, чем поделиться? Отправьте
материал
нам
Авторские права © 2009 BooksShare.
Все права защищены.
Rambler's Top100

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed