Научная литература
booksshare.net -> Добавить материал -> Биология -> Киршвинк Дж. -> "Биогенный магнетит и магниторецепция. Новое о биомагнетизме. Том 1" -> 98

Биогенный магнетит и магниторецепция. Новое о биомагнетизме. Том 1 - Киршвинк Дж.

Киршвинк Дж., Джонса Д. Биогенный магнетит и магниторецепция. Новое о биомагнетизме. Том 1 — М.: Мир, 1989. — 353 c.
ISBN 5-03-001274-5
Скачать (прямая ссылка): biogenniymagnetit1989.djvu
Предыдущая << 1 .. 92 93 94 95 96 97 < 98 > 99 100 101 102 103 104 .. 150 >> Следующая

Поэтому, прежде чем рассматривать любой выступ или кайму как реальную структуру, следует исключить возможность артефакта. Если все гранулы (или их большая часть) в поле зрения имеют одинаковую кайму или же все каймы идут в одном и том же направлении, то вероятность артефакта очень велика. В этом случае следует проверить исправность оборудования путем изменения фокусировки и/или установки астигматизма, а также проконтролировать возможность загрязнения пучка путем наблюдения нового участка сетки и выявления в нем
окаймленных структур. Другой контроль загрязнения пучка состоит в уменьшении увеличения и проверке наличия общего потемнения исследованной области.
Химическое загрязнение из-за плохой отмывки может наблюдаться по всей поверхности сетки или быть локальным. В обоих случаях, в особенности при малых увеличениях, исследователю будет казаться, что он ведет наблюдение через запотевшее стекло, причем резкое изображение получить очень трудно. При больших увеличениях растворимые соли, кристаллизующиеся на сетке, будут возгоняться под пучком и, по-видимому, полностью исчезать. При этом контраст изображения будет понижаться и сохранятся лишь его очень слабые контуры.
«Включения» представляют собой другой возможный источник помех. Поскольку изображение в просвечивающем электронном микроскопе подобно тени на освещенном экране, мелкие частички, которые кажутся находящимися внутри крупных, могут быть: 1) поверхностными углублениями, 2) лежащими на поверхности включениями или 3) истинными включениями. Истинные включения могут быть либо твердыми телами, либо пустотами. Если включения твердые, то они будут выглядеть на флуоресцирующем экране темнее окружающего материала, если это пустоты то светлее своего окружения. Углубления на поверхности выглядят более светлыми, плотно прилегающий к поверхности слой-более темным. Для того чтобы различить внутренние и поверхностные структуры, может быть полезен вид препарата сбоку или поверхностная реплика.
При работе с материалами, оттененными металлами, полезно помнить, что на обычных фотографических снимках «тени» выглядят светлыми. Лишь на негативе или на негативном отпечатке они будут темными.
3.3. Идентификация частиц при помощи электронной дифракции
Ни один из аспектов просвечивающей электронной микроскопии не чреват такими трудностями в получении и интерпретации данных, как электронная дифракция. Особенно рискованна идентификация совершенно неизвестных частиц, и следует предостеречь читателя от больших ожиданий, связанных с применением этого метода. Трудности возрастают, когда имеют дело с мелкими магнитными частицами биогенного происхождения, встречающимися в ограниченном количестве.
Этот раздел не претендует на то, чтобы стать введением в теорию и практику электронной дифракции. Его цель-дать читателю практические советы по работе с образцами тех типов, которые вероятнее всего встретятся при исследовании биоминерализации.
В целом исследование частиц путем электронной дифракции сходно с исследованием дифракции рентгеновских лучей на порошке. Вместо
параллельного пучка рентгеновских лучей определенной длины волны через образец проходит фокусированный пучок электронов с постоянной, но меньшей длиной волны, испытывающий дифракцию на кристаллической структуре в соответствии с законом Брэгга. В отличие от рентгеновских лучей электроны отклоняются магнитным полем, и поэтому изображение результирующей дифракционной картины можно сфокусировать, направить на флуоресцирующий экран и быстро зафиксировать на фотографической пленке. При идентификации образцов с гранулярными включениями стремятся получить четкую и наиболее полную картину дифракции с возможно лучшей калибровкой.
Некоторые образцы, например коллоиды, идеально пригодны для электронной дифракции. Наилучшим образцом является такой, который состоит из большого числа мелких (менее 0,1 мкм) случайным образом ориентированных и близко расположенных (но не слипающихся) тонких кристаллов. Лишь немногие естественные образцы удовлетворяют всем этим требованиям. Если образец для исследования с помощью электронной дифракции должен быть раздроблен на очень мелкие частицы, его обычно бывает достаточно для идентификации более простым способом-рентгеновским методом Дебая-Шеррера. Вместе с тем если количество образца ограничено и его кристаллы велики, он непригоден для исследования методом электронной дифракции, так как электронный пучок не сможет пройти через образец.
В ультратонких срезах могут присутствовать мелкие биогенные кристаллы, и тогда они пропускают претерпевающие дифракцию лучи, но если они немногочисленны, то они не дадут полной картины дифракции, необходимой для идентификации. Лишь в редких случаях такие картины можно точно прокалибровать.
Хотя метод электронной дифракции имеет свои недостатки, не следует отчаиваться. Известно, что картина дифракции отдельного кристалла состоит из пятен и зависит от атомной структуры материала. Образуемая пятнами картина может меняться в зависимости от ориентации кристаллов. Добавочные кристаллы увеличат число пятен. Чем больше кристаллов участвует в создании картины, тем больше появляется пятен и тем больше образуется концентрических колец вокруг центрального пучка, не подвергшегося дифракции. Когда число кристаллов становится очень большим, пятна начинают утрачивать свою индивидуальность и сливаются друг с другом, образуя однородные кольца. Расстояние колец от центрального пучка (и друг от друга) зависит от межплоскостных расстояний в кристаллической структуре. Каждый образец имеет свою характерную картину с индивидуальными «отпечатками пальцев»-межплоскостными расстояниями. Их величины d и относительные интенсивности соответствующих отражений можно найти в таблицах и справочниках, предназначенных для идентификации материалов. Следовательно, идентификация состоит в сравнении межплоскостных расстояний d и интенсивностей дифракционных сечений с табличными данными.
Предыдущая << 1 .. 92 93 94 95 96 97 < 98 > 99 100 101 102 103 104 .. 150 >> Следующая

Реклама

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed

Есть, чем поделиться? Отправьте
материал
нам
Авторские права © 2009 BooksShare.
Все права защищены.
Rambler's Top100

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed