Научная литература
booksshare.net -> Добавить материал -> Биология -> Гоулдстей Дж. -> "Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Том 1" -> 99

Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Том 1 - Гоулдстей Дж.

Гоулдстей Дж., Ньюбери Д., Эчлин П., Джой Д., Фиори Ч., Лифшин Э. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Том 1 — М.: Мир, 1984. — 348 c.
Скачать (прямая ссылка): rastovayaelektronnayamicroskopiya1984.djvu
Предыдущая << 1 .. 93 94 95 96 97 98 < 99 > 100 101 102 103 104 105 .. 139 >> Следующая

квадраты растра Утрата частей образца Квадраты растра на поверхности
Движение образца Сморщивание поверхности образца
- зарядка
- зарядка
- зарядка
- зарядка
- повреждение пучком
- повреждение пучком
- зарядка
- загрязнение
- зарядка
- запяткя
- повреждение пучком
- повреждение пучком
- повреждение пучком
- плохое крепление, зарядка
- повреждение пучком
Препаривание биологических объектов для РЭМ
261
Рис. 11.26.
а - язык новорожденного теленка, отфнк-сированный с помощью нейтральной
соли формалина. Изгиб за счет сильного сморщивания менее ороговевшей
стороны сосочка; 6 - трахея теленка с волокнами слизистой оболочки за
счет недостаточной промывки перед фиксацией. Обезвожен замораживанием; в
- желудочек сердца обезьяны (макаки). Пятимин>г-ная обработка в ацетоне,
L-цистине до фиксации, приводящая к утрате поверхностного эпителия.
Ацетон высушен сушкой на воздухе; г - К4-клетки, отфикснро-ванные
гипотоническим какодилатпым буфером в сочетании с 1%-ным формальдегидом и
1,9%-ным глутаральдегидом. Отмечаются лопнувшие пузыри; д - быстро
замороженная клетка Кг и оттаянная до фиксации в глутаральдегиде с
последующей сушкой в критической точке. Сильное образование пузырей
[385].
262
Глава 11
Ряс. 11.27. Артефакты, возникающие в процессе препарирования образца
для РЭМ.
а - повреждение кристаллом льда плохо высушенного зерна пыльцы Clarkia
spp; б - неполное удаление материала капсулы с поверхности высушенной
замораживанием водоросли Chroococcus lurgidus: в - частичный коллапс
высушенной сушкой в критической точке водоросли Lyngbia majuscula; г -
слой слизи, облитерирующий поверхность бактерии Bacillus megatherium.
Пример некоторых типов повреждений, которые происходят в процессе
препарирования, показан на рис. 11.26. Для различных типов образцов
возникают различные типы артефактов. Для объяснения деталей физической
природы повреждений, вызываемых пучком, можно сослаться на работу [186].
Наиболее очевидным проявлением повреждения объекта, возникшего из-за
неверного препарирования, являются сморщивание за счет экстракции и
сушки, искажения за счет сушки и повреждения
Препарирование биологических образцов для РМА
263
' . .... j
,:
вняяН
-
1CW
*чя
ч
'•Ч,
¦
'V.
?
70 nv
1
<?
Л*
5 мкм
Рис. 11.28. Артефакты, наблюдаемые в процессе исследования образцов в
РЭМ.
а - сухой излом зерна пыльцы Silene zawadski, на котором пмден яркчн кран
за счет не полностью нанесенного покрытия; 6 - отфиксированное и
напыленное волокно зеленой водоросли Oedogonium, на которой видны черные
пятиа загрязнения; в - сосуд ксичемы Tuiipa sр., на котором видев
коллапс, возникший во врем л cvuthh; г - плохо смонтированное зерно
пыльцы PlaniQgo media, на котором видно растрескивание слоя покрытия.
под действием кристаллов льда, связанные с криобиологическими методиками,
и изменения свойств поверхности в результате неправильных способов
нанесения покрытий (рис. 11.27).
На рис. 11.28 показаны некоторые повреждения, которые могут произойти в
микроскопе. Повреждения удобно подразделить на ряд различных типов, хотя
иногда бывает трудно отличить один тип от другого. На образцах, в
частности на тех из них, на которые не наносилось покрытие, могут
случайно обнаружиться повреждения, связанные с вакуумом. Это проявляет-
264
Глава 11
ся в виде разрыва структуры. Повреждения под действием пучка могут
произойти, когда облучение электронным пучком вызывает нежелательный
локальный нагрев. Когда это происходит на образце, могут возникнуть
пузыри, блистеры или трещины, можно заметить движение или даже
дезинтеграцию. В простейшем виде такое повреждение проявляется в виде
светлого и темного квадрата на поверхности образца, обусловленного
растром. Это проявление не следует смешивать с загрязнением, которое
может вносить свой собственный набор артефактов и проблем в
интерпретации. Разрушение под действием пучка можно уменьшить за счет
снижения энергии, поступаемой в образец, хотя это может также ухудшить
оптимальные рабочие параметры прибора. Другим обычным артефактом является
зарядка образца; несмотря на то что обычно это явление проявляется в виде
аномально ярких областей на образце, эффект пробегает всю гамму от
маленьких вспышек на изображении до сильно искаженных и неузнаваемых
изображений. В работе [386] приводится полезное обсуждение связанных с
зарядкой артефактов, дается объяснение того, как они возникают, и
предлагаются способы, с помощью которых их можно избежать.
Парадокс, связанный с реальной интерпретацией изображений, получаемых с
помощью РЭМ, состоит в том, что это является как самой простой, так и
самой сложной частью всего процесса. Это очень просто, потому что
изображения знакомы нам, и при малых увеличениях мы легко узнаем
изображения, которые мы наблюдаем в стереоскопическом бинокулярном
микроскопе. Это трудно, в частности, если новая деталь проявляется при
высоком разрешении, так как необходимо четко разделять артефакты, которые
Предыдущая << 1 .. 93 94 95 96 97 98 < 99 > 100 101 102 103 104 105 .. 139 >> Следующая

Реклама

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed

Есть, чем поделиться? Отправьте
материал
нам
Авторские права © 2009 BooksShare.
Все права защищены.
Rambler's Top100

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed