Научная литература
booksshare.net -> Добавить материал -> Биология -> Гоулдстей Дж. -> "Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Том 1" -> 48

Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Том 1 - Гоулдстей Дж.

Гоулдстей Дж., Ньюбери Д., Эчлин П., Джой Д., Фиори Ч., Лифшин Э. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Том 1 — М.: Мир, 1984. — 348 c.
Скачать (прямая ссылка): rastovayaelektronnayamicroskopiya1984.djvu
Предыдущая << 1 .. 42 43 44 45 46 47 < 48 > 49 50 51 52 53 54 .. 139 >> Следующая

области интегрирования и просуммированным содержанием. Всего три числа'
вместо 20-40 чисел (местоположение каналов и их содержание), требуемых
для описания одного пика при многократном линейном подборе методом
наименьших квадратов.
Метод коэффициентов перекрытия был разработан первоначально в [224] для
разрешения перекрывающихся кривых на выходе пропорционального счетчика.
Принцип его действия за-'ключается в следующем. Сначала предположим, как
объяснялось ранее, что в нашем спектре проведена коррекция "а средний
уровень фона. Если у нас имеется i взаимно накладывающихся спектральных
пиков и NJ есть общее количество: импульсов, обусловленное вкладом всех
пиков в интересуемой области i, то мы можем записать систему совместных
уравнений вида
В этом уравнении Мр - количество импульсов в г-й области, обусловленное
измерением на чистом элементе г; kt и kj - относительные интенсивности от
элементов i, / и т. д. в нашем неизвестном образце; Njp - количество
импульсов в /-й области,
(8.19)
Практические методы рентгеновского анализа
127
Энергия, кэв
Рис. 8.13. Рассчитанные на мини-ЭВМ три спектральных пика (штриховые
линии) и их свертка (сплошные линии).
Жирными линиями отмечены соответствующие облястн (см объяснение в
тексте).
обусловленное измерением на чистом элементе \, и Сд - "коэффициент
перекрытия" или часть числа импульсов в i-й области, определяемая из
измерения на чистом элементе /. Величины ki, kj и т. д. представляет
собой относительные интенсивности k, требуемые в программе коррекции
данных методом трех поправок. Система совместных уравнений (8.19) может
быть решена для данной совокупности значений алгебраическими методами.
Следующий пример продемонстрирует простоту и эффективность этого метода.
Предположим, что у нас есть три взаимно влияющих друг на друга гауссовых
пика, отстоящих друг от друга н,а 125 эВ. Центры пиков расположены три
энергиях 5875, 6000 и 6125 эВ соответственно, и пики имеют
соответствующую ширину при регистрации их детекторов с разрешением 160 эВ
на линии Мп*а. Эти пики (штриховые линии) и их свертка (сплошная линия)
показаны на рис. 8.13. Жирными линиями отмечены области,, представляющие
интерес. Пусть центр интересуемой области для каждого пика расположен под
центром пика, и ее ширина составляет 100 эВ. Предположим, что при
измерении на каждом чистом элементе и на неизвестном материале получаем
такое количество импульсов в трех областях, которые приведены в;
128
Глава 8
Таблица 8.2. Содержание интересуемых областей, показанных на рис. 8.13
Количество импульсов от Диапазон энергий, эВ
5825-5925 5955-6055 6075-6175
Чистого элемента 1 17466 3 941 61
Чистого элемента 2 4 454 17 344 4 454
Чистого элемента 3 68 4 998 17 298
Неизвестного образца 6 598 6 704 9412
табл. 8.2. Используя дамнаые табл. 8.2, можем переписать систему (8.19) в
виде
(элемент 1) 6598 =
= Jfej ¦ 17 466+k2 ¦ 17 344 ¦ 0,257 -f k3 ¦ 17 298 ¦ 0,0039,
(элемент 2) 6704 =
= V 17 466 ¦ 0,226 -f - А, ¦ 17 344 -1 -&3-17 298 - 0,289, (8.20)
(элемент 3) 9412 =
= V 17 466 ¦ 0,0035+А, ¦ 17 344 ¦ 0,257-|-?у 17 298.
•Совместное решение этих уравнений дает А = 0,333, А = 0,167 и А = 0,5.
На практике взаимное влияние в спектре часто является значительно более
сложным, чем в предыдущем примере. Рентгеновские линии обычно состоят из
серий, и часто имеется не просто пик, который мы измеряем и на который
влияет другой интересующий нас пик, а другой член серии первого пика.
Более того, не всегда возможно получить чистые элементы или простые
эталоны, по которым можно определить коэффициенты перекрытия. К счастью,
метод может быть развит далее с целью преодоления этих трудностей [211,
225]. Описанный в [211] метод используется в программе FRAME С для
восстановления данных, полученных с помощью спектрометра с дисперсией по
энергии [144], которую мы кратко изложим здесь.
В основе метода FRAME С лежит расчет коэффициентов перекрытия, а не
измерение их. Преимущество расчета заключается в его гибкости, поскольку
ширину и положение каждой интересуемой области можно изменять без
необходимости повторных измерений. Наиболее важным является то, что
эталонов не требуется. Коэффициенты расчитываются путем формального
интегрирования функции Гаусса, которая модифицирована с тем, чтобы учесть
эффекты, обусловленные неполным ¦сбором заряда. Одна рентгеновская линия
(которую мы будем называть аналитической линией) от каждого элемента
сосредоточена в определенной области и используется в расчете по ме-
Практические методы рентгеновского анализа
129
номео канала -*•
Рис. 8.14. Два неразрешенных спектральных пика, демонстрирующих
перекрытие.
Перекрытие пика А в области пика В представлено заштрихованной площадью.
тоду трех поправок для определения состава образца. Вое линии других
серий данного элемента в любой последовательности рассматриваются для
того, чтобы определить, есть ли наложение линий с соответствующими
областями аналитических линий других интересуемых элементов.
Предыдущая << 1 .. 42 43 44 45 46 47 < 48 > 49 50 51 52 53 54 .. 139 >> Следующая

Реклама

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed

Есть, чем поделиться? Отправьте
материал
нам
Авторские права © 2009 BooksShare.
Все права защищены.
Rambler's Top100

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed