Научная литература
booksshare.net -> Добавить материал -> Биология -> Гоулдстей Дж. -> "Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Том 1" -> 38

Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Том 1 - Гоулдстей Дж.

Гоулдстей Дж., Ньюбери Д., Эчлин П., Джой Д., Фиори Ч., Лифшин Э. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Том 1 — М.: Мир, 1984. — 348 c.
Скачать (прямая ссылка): rastovayaelektronnayamicroskopiya1984.djvu
Предыдущая << 1 .. 32 33 34 35 36 37 < 38 > 39 40 41 42 43 44 .. 139 >> Следующая

12 0,233 0,061 0,396
Среднее 0,252 0,067 0,438
Обозначения
Ci - относительная массовая доля элемента в образце.
С(о - относительная массовая доля элемента в эталоне.
С. 1 - абсолютная массовая доля (концентрация) элемента
в микрообъеме анализируемого образца.
100
Глава 7
С (А) - абсолютная массовая доля (концентрация) элемента
в микрообъеме анализируемого эталона.
/в - интенсивность непрерывного излучения от образца.
/(В) - интенсивность непрерывного излучения от эталона.
Ib(D) - интенсивность непрерывного излучения от образца,
высушенного лиофильной сушкой.
1в(В) - интенсивность непрерывного излучения от держателя образца и
прибора.
Ib(F) - член, учитывающий непрерывное излучение от поддерживающей пленки.
Ib(FH) - интенсивность непрерывного излучения от поддерживающей плевки
плюс держатель образца.
/в(Я) - член, описывающий непрерывное излучение от держателя образца.
/в(Р) - интенсивность непрерывного излучения от образца
минус поддерживающая пленка.
/в (S) - член, описывающий непрерывное излучение от под-
держивающей пленки плюс образец.
Ib(W) - интенсивность излучения от замороженного в гидратированном
состоянии образца.
U - интенсивность характеристического излучения анализируемого элемента.
Ii(F) - интенсивность характеристического излучения от эле-
мента в держателе образца, которое дает вклад в сигнал от поддерживающей
пленки, обусловленный рассеянием электронов.
F(H) - интенсивность характеристического излучения от элемента в
держателе образца, который, возможно, дает вклад в непрерывное излучение
или в каналы регистрации непрерывного излучения.
F(S) - интенсивность характеристического излучения эле-
мента в держателе образца, в которой учитывается вклад в сигнал от
поддерживающей пленки плюс образец, обусловленный рассеянием электронов.
/(,•) - интенсивность характеристического излучения эле-
мента в чистом эталоне. кв - константа, учитывающая вклад в
непрерывное излу-
чение от держателя образца и прибора. kH - константа, учитывающая
вклад в непрерывное излучение или в каналы регистрации
непрерывного излу-
чения от держателя образца. к\ - константа, учитывающая фоновое
излучение в при-
боре.
/г - полный рентгеновский сигнал, входящий в детектор.
kiB - константа в методе Кобе.
Количественный рентгеновский микроанализ
101
Ni - число атомов элемента i в анализируемом микро-
объеме.
Z - атомный номер.
А - атомный вес.
Р/В - отношение п,ик/фон, (/,-1в)Цв-
kij - константа для элементов i и / в методе, использую-
щем отношение пик/фон для расчета относительной концентрации.
ki - константа для элемента i в методе, использующем
отношение пик/фон для расчета абсолютной концентрации [166].
Q - сечение ионизации.
Ео - энергия электронов в пучке.
Екр - критическая энергия возбуждения данной рентгенов-
ской линии.
Pi - факторы пропорциональности в методе, использую-
щем отношение элементов.
р - плотность образца.
t - толщина образца.
Gi - фактор поправки на непрерывное излучение ~Z2/A
для образца.
G(i) - фактор поправки на непрерывное излучение ~Z2(A
для эталона.
S - фактор усадки.
Y - фактор G-коррекции.
М - масса на единицу площади образца.
(М) - масса на единицу площади эталона.
Глава 8
ПРАКТИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ РЕНТГЕНОВСКОГО АНАЛИЗА
8.1. ОБЩИЕ ЗАМЕЧАНИЯ ОБ ОБРАБОТКЕ ДАННЫХ
В гл. 6 уже было показано, что в основе качественного анализа лежит
способность спектрометрической системы измерять энергии
характеристических линий и связывать эти энергии с наличием определенных
элементов. Этот процесс сравнительно прост, если: 1) спектрометрическая
система правильно откалибрована; 2) рабочие условия обеспечивают
достаточное количество фотонов рентгеновского излучения, так что данный
пик можно легко различить на соответствующем уровне фона, и
3) отсутствуют эффекты значительного наложения пиков.
Количественный анализ, с другой стороны, включает в себя:
1) точное измерение интенсивности спектральных линий, соответствующих
заранее выбранным элементам в образцах и в эталонах цри идентичных
условиях измерения; 2) расчет отношений интенсивностей и 3)
преобразование их в значения химической концентрации с помощью методов,
изложенных в гл. 7. Поскольку в настоящее время количественный анализ
можно выполнить с относительной точностью 1-5%, то, очевидно, необходимо
тщательно позаботиться о том, чтобы была обеспечена линейность
характеристики системы детектора рентгеновского излучения в широком
диапазоне скоростей счета и чтобы полезный сигнал можно было легко
выделить из фона. На практике обычно не требуется знание абсолютной
эффективности счета спектрометра, так как ее влияние исключается из-за
использования относительных интенсивностей. Необходимо проводить
подрегулировки для изменения эффективности спектрометра при измерении
скорости счета, следовательно, необходимо вводить поправки на мертвое
время для пропорциональных счетчиков и поправки н.а живое время для Si
(Li)-детекторов. Как и следовало ожидать, измерения фона по мере
Предыдущая << 1 .. 32 33 34 35 36 37 < 38 > 39 40 41 42 43 44 .. 139 >> Следующая

Реклама

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed

Есть, чем поделиться? Отправьте
материал
нам
Авторские права © 2009 BooksShare.
Все права защищены.
Rambler's Top100

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed