Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Том 1 - Гоулдстей Дж.
Скачать (прямая ссылка):
5. Гомогенные ткани
Толстый
6. Растворы со- Массивный
лей
7. Подложки, про- Массивный питанные
солями
8. Монокристал- Толстый/
9. Микрокапли Массивный
10. Тонкие Тонкий
пленки
11. Тонкие металлические слои
12. Cl-эпоксидиая смола
Чистые металлы, стекла, минералы известного состава, соли Альбумин или
желатина, агар - агар или смеси, соли
Органические соли, органометаллы Полиэфиры, ооли ангидридов, эпоксидная
смола
Ткани (почки и др.), соли
Водные растворы электролитов
Фильтровальная бумага/мембрана, соли
Органические и оргаиометалли-ческие соли
Капли объемом в пико- и нанолитры, соли
Раствор щелочных галоидов в этаноле и коллоиде
Металлы на гладких подложках
Смола, содержащая С1
Различные
Быстрое замораживание, лиофильная сушка, смеси обрабатываются как тонкие
срезы Прессование в таблетки или в стандартные держатели Растворенные
комплексы солей макро-циклического полиэфира в эпоксидной смоле,
заполимери-зованные Обработка гомогена-тов и солей как тканей Быстрое
замораживание для получения капель Капля раствора ооли помещается на
фильтрованную бумагу, быстро замораживается и подвергается лиофильной
сушке Измерение мельчайших кристаллов в оптическом микроскопе, покрытие
углеродом Нанесение капель на держатели, различные способы обеспечения
постоянства толщины пятна Поместить капли на покрытое углеродом покровное
стекло и испарять этанол Вакуумное напыление металла на подложку Как
обычно, для тонких образцов
') Данные из [208].
Количественный рентгеновский микроанализ
89
пени от способа приготовления образцов, а также от того, будет ли
получено хорошее отношение пик/фон для характеристических рентгеновских
линий. За способ приготовления образца отвечает непосредственно
экспериментатор, и хотя хорошие отношения пик/фон легко получают с
помощью спектрометра с дисперсией по длинам волн, это требование
реализовать не так легко при использовании спектрометра с дисперсией по
энергии, особенно для легких элементов. В других главах этой книги
рассматриваются различные вычислительные методы, которые могут
использоваться для решения проблем спектрального наложения и коррекции
фона, встретившихся при использовании спектрометров с дисперсией по
энергии. Следует напомнить, что такие программы обеспечивают точность
результатов не выше той, которую можно получить трудоемкими расчетами;
они лишь ускоряют получение результатов. Такое увеличение скорости
обработки данных означает, что можно получить больше данных, которые в
свою очередь можно подвергнуть строгому статистическому анализу и, таким
образом, повысить вероятность того, что отдельные серии количественных
данных правильно отражают элементные концентрации в биологическом
материале, на котором были выполнены измерения.
ПРИЛОЖЕНИЕ А. МЕТОД С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ НЕПРЕРЫВНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ
Схема расчета, основанного на методе с использованием непрерывного
излучения (разд. 7.7.6), предназначена для расчета относительных и
абсолютных массовых долей для элементов в тонких срезах биологического
материала. Предлагаемый расчет можно выполнить с использованием
небольшого настольного калькулятора. Система обозначений, используемых в
схеме расчета, приводится после этого приложения. В основе процедуры
лежат следующие предположения, касающиеся приготовления образца, прибора
и метода анализа:
а. Срезы, которые могут представлять собой замороженный в гидратированном
состоянии, высушенный в замороженном состоянии или залитый смолой
материал, имеют максимальную толщину 1,0 мкм. Для фиксации или
окрашивания не следует использовать тяжелые металлы.
б. Ток пучка, размер растра или пятна и время счета остаются постоянными
в течение серии экспериментов.
в. Прибор имеет исключительно низкую скорость загрязнения.
г. Предварительно выбранная область непрерывного или белого излучения
измеряется с помощью рентгеновского детектора с дисперсией по энергии, а
характеристические пики измеряются
90
Глава 7
с помощью детектора с дисперсией по длинам волн или по энергии.
д. Значения интенсивности (пика за вычетом фона) измеряются точно с
помощью соответствующих методов измерения пика за вычетом фона, техники
спектрального анализа и процедур коррекции фона (гл. 8).
Л.1. Измерение и коррекция изменяющегося побочного излучения фона от
прибора
Если держатели подложки и образца изготовлены из легких элементов, т. е.
Al, Be и С, то они будут давать лишь малый вклад в фоновое излучение.
Однако детали, окружающие образец, т. е. столик образца, камера образцов,
полюсные наконечники и т. д., могут дать значительный вклад в фон,
особенно если рентгеновский источник плохо коллимирован. Важной
особенностью метода с использованием непрерывного излучения является то,
что измерение массы образца производится по интенсивности счета
непрерывного излучения, взятого в выбранной области спектра, не
содержащей пиков элементов. Побочное характеристическое излучение может
дать вклад в эту выбранную область спектра; следовательно, необходимо
