Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Том 1 - Гоулдстей Дж.
Скачать (прямая ссылка):
- установка 265(1)
- широкоугольный сциннтилляцион-ный 127(1)
- электронов 124(1)
- эффективность 199(1)
Детекторная электроника 199(1) Диафрагма 240(1)
Динамическая фокусировка 116(1) Динамическое восстаиовленне заряда
215(1)
Диодное распыление 201(2)
с охлаждением 201 (2)
Дискриминатор импульсов по амплитуде 290(1)
Дифференциальное усиление 170(1) Дифференцирование сигнала 174(1)
Диэлектрическая пленка, покрытая углеродом 92(2)
Длина пробега электронов 41(1)
- пути поглощения 9, 45(2) Доверительная вероятность 147,
148(2)
Дрейф усилителя 280(1)
Жидкие образцы 272(2)
Загрязнения 71, 159, 160(2)
- борьба 160(2)
Заливка 284(2)
Замораживание - замещение 302(2)
- способ 290(2)
Заполнение тяжелыми металлами 256(2)
Идентификация пика 272(1) Изготовление реплик 239(2)
- срезов 305(2)
Измерение тока падающего пучка 15, 16(1)
- толщины пленок с помощью кварцевого кристалла 194, 213(2)
Импульсная оптическая обратная связь 215(1)
Инкапсуляция 288(2)
Интенсивность характеристического рентгеновского излучения 77(1)
Интерполяция линейная 103(2) Интерференционные эффекты 214(2) Иоганна
оптика 194(1)
Иоганссона оптика 193(1) Ионизационный потенциал 18(2) Ионная пушка
200(2)
Искажение изображения 111(1), 177(2)
- растра 116(1)
Итераций метод 28(2)
Калибровка по энергии 123(2) Калибровочные кривые 86, 150(2) Камера с
контролируемой средой 217(2)
Канайя и Окаяма длина пробега электронов 42(1)
Кастена первое приближение 6(2) Катодолюминесценция 94(1)
Качество изображения 152(1)
Клетки изолированные 271(2)
Кобе метод 73(2)
Контраст в режиме поглощенного тока 132, 148(1)
- зависящий от атомного номера 135(1)
- компонента, обусловленная количеством вылетающих частиц 143(1)
- компонента, обусловленная траек-торными эффектами 143(1)
- обращение 169(1)
- расширение диапазона 170(1)
с детектором Эверхарта - Торнли 124, 126, 144(1)
- с твердотельным детектором 129, 148(1)
- топографический 144(1)
- электронного каналирования 163(2)
- энергетическая компонента 143(1) Концентрация элементов 78(2) Коррекция
- мертвого времени 236(1), 140(2)
- на атомный номер 17-23(2)
побочный фон 90(2)
поглощение 8-17, 28, 38, 59,
72, 85(2)
поглощение, тонкие пленки
59(2)
- угла наклона 112(1)
344
Предметный указатель
Коэффициент вторичной электронной эмиссии 59(1), 182(2)
- газового усиления 197, 199(1)
- отражения 44-47(1)
- перекрытия 126-128, 130(2) Крамерса соотношение 73, 74, 79(2) Края
поглощения 222(1)
Кристалл LiF 194, 196(1)
- PbSt 196(1)
- PET 196(1)
- RAP 196(1)
Критерий x2 122(2)
-- перекрытия 282(1)
Критическая энергия ионизации
71(1)
Круг фокусировки 193-195(1)
Линейность 121 (2)
Лиофильная сушка 252, 295(2) Локализованные области с известной
физиологической активностью 239(2)
Магнитные материалы 162(2) Массивная мишень (эксперимент) 78(1)
Массовая доля во влажном состоянии 84(2)
Массовая толщина 79, 86(2)
Массовые доли 29, 80, 83(2)
- коэффициенты поглощения, легкие элементы 160(2)
- эффект, частицы 42(2)
Мертвый слон 113(2)
- кремния 222, 255(2)
Металлы 162(2)
Метод отношения пик/фон 54, 55, 74(2)
- ослабления пучка 85(2)
- подгонки пика 122(2)
- получения отношения элементов 77(2)
- с использованием непрерывного излучения 79 , 89(2)
- ZAF, второе приближение 34(2) Методы линейные 423(2)
- нанесения покрытий 177(2)
- нелинейные 132(2)
- подгонки с помощью ЭВМ 109(2)
- фильтрации 113, 114(2) МикроОзоление 316(2) Микроорганизмы 271(2)
Микрофонный эффект 232(1) Модуляция интенсивности 101(1) Мозли закон
73(1)
Монте-Карло метод моделирования 29(1)
Муаровые эффекты 111(1)
Наводка заземления 234(1)
Наклонное падение электронного пучка 38(2)
Накопление льда - масла 328(1) Наложение импульсов 223(1) Нанесение
покрытия 286(2) Неоптимальный режим работы микроскопа 218(2)
Неупругое рассеяние 25(1)
Обезвоживание 245, 283(2)
Область взаимодействия 28-41(1), 45, 48(2)
А-оболочка 69(1)
А-оболочка 69(1)
Обработка данных 102(2)
- сигнала 164(1)
Образцы массивные 269(2)
- биологические 72(2)
- шероховатые 41, 54(2) Ограничения, накладываемые электронной оптикой
157(1)
Оясе-электроны 92(1)
Оконтуривание по интенсивности 182(1)
Окрашивание образца 286(2) Определение фазовой диаграммы 167(2)
Органеллы 271(2)
Органические материалы 86(2)
матрица 79, 84(2)
Осаждения методы 281(2)
Основные указания для проведения качественного анализа с помощью
спектрометра с дисперсией по энергии 279(1)
Отбор образцов 222(2)
Отклоняющие катушки 99(1) Отношение пик/фон 217, 259, 294(1), 74, 75(2)
- сигнал/шум 224(2)
Отображение с "малыми потерями"
162(1), 181(2)
Отраженные электроны, глубина выхода 57(1)
зависимость от атомного номера 46(1)
- - состава объекта 46(1)
----------- энергии 47(1)
------------- угла наклона образца
48(1)
измерение 46(1)
коэффициент 45(1)
пространственное распределение 55(1)
- - распределение по энергиям 51(1)
Предметный указатель
345
угловое распределение 49(1)
фактор обратного рассеяния R
