Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Том 1 - Гоулдстей Дж.
Скачать (прямая ссылка):
9. Антошин М. К- и др. - Изв. АН СССР, сер. физич., 44,
1290 (1980).
10. Morlevat J. P. I. microsc. et spectrosc. electron., 6, 607 (1981).
11. Stocker H. J. et al. J. Etectrochem. Soc., 128, 746 (1981).
12. Гимельфарб Ф. А., Бочкарев Э. П., Мильвидский М. Г. -
Кристаллография, 26, 235 (1981).
13. Бочкарев Э. П. и др. - Поверхность, № 2, 115 (1982)..
14. Крюков Ф. Н., Голованов В. Н. В сб.: "Аппаратура и методы
рентгеновского анализа", вып. 27. - Л.: Машиностроение, 1982, с. 22.
15. Сахаров В. В. и др. - Изв. АН СССР, сер. неорг. материалы, 19, 26
(1983).
4. Применение в геологии
1. Moza А. К., Austin L. G., Johnson G. G. SEM/1979/1, SEM Inc., AMF
O'Hare, 111., p. 473.
2. Jeanrot P. J. microsc. et spectrosc. electron., 5, 99 (1980).
3. Schwander Id., Gloor F. X-Ray Spectrom., 9, 134 (1980).
4. Moza A. K., Strickler D. W., Austin L. G. SEM/1980/4, SEM Inc., AMF
O'Hare, 111., p. 91.
5. Kramers J. W" Rottenfusser B. A., ibid., p. 97.
6. Барсанов Г. П., Кудрявцева Г. П. В сб.: "Неоднородности минералов". -
М.: Наука, 1980, с. 39.
7. Henstra S., et al. SEM/1981/1, SEM Inc., AMF O'Hare, III., p. 439.
8. Gooley R. ibid., p. 493.
9. Гараннн В. К., Кудрявцева Г. П., Пермитова М. С. - Записки Всесоюзн.
минералог, об-ва, вып. 110, 613 (1981).
Литература
341
10. Афанасьев В. П., Гаранин В. К., Кудрявцева Г. П. - Геол. рудн.
месторождений, № 2, 12 (1981).
11. Гаранин В. К., Кудрявцева Г. П. "Применение электронно-зондовых
приборов для изучения минералогического вещества". - М.: Недра. 1983,
с. 216.
5. Применение в биологии
1. Scanning Electron Microscopy, 1978, part 2, ed. Om Johari, SEM Inc.,
AMF O'Hare, 111., 1978, p. 1152.
2. Davis D. Micron, 9, 175 (1978).
3. Quinton P. M. Micron, 9, 57 (1978).
4. Landis W. J. SEM/1979/2, SEM Inc., AMF O'Hare, 111., p. 555.
5. Chandlen J. A., ibid., p. 595.
6. Saubermann A. J., ibid., p. 607.
7. Panessa-Warren B. J., ibid., p. 691.
8. Galle P., Berry J. P., Lefevre R., ibid., p. 709.
9. Somlyo A. P. et al., ibid., p. 711.
10. Scanning Electron Microscopy, 1980, part 2, ed. R. P. Becker and Om
Johari, SEM Inc., AMF O'Hare, 111., 1980, p. 658.
11. Scanning Electron Microscopy, 1980, part 4, ed. Om Johari, SEM Inc.,
AMF O'Hare, 111., 1980, p. 312.
12. Scanning Electron Microscopy, 1981, part 2, ed. Om Johari, SEM Inc.,
AMF O'Hare, 111., 1981, p. 576.
13. Втюрин Б. В., Каем P. И.-Бюлл. эксп. биол. и мед., № 9, 117 (1982).
ПРЕДМЕТНЫЙ УКАЗАТЕЛЬ
Аберрация 13(1)
Абсолютное значение генерируемой интенсивности 6(2)
Абсолютная массовая доля 89, 94, 96(2)
Автоэмиссионная пушка 183(2) Агломерация 169(2)
Анализатор многоканальный 211, 247(1), 119(2)
- одноканальный 190, 201, 296(1) Анализ биологических объектов с помощью
спектрометра с дисперсией по энергии 284(1)
- импульсов по амплитуде 198, 201(1)
- качественный с помощью кри-сталл-дифракционного спектрометра 286(1)
- качественный с помощью спектрометра с дисперсией по энергии 282, 285(1)
- качественный рентгеновский 269(1)
- количественный, рабочие параметры 96(2)
- количественный рентгеновский 5, 6, 68, 96, 141 (2)
- легких элементов 154, 161(2)
- следов элементов 149(2) Аналитическая чувствительность 148,
149(2)
Аналитический электронный микроскоп 57(1)
Аналого-цифровой преобразователь 247(1)
Артефакты 215, 254, 280 (1), 70, 196, 205, 206, 260(2)
Атомный номер 135, 136(1), 185(2)
Бериллиевое окно 255(1), 113(2) бериллиевые поверхности 86(2)
- сетки 91 (2)
Бете закон торможения 27(1)
Бете формула 41(1)
Брэгга закон 287(1)
Величина потерь 204, 221, 256, 272, 281, 289(1)
Вещество для напыления 190, 193(2) Взаимное влияние при исследовании
материалов в рентгеновском микроанализе 284(1)
- в рентгеновском микроанализе биологических объектов 283(1)
Влажные материалы 175(2) Внутренний эталон 95(2)
Волокна 169, 271(2)
Вскрытие внутренних поверхностей 231(2)
Вторичные электроны 58-66(1)
глубина выхода 59(1)
длина пробега 59(1)
- - зависимость от наклона объектов 64(1)
---------- состава объекта 63(1)
------------ энергии 64(1)
обусловленные неупругим рассеянием 57(1)
созданные отраженными электронами 61 (1)
- первичным пучком 61(1)
Высоковакуумное испарение 186(2)
Газовый пропорциональный счетчик 196(1)
Галогены 167(2)
Гауссовский зонд, диаметр 13, 15,
17(1)
Геометрическая эффективность сбора 265(1)
Геометрические эффекты, компенсация 51 (2)
Гиперболический метод 29, 34(2) Гистохимические методы 280(2) Глины
175(2)
Глубина выхода 57, 59, 160(1)
- генерации рентгеновского излучения 80(1)
- пробега, экстраполированная 44(1)
- фокуса 109(1)
Предметный указатель
343
Гомогенности степень 147(2) Гомогенность 146, 167(2)
Градиент концентрации 149(2)
Детектор
- артефакты 151(2)
- ионизационный 147(2)
- катодолюминесцентного излучения 133(1)
- комбинации 184(1)
- окно 109(2)
- окружающая среда 232(1)
- передаточная характеристика 106(2)
- проверка 265(1)
- разрешение 210(1)
- с преобразованием 128(1)
- типа сцинтиллятор-фотоумножитель 124(1)
