Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Том 1 - Гоулдстей Дж.
Скачать (прямая ссылка):
33. Chafouri S. N" Fitch R. K, Ball P. C. Vacuum, 31, 33 (1981).
34. Караганов Я. Л. и др. Архив анатомии, № 8, 5 (1981).
35. Свипкина Т. М. и др. В сб.: "Немышечные двигательные системы". - М.:
Наука, 1981, стр. 76.
36. Becke A, Porter R, Reed N. D, J. Microsc. (Gr. Britain), 125, Pt. 2,
193
(1982).
37. Campbell G. J, Roach M. R. Scanning, 5, 137 (1983).
38. Рикберг А. Б, Кацен А. Д, Чумяк С. М. - Препринт ин-та физики АН УССР
(Киев), № 17, 1983.
Литература
339
Литература по рентгеновскому микроанализу
1. Приборостроение, электронная оптика, методы
1. Lodding В., Reimer L. Scanning, 1, 225 (1978).
2. Geller J. D. SEM/1978/1, SEM Inc., AMF O'Hare, 111., p. 201.
3. Barbi N. C" Giles M. A., Skinner D. P., ibid., p. 193.
4. Deinwiebel I., ibid., p. 807.
5. Bolon R. ?., ibid., p. 813.
6. Reuter W. et al. J. Phys., Dll, 2633 (1978).
7. Newbury D. E. SEM/1979/2, SEM Inc., AMF O'Hare, 111., p. 1.
8. Белькинд Г. JI. В сб.: "Аппаратура и методы рентгеновского анализа",
вып. 22. - Л.: Машиностроение, 1979, с. 105.
9. Гимельфарб Ф. А., Бернер А. И., Ухорская Т. А. - Ж. аналит. химии, 34,
10 (1979).
10. Гимельфарб Ф. А., Бернер А. И. - Ж. аналит. химии, 34, 42 (1979).
11. Васичев Б. Н. - Оптико-мех. пром., № 11, 50 (1979).
12. Козленков А. И. - Оптика и спектроскопия, 46, 579 (1979).
13. Козленков А. И., Белов Ю. И., Богданов В. Г. - Письма в ЖТФ, 5,
363
(1979).
14. Beswick J. М. Scanning, 2, 171 (1979).
15. Козленков А. И. - Оптика и спектроскопия, 48, 390 (1980).
16. Козленков А. И. и др. - Зав. лаб., 46, 313 (1980).
17. Гнманов В. П. и др. - Приборы и техн. экспер., № 3, 217 (1980).
18. Гиманов В. П. и др. В сб.: "Аппаратура и методы рентгеновского
анализа", вып. 24. - Л.: Машиностроение, 1980, с. 174.
19. Adesida I., Shimizu R., Everhart Т. E. I. Appl. Phys., 51,
5962 (1980).
20. Statham P. J., Jones M. Scanning, 3, 168 (1980).
21. Bank H. L., Forst A. J., Lam Ch. F. Ultramicroscopy, 5, 153
(1980).
22. Васичев Б. H. и др. - Изв. АН СССР, сер. фнзич., 44, 1275
(1980).
23. Conjeaun М. J. microsc. et spectrosc. electron., 5, 147 (1980).
24. Bishop H. E. J. microsc. et spectrosc. electron., 5, 341 (1980).
25. Henoc J., Maurice F. J. microsc. et spectrosc. electron., 5, 347
(1980).
26. Linders P. W. J., Stols A. L. H., Stadhouders A. M. Micron, 12,
1 (1981).
27. Chaari X., Landron C. J. microsc. et spectrosc. electron., 6,
545 (1981).
28. Landron C. Vacuum, 31,291 (1981).
29. Love G., Scott V. D. Scanning, 4, 111 (1981).
30. Гайдукова И. С., Ильина О. Ю., Ярмусевич Я- С. - Изв. АН СССР, сер.
физич., 44, 1294 (1980).
31. Sandborg А. О., Merkle А. В. SEM/1981/1, SEM Inc., AMF O'Hare, 111.,
p. 63.
32. Small J. A., ibid., p. 447.
33. Johnson D. L. et al., ibid., p. 469.
34. Myklebust R. L., Small J. A., Newbury D. E., ibid., p. 477.
35. Daguet C., Henoc J. I. microsc. et spectrosc. electron., 6, 77
(1981).
36. Гимельфарб Ф. А. и др. - Зав. лаб., 47, № 9, 48 (1981).
37. Дедегкаев Т. Т., Рыбников А. И., Крюков И. И. В сб.: "Аппаратура
и
методы рентгеновского анализа", вып. 27. - Л.: Машиностроение, 1982,
с. 10.
38. Гимельфарб Ф. А., Бернер А. И., Ухорская Т. А. - Ж. аналит. химии,
37, 338 (1982).
39. Васичев Б. Н., Рыбаков Ю. Л. Оптико-мех. пром., № 5, 15 (1982).
2. Обработка информации и работа с мини-ЭВМ
1. Legge G. J. F., Hammond I., J. Microsc. (Gr. Britain), 117, Pt. 2,
201 (1979).
340
Литература
2. Scott W. R., Chatfield E. J., SEM/1979/2, SEM Inc., AMF O'Hare, 111.,
p. 53.
3. Hanna R. B., Karcich K- J-, Johnson D. L., SEM/1980/1, SEM Inc., AMF
O'Hare, 111., p. 323.
4. Сидоров А. Ф., Рудашевскин H. С. В сб.: "Аппаратура и методы
рентгеновского анализа", вып. 23. - Л.: Машиностроение, 1980, с. 189.
5. Воронихин В. А., Целин А. И., там же, с. 204.
6. Лаврентьев Ю. Г. и др., там же, с. 217.
7. Лукьянченко Е. М. и др., там же, с. 225.
8. Тронева Н. В., Падчин Ю. Г., там же, с. 232.
9. Ходан А. Н., Вечканов В. Н., там же, с. 242.
10. Лукьянченко Е. М. и др. В сб.: "Аппаратура и методы рентгеновского
анализа", вып. 24. - Л.: Машиностроение, 1980, с. 189.
11. Вайншенкер И. А. и др. В сб.: "Аппаратура и методы рентгеновского
анализа", вып. 25. - Л.: Машиностроение, 1981, с. 21.
12. Skarnulis A. J. J. Microsc. (Gr. Britain), 127, Pt. 1, 39 (1982).
3. Применение в материаловедении
1. Raymond R., Gooley R. SEM/1978/1, SEM Inc., AA4F O'Hare,
111., p. 93.
2. Finkelman R. B., ibid., p. 143.
3. Hayes T. L., Pawley J. B., Fisher G. L., ibid., p. 239.
4. Гимсльфарб Ф. А., Шварцман С. Л. "Современные методы контроля
композиционных материалов".-М.: Металлургия, 1979, с. 248.
5. Mogami К- et al. SEM/1979/1, SEM Inc., AMF O'Hare, 111., p. 433.
6. Wieser P., Wurster R. Scanning, 2, 29 (1979).
7. Вишневский А. С., Делсвн В. Г., Никитюк А. Ф. В сб.: "Аппаратура и
методы рентгеновского анализа", вып. 24. - Л.: Машиностроение, 1980, с.
115.
8. Venables J. A. et al. I. Microsc. (Gr. Britain), 118, Pt. 3,
351 (1980).
