Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Том 1 - Гоулдстей Дж.
Скачать (прямая ссылка):
14. Le Gressus С., Massignon D., Remond R. SEM/1980/4, SEM Inc., AMF
O'Hare, 111., p. 85.
15. Сергеев E. М. и др. - Инженерная геология, № 4, 92 (1980).
16. Sergeyev Е. М. et al. Scanning, 3, 262 (1980).
17. Sokolov V. N., Osipov V. I., Tolkachev M. D. J. Microsc. (Gr.
Britain), 120,
Pt. 3, 363 (1980).
18. Pesheck P. S., Seriven L. E" Davis H. T. SEM/1981/1, SEM Inc., AMF
O'Hare, III., p. 515.
19. Tovey N. K., Sokolov V. N., ibid, p. 537.
20. Lewin S. Z., Charola A. E., ibid., p. 555.
21. Lewin S. Z., Charola A. E., ibid., p. 563.
22. O'Brien N. R., ibid., p. 569.
23. Wise W. S. et al., ibid., p. 577.
24. Durham W. B., ibid., p. 585.
25. Gantt D. G., Cring F. D., ibid., p. 595.
26. Peters Th. A., ibid., p. 603.
27. Nuhfer E. B. et al., ibid., p. 625.
28. Wise W. S., Pierce D., ibid., p. 633.
29. Gibbons D. L. et al., ibid., p. 641.
30. Calvo F. A. et al. Scanning, 5, 32 (1983).
5. Применение в биологии
1. Scanning Electron Microscopy, 1978, part 2, ed. Om Johari, SEM Inc.,
AMF O'Hare, III., 1978, p. 1152.
2. Roath S. et al. Nature, 273, No. 5657, 15 (1978).
3. Jones D. Micron, 9, 95 (1978).
4. Brocker W., Pfefferkorn G. SEM/I979/2, SEM Inc., AMF O'Hare, 111., p.
125.
5. Peters K. R-, ibid., p. 133.
6. Humphreys W. J., Henk W. G., Chandler D. B., ibid., p. 345.
7. Boyde A., Jones S. J., ibid., p. 394.
8. Becker R. P., Sogard М., ibid., p. 835.
9. Draenert Y., Draenert K. Scanning, 2, 57 (1979).
10. Ровенский Ю. А. "Растровая электронная микроскопия нормальных и
опухолевых клеток". - М.: Медицина, 1979, с. 154.
11. "Biomedical Research Applications of Scanning Electron Microscopy",
ed. J. M. Hodges and R. F. Hallowes, Academic Press, London - New York,
v. 1, 1979, p. 363.
12. "Biomedical Research Applications of Scanning Electron Microscopy",
ed. R. F. Hallowes and" J. M. Hodges, v. 2, Academic Press, London - New
York, 1980, p. 316.
13. Мишустина И. E. и др. - Изв. АН СССР, сер. биолог., № 3, 395 (1980).
14. Ogura К-, Laudate A. SEM/1980/1, SEM Inc., AMF O'Hare, 111., p. 233.
15. Pawley J. B. et al. Scanning, 3, 219 (1980).
16. Collins V. P., Brunk U. T. Scanning, 3, 153 (1980).
17. Jablonski W., Lytton D. G. Scanning, 3, 288 (1980).
18. Scanning Electron Microscopy, 1980, part 2, ed. R. P. Becker and Om
Johari, SEM Inc., AMF O'Hare, 111., 1980, p. 658.
19. Scanning Electron Microscopy, 1980, part 3, ed. Om Johari and R. P.
Becker, SEM Inc., AMF O'Hare, 111., p. 670.
20. Scanning Electron Microscopy,' 1980, part 4, ed. Om Johari, SEM Inc.,
AMF O'Hare, 111., p. 312.
338
Литература
21. Echlin P. SEM/1981/1, SEM Inc., AMF O'Hare, 111., p. 1.
22. Raymond R., Davies Th. D., ibid., p. 651.
23. Scanning Electron Microscopy, 1981, part 2, ed. Ora Johari, SEM Inc.,
AMF O'Hare, 111., 1981, p. 576.
24. Scanning Electron Microscopy, 1981, part 3, ed. Om Johari, SEM Inc.,
AMF O'Hare, 111., 1981, p. 500.
25. Ровенский Ю. А. и др. - Экспериментальная онкология, 3, № 4, 30
(1981).
6. Подготовка образцов
1. Echlin P. SEM/1978/1, SEM Inc., AMF O'Hare, 111., p. 109.
2. de Harven E., Lampen N., Pla D., ibid., p. 167.
3. Tovey N. K-, Eyles N., Turner R., ibid., p. 393.
4. Greer R. T" Vale B. H" Knoll R. L" ibid, p. 633.
5. Scanning Electron Microscopy, 1978, part 2, ed. Om Johari, SEM Inc,
AMF O'Hare, 111, p. 1152.
6. Murakami T. Scanning, 1, 127 (1978).
7. Shalton P. F, Mowezko W. E. Scanning, 1, 166 (1978).
8. Ровенский Ю. A. - Цитология 20, № 3, 365 (1978).
9. Boyde A, Maconnachie E. Scanning, 2, 149 (1979).
10. Moncur M. W. Scanning, 2, 175 (1979).
11. Rosenberg W. Scanning, 2, 178 (1979).
12. Zipp R. D. SEM/1979/1, SEM Inc, AMF O'Hare, 111, p. 355.
13. Schiff P. F, Gennaro J. F. Scanning, 2, 135 (1979).
14. Gantt D. G. SEM/1979/2, SEM Inc, AMF O'Hare, 111, p. 491.
15. Geller J. D" Voshioka T, Hurd D. A, ibid., p. 355.
16. Караганов Я. Л. и др. - Архив анатомии, № 6, 111 (1979).
17. Караганов Я. Л, Гусев С. А, Миронов В. А. - Архив анатомии, № 6,
90
(1980).
18. Gunji Т, Wakita М, Kobayashi S. Scanning, 3, 227 (1980).
19. Broers A. N" Spiller E. SEM/1980/1, SEM Inc, AMF O'Hare, III, p.
201.
20. Ross R. C, Blanchard D. B. Scanning, 3, 300 (1980).
21. Pohl M, Burchard W. G. Scanning, 3, 251 (1980). '
22. Hollweg H. G, Buss H. Scanning, 3, 3 (1980).
23. Reimer L, Tollkamp C. Scanning, 3, 35 (1980).
24. Scanning Electron Microscopy, 1980, part 2, ed. R. P. Becker and Om
Johari, SEM Inc, AMF O'Hare, 111, 1980, p. 658.
25. Scanning Electron Microscopy, 1981, part 2, ed. Om Johari, SEM Inc,
AMF O'Hare, 111, 1981, p. 576.
26. Scanning Electron Microscopy, 1981, part 3, ed. Om Johari, SEM Inc,
AMF
O'Hare, 111, 1981, p. 500.
27. Vesely P. Scanning, 4, 3 (1981).
28. Rosowski J. K- et al. Scanning, 4, 181 (1981).
29. Campbell G. J, Roach R. Scanning, 4, 188 (1981).
30. Evans A. C, Franks J. Scanning, 4, 169 (1981).
31. Echlin P. SEM/1980/1, SEM Inc, AMF O'Hare, 111, p. 79.
32. Dahlberg E. P, Zipp R. D, ibid, p. 423.
