Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Том 1 - Гоулдстей Дж.
Скачать (прямая ссылка):
физич., 46, 2384 (1982).
98. Дицман С. А. и др. - Изв. АН СССР, сер. физич., 46, 2388 (1982).
99. Ikuta Т. Appl. Phys. Lett., 42, 533 (1983).
100. Campbell E. R" Reisner J. H" Chung К- Т. I. Appl. Phys., 54, 1133
(1983).
101. Олейник А. С., Орловский P. М., Потахин В. В. ¦-Изв. АН СССР, сер.
физич., 47, 1063 (1983).
102. Крапухин В. В. и др. - Изв. АН СССР, сер. физич., 47, 1070 (1983).
103. Веприк В. Г. и др. - Изв. АН СССР, сер. физич., 47, 1073 (1983).
104. Смирнов Ю. С., Васичев Б. Н" Камунин А. А. - Изв. АН СССР, сер.
физич., 47, 1078 (1983).
105. Стоянов П. А. и др. - Изв. АН СССР, сер. физич., 47, 1100 (1983).
2. Обработка изображения, работа с мини-ЭВМ
1. Vicario Е., Escudie В., Hellion A. I. microsc. et spectrosc.
electron., 4, 341
(1979).
2. Lebiedzik J. et al. SEM/1979/2, SEM Inc., AMF O'Hare, 111., p.
61.
3. Dixon R. N., Taylor C. J., ibid., p. 361.
4. Lebiedzik J. Scanning, 2, 230 (1979).
5. Васичев Б. H. - Оптико-мех. пром., № 7, 49 (1980).
6. Кузьмин В. А., Бочко Р. А. - Изв. АН СССР, сер. фнзич., 44,
2154
(1980).
7. Jones A. J., Unitt В. М. SEM/1980/1, SEM Inc., AMF O'Hare, III., p.
113.
8. Lee R. J., Kelly J. F" ibid., p. 303.
9. Kelly J. F., Lee R. J., Lentz S., ibid., p. 311.
10. Jones A. V. I. microsc. et spectrosc. electron.,, 5, 595 (1980).
11. Сасов А. Ю., Спивак Г. В., Pay Э. И.--Радиотехника и электроника,
26,
652 (1981).
12. Jeulin D. J. microsc. et spectrosc. electron., 7, 101 (1982).
13. Sasov A. Yu., Sokolov V. N., Rau E. I. SEM/1982/1, SEM Inc., AMF
O'Hare, III., p. 17.
14. Sasov A. Yu., Osipov V. I., Sokolov V. N. In "Proc. 10th Internat.
Cong. Electron Microscopy", Hamburg, BRD, 1982, p. 537.
15. Соколов В. Н., Дементьева О. В., Сасов А. Ю. - Поверхность, № 11, 111
(1982).
16. Artz В. Е. Scanning, 5, 129 (1983).
17. Дайн Б. Н. и др. -Изв. АН СССР, сер. физич., 47, 1103 (1983).
336
Литература
3. Применение в материаловедении
1. Mah М., Boatman Е. S. SEM/1978/1, SEM Inc., AMF O'Hare, 111., p. 85.
2. Bishop K. et al., ibid., p. 207.
3. Hayes T. L., Tobias C. A., Yang Т. C., ibid., p. 233.
4. Whalley W. B" ibid., p. 353.
5. Grant P. R., White S. H., ibid., p. 789.
6. Bull P. A., ibid., p. 821.
7. Ki'insley D., Tovey N. K-, ibid., p. 887.
8. Ihrig H" Klerk M. Appl. Phys. Lett., 35, 307 (1979).
9. Datta S., Boswarva I. М., Holt D. B. Phys. and Chem. Solids, 40, 567
(1979).
10. Schmidt P. F., Grewe H. G., Pfefferkorn G. Scanning, 1, 174 (1978).
11. Степанов Г. В. и др. - Изв. АН СССР, сер. физич., 43, 1865
(1979).
12. Osterlund R., Vingsbo О. Ultramicroscopy, 4, 155 (1979).
13. Morin P. et al. Scanning, 2, 217 (1979).
14. Лукьянов A. E. и др. - Изв. АН СССР, сер. физич., 44, 1285
(1980).
15. Бороздин В. К-, Лукьянов А. Е., Бутылкина Н. А. - Изв. АН СССР,
сер.
физич., 44, 1308 (1980).
16. Tovey N. К-, Krinsley D. Н. J. Microsc. (Gr. Britain),
120, Pt. 3, 279
(1980).
17. Roberts S. H., Steeds J. W. Scanning, 3, 165 (1980).
18. Акчурин М. Ш., Галстян В. Г. - Изв. АН СССР, сер. физич., 44, 2134
(1980).
19. Галстян В. Г. и др. - Изв. АН СССР, сер. физич., 44, 1235
(1980).
20. Fourie J. Т. SEM/1981/I, SEM Inc., AMF O'Hare, 111., p. 127.
21. Uchikawa Y., Ikeda S., ibid., p. 209.
22. Sprunt E. S., ibid., p. 525.
23. Schmidt R. F., Grewe H. G., ibid., p. 367.
24. Davidson D. L" ibid., p. 403.
25. Hall M. G" ibid., p. 409.
26. Akhter P., Venables J. A. Surface Sci., 103, 301 (1981).
27. Glaeser W. A. Wear, 73, 371 (1981).
28. Meyer К. P-, Bluintritt H., Szczesniak L. Ultramicroscopy, 6,
67 (1981).
29. Брук А. С. и др. - Физика и техн. полупроводн., 16, 1510 (1982).
30. Брук А. С. и др. - Поверхность, № 10, 107 (1982).
31. Ballesteros С., Llopis J., Piqueras J. Solid State Cotnmun., 43, 739
(1982).
32. Степанов Г. В. и др. - Изв. АН СССР, сер. физич., 46, 2399 (1982).
33. Бузынин А. Н. и др. - Изв. АН СССР, сер. физич., 47, 1136 (1983).
34. Вдовин В. И., Говорков А. В. - Изв. АН СССР, сер. физич., 47, 1205
(1983).
35. Bast (j., Haase G., Zorgiebel F. Scanning, 5, 84 (1983).
36 Брук А. С., Говорков А. В. - Изв. АН СССР, сер. физич., 47,
1202
(1983).
37. Комолова Л. Ф. и др. - Изв. АН СССР, неорг. материалы, 19, 1802
(1983).
4. Применение в геологии
1. Mehta A. et al. SEM/i978/l, SEM Inc., AMF O'Hare, 111., p. 171.
2. Burns V. М., Burns R. G., ibid., p. 245.
3. Alexandersson E. Т., ibid., p. 500.
4. Harris.L. A., Yust C. S., ibid., p. 537.
5. Greer R. T" ibid., p. 621.
6. Rebagay Т. V., Mori S., ibid., p. 663.
7. Zewin S. Z" Charola A. E., ibid., p. 695.
8. Rebagay Т. V., Shou J. K., ibid., p. 669.
9. Osipov V. I., Sokolov V. N. Bull, of the I.A.E.G., No. 17, 91 (1978).
Литература
337
10. Green D. A., DeNee P. B., Frederickson R. G. SEM/1979/1, SEM Inc.,
AMF O'Hare, 111., p. 495.
11. Сергеев E. М. и др. - Инженерная геология, № 2, 48 (1979).
12. Sergeyev Е. М. et al. J. Microsc. (Gr. Britain), 120, Pt. 3,
237 (1980).
13. Соколов В. H. и др. - Геология и геофизика, № 7, 20 (1980).