Научная литература
booksshare.net -> Добавить материал -> Биология -> Гоулдстей Дж. -> "Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Том 1" -> 133

Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Том 1 - Гоулдстей Дж.

Гоулдстей Дж., Ньюбери Д., Эчлин П., Джой Д., Фиори Ч., Лифшин Э. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Том 1 — М.: Мир, 1984. — 348 c.
Скачать (прямая ссылка): rastovayaelektronnayamicroskopiya1984.djvu
Предыдущая << 1 .. 127 128 129 130 131 132 < 133 > 134 135 136 137 138 .. 139 >> Следующая

физич., 46, 2384 (1982).
98. Дицман С. А. и др. - Изв. АН СССР, сер. физич., 46, 2388 (1982).
99. Ikuta Т. Appl. Phys. Lett., 42, 533 (1983).
100. Campbell E. R" Reisner J. H" Chung К- Т. I. Appl. Phys., 54, 1133
(1983).
101. Олейник А. С., Орловский P. М., Потахин В. В. ¦-Изв. АН СССР, сер.
физич., 47, 1063 (1983).
102. Крапухин В. В. и др. - Изв. АН СССР, сер. физич., 47, 1070 (1983).
103. Веприк В. Г. и др. - Изв. АН СССР, сер. физич., 47, 1073 (1983).
104. Смирнов Ю. С., Васичев Б. Н" Камунин А. А. - Изв. АН СССР, сер.
физич., 47, 1078 (1983).
105. Стоянов П. А. и др. - Изв. АН СССР, сер. физич., 47, 1100 (1983).
2. Обработка изображения, работа с мини-ЭВМ
1. Vicario Е., Escudie В., Hellion A. I. microsc. et spectrosc.
electron., 4, 341
(1979).
2. Lebiedzik J. et al. SEM/1979/2, SEM Inc., AMF O'Hare, 111., p.
61.
3. Dixon R. N., Taylor C. J., ibid., p. 361.
4. Lebiedzik J. Scanning, 2, 230 (1979).
5. Васичев Б. H. - Оптико-мех. пром., № 7, 49 (1980).
6. Кузьмин В. А., Бочко Р. А. - Изв. АН СССР, сер. фнзич., 44,
2154
(1980).
7. Jones A. J., Unitt В. М. SEM/1980/1, SEM Inc., AMF O'Hare, III., p.
113.
8. Lee R. J., Kelly J. F" ibid., p. 303.
9. Kelly J. F., Lee R. J., Lentz S., ibid., p. 311.
10. Jones A. V. I. microsc. et spectrosc. electron.,, 5, 595 (1980).
11. Сасов А. Ю., Спивак Г. В., Pay Э. И.--Радиотехника и электроника,
26,
652 (1981).
12. Jeulin D. J. microsc. et spectrosc. electron., 7, 101 (1982).
13. Sasov A. Yu., Sokolov V. N., Rau E. I. SEM/1982/1, SEM Inc., AMF
O'Hare, III., p. 17.
14. Sasov A. Yu., Osipov V. I., Sokolov V. N. In "Proc. 10th Internat.
Cong. Electron Microscopy", Hamburg, BRD, 1982, p. 537.
15. Соколов В. Н., Дементьева О. В., Сасов А. Ю. - Поверхность, № 11, 111
(1982).
16. Artz В. Е. Scanning, 5, 129 (1983).
17. Дайн Б. Н. и др. -Изв. АН СССР, сер. физич., 47, 1103 (1983).
336
Литература
3. Применение в материаловедении
1. Mah М., Boatman Е. S. SEM/1978/1, SEM Inc., AMF O'Hare, 111., p. 85.
2. Bishop K. et al., ibid., p. 207.
3. Hayes T. L., Tobias C. A., Yang Т. C., ibid., p. 233.
4. Whalley W. B" ibid., p. 353.
5. Grant P. R., White S. H., ibid., p. 789.
6. Bull P. A., ibid., p. 821.
7. Ki'insley D., Tovey N. K-, ibid., p. 887.
8. Ihrig H" Klerk M. Appl. Phys. Lett., 35, 307 (1979).
9. Datta S., Boswarva I. М., Holt D. B. Phys. and Chem. Solids, 40, 567
(1979).
10. Schmidt P. F., Grewe H. G., Pfefferkorn G. Scanning, 1, 174 (1978).
11. Степанов Г. В. и др. - Изв. АН СССР, сер. физич., 43, 1865
(1979).
12. Osterlund R., Vingsbo О. Ultramicroscopy, 4, 155 (1979).
13. Morin P. et al. Scanning, 2, 217 (1979).
14. Лукьянов A. E. и др. - Изв. АН СССР, сер. физич., 44, 1285
(1980).
15. Бороздин В. К-, Лукьянов А. Е., Бутылкина Н. А. - Изв. АН СССР,
сер.
физич., 44, 1308 (1980).
16. Tovey N. К-, Krinsley D. Н. J. Microsc. (Gr. Britain),
120, Pt. 3, 279
(1980).
17. Roberts S. H., Steeds J. W. Scanning, 3, 165 (1980).
18. Акчурин М. Ш., Галстян В. Г. - Изв. АН СССР, сер. физич., 44, 2134
(1980).
19. Галстян В. Г. и др. - Изв. АН СССР, сер. физич., 44, 1235
(1980).
20. Fourie J. Т. SEM/1981/I, SEM Inc., AMF O'Hare, 111., p. 127.
21. Uchikawa Y., Ikeda S., ibid., p. 209.
22. Sprunt E. S., ibid., p. 525.
23. Schmidt R. F., Grewe H. G., ibid., p. 367.
24. Davidson D. L" ibid., p. 403.
25. Hall M. G" ibid., p. 409.
26. Akhter P., Venables J. A. Surface Sci., 103, 301 (1981).
27. Glaeser W. A. Wear, 73, 371 (1981).
28. Meyer К. P-, Bluintritt H., Szczesniak L. Ultramicroscopy, 6,
67 (1981).
29. Брук А. С. и др. - Физика и техн. полупроводн., 16, 1510 (1982).
30. Брук А. С. и др. - Поверхность, № 10, 107 (1982).
31. Ballesteros С., Llopis J., Piqueras J. Solid State Cotnmun., 43, 739
(1982).
32. Степанов Г. В. и др. - Изв. АН СССР, сер. физич., 46, 2399 (1982).
33. Бузынин А. Н. и др. - Изв. АН СССР, сер. физич., 47, 1136 (1983).
34. Вдовин В. И., Говорков А. В. - Изв. АН СССР, сер. физич., 47, 1205
(1983).
35. Bast (j., Haase G., Zorgiebel F. Scanning, 5, 84 (1983).
36 Брук А. С., Говорков А. В. - Изв. АН СССР, сер. физич., 47,
1202
(1983).
37. Комолова Л. Ф. и др. - Изв. АН СССР, неорг. материалы, 19, 1802
(1983).
4. Применение в геологии
1. Mehta A. et al. SEM/i978/l, SEM Inc., AMF O'Hare, 111., p. 171.
2. Burns V. М., Burns R. G., ibid., p. 245.
3. Alexandersson E. Т., ibid., p. 500.
4. Harris.L. A., Yust C. S., ibid., p. 537.
5. Greer R. T" ibid., p. 621.
6. Rebagay Т. V., Mori S., ibid., p. 663.
7. Zewin S. Z" Charola A. E., ibid., p. 695.
8. Rebagay Т. V., Shou J. K., ibid., p. 669.
9. Osipov V. I., Sokolov V. N. Bull, of the I.A.E.G., No. 17, 91 (1978).
Литература
337
10. Green D. A., DeNee P. B., Frederickson R. G. SEM/1979/1, SEM Inc.,
AMF O'Hare, 111., p. 495.
11. Сергеев E. М. и др. - Инженерная геология, № 2, 48 (1979).
12. Sergeyev Е. М. et al. J. Microsc. (Gr. Britain), 120, Pt. 3,
237 (1980).
13. Соколов В. H. и др. - Геология и геофизика, № 7, 20 (1980).
Предыдущая << 1 .. 127 128 129 130 131 132 < 133 > 134 135 136 137 138 .. 139 >> Следующая

Реклама

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed

Есть, чем поделиться? Отправьте
материал
нам
Авторские права © 2009 BooksShare.
Все права защищены.
Rambler's Top100

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed