Научная литература
booksshare.net -> Добавить материал -> Биология -> Гоулдстей Дж. -> "Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Том 1" -> 127

Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Том 1 - Гоулдстей Дж.

Гоулдстей Дж., Ньюбери Д., Эчлин П., Джой Д., Фиори Ч., Лифшин Э. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Том 1 — М.: Мир, 1984. — 348 c.
Скачать (прямая ссылка): rastovayaelektronnayamicroskopiya1984.djvu
Предыдущая << 1 .. 121 122 123 124 125 126 < 127 > 128 129 130 131 132 133 .. 139 >> Следующая

240. Castaing R. (I960). In Advances in Electronics and Electron Physics,
Vol. 13, ed. L. Marton, Academic, New York, p. 317.
241. Castaing R., Deschamps J. (1954). C. R. Acad. Sci. Paris, 238, 1506.
242. Duerr J. S.. Ogilvie R. E. (1972). Anal. Chem., 44, 2361.
243. Borile F., Garulli A. (1978). X-Ray Spectrometry, 7, 124.
244. Kohlhaas V. E., Scheidling F. (1969). Arch. EisentrUt/enwessen., 40,
1.
245. Barkalow R. H., Kraft R. W" Goldstein J. I. (1972). Met. Trans., 3,
919.
246. Brown J. D., von Rosenstiel A. P., Krish T. (1979). Microbeam
Analysis. 1979, ed. D. E. Newbury, San Francisco Press, San Francisco, p.
241.
326
Литература
247. Dahlberg Е. P. (1976). SEM/1976/I, IIT Research Institute, Chicago,
Illinois, p. 715.
248. Kehl G. L. (1949). Principles of Metallographic Laboratory Practice,
3rd., McGraw-Hill, New York.
249. Kiessling R., Lange N. (1964). "Non-Metallic Inclusions in Steel",
Special Report 90, The Iron and Steel Institute, London.
250. ASTM (1960). "Methods of Metallographic Specimen Preparation", ASTM
STP 285, Philadelphia, Pennsylvania.
251. Anderson R. L. (1961). "Revealing Microstructures in Metals",
Westinghou-se Research Laboratories, Scientific Paper 425-COOO-P2.
252. Taylor С. М., Radtke A. S. (1965). Economic Geology, 60, 1306.
253. Tegart W. (1959). Electrolytic and Chemical Polishing of Metals in
Research and Industry, 2nd rev. ed., Pergamon, New York.
254. Goldstein J. I., Hanneman R. E" Ogilvie R. E. (1965). Trans. Met.
Soc. AIME, 233, 812.
255. Michaelis R. E., Yakowitz H., Moore G. A. (1964). J. Res. Natl. Bur.
Stand.' (US), 68A, 343.
256. Heinrich K. F. J., Myklebust R. L., Rasberry S. D., Michaelis R. E.
(1971). National Bureau of Standards Spec. Pub. 260-28.
257. Yakowitz H., Michaelis R. E., Vieth D. L. (1969). In Advances in X-
Ray Analysis, Vol. 12, Plenum Press, New York, p. 418.
258. Yakowitz H., Fiori С. E., Michaelis R. E. (1971). National Bureau of
Standards Spec. Pub. 260-22.
259. Yakowitz H., Veith D. L., Heinrich K. F. J., Michaelis R. E. (1966).
In Advances in X-Ray Analysis, Vol. 9, Plenum, New York, p. 289.
260. Yakowitz H., Ruff A. W., Jr., Michaelis R. E. (1972). National
Bureau of Standards Spec. Pub. 260-43.
261. Marinenko R. B" Heinrich K- F. J., Ruegg F. C. (1979). Microbeam
Analysis, 1979, ed. D. E. Newbury, San Francisco Press, San Francisco,
California, p. 221.
262. De Nee P. B. (1978). SEM/1978/I, SEM Inc., AMF O'Hare, Illinois, p.
479.
263. Brown J. A., Teestsov A. (1976). SEM/1976/I, IIT Research Institute,
Chicago, Illinois, p. 385.
264. Moza A., Strickler D. W" Austin L. G. (1978). SEM/1978/I, SEM Inc.
AMF O'Hare, Illinois, p. 289.
265. Walker D. A. (1978). SEM/1978/I, IIT Research Institute, Chicago,
Illinois, p. 185.
266. McCrone W. C., Delly J. (1973). The Particle Atlas Two, Vol. I, Ann.
Arbor Science Publishers, Ann. Arbor, Michigan.
267. Barbi N. C., Scinner D. P. (1976). SEM/1976/I, IIT Research
Institute, Chicago, Illinois, p. 393.
268. Millette J. R" Clark P. J., Pansing M. F. (1978). SEM/1978/I, SEM
Inc., AMF O'Hare, Illinois, p. 253.
269. Lohnes R. A., Demirel T. (1978). SEM/1978/I, SEM Inc., AMF O'Hare,
Illinois, p. 643.
270. Tovey N. K., Wong K. Y. (1973). In "Proc. Intl. Symp. on Soil
Structure", Swedish Geotechnical Society, Stockholm, Sweden, p. 59.
271. Dengler L. A. (1978). SEM/1978/I, SEM Inc., AMF O'Hare, Illinois, p.
603.
272. Maissel L. I., Glang R. (eds.) (1970). Handbook of Thin Film
Technology, McGraw-Hill, New York.
273. Welter L. М., Coates V. J. (1974). SEM/1974/1, IIT Research
Institute. Chicago, Illinois, p. 59.
274. Spivak G. V., Rau E. I., Lukianov A. E., Petrov V. I., Bicov М. V.
(1972). In "Proc. 5th Eur. Cong. Electron Microscopy", Manchester,
England, p. 92.
275. Crawford С. K. (1979). SEM/1979/II. SEM Inc., AMF O'Hare, Illinois,
p. 31.
Литература
327
276. Echlin P., Saubermann A. J. (1977). SEM/1977/I, 1ST Research
Institute, Chicago, Illinois, p. 621.
277. Echlin P. (1978). J. Microsc., 112, 47.
278. Robinson V. N. E" Robinson B. W. (1978). SEM/1978/I, SEM Inc.,
AMF
O'Hare, Illinois, p. 595.
279. Kubotsu A., Veda M. (1980). J. Elect. Microsc., 29, 45.
280. Munger B. L. (1977). SEM/1977/I, IIT Research Institute,
Chicago, Illi-
nois, p. 481.
281. Murphey J. A. (1978). SEM/1978/II, SEM Inc., AMF
O'Hare, Illinois,
p. 175.
282. Murphey J. A. (1980). SEM/1980/I, SEM Inc., AMF
O'Hare, Illinois,
p. 209.
283. Pease R. W., Bailey J. F. (1975). /. Aftcrosc., 104, 281.
284. Panayi P. N., Cheshire D. C., Echlin P. (1977). SEM/1977/I, IIT
Research Institute, Chicago, Illinois, p. 463.
285. Leaver C., Chapman B. (1971). Thin Films, Wykeham, London.
286. Kazmerski L. L., Racine D. M. (1975). J. Appl. Phys., 46, 791.
287. Maeki G., Benoki M. (1977). J. Electron Microsc., 26, 223.
288. Paulson G. G., Pierce R. W. (1972). Proc. 30th Ann.
EMSA, Claitors
Publishing, Baton Rouge, Lousiana, p. 406.
Предыдущая << 1 .. 121 122 123 124 125 126 < 127 > 128 129 130 131 132 133 .. 139 >> Следующая

Реклама

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed

Есть, чем поделиться? Отправьте
материал
нам
Авторские права © 2009 BooksShare.
Все права защищены.
Rambler's Top100

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed