Научная литература
booksshare.net -> Добавить материал -> Биология -> Гоулдстей Дж. -> "Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Том 1" -> 108

Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Том 1 - Гоулдстей Дж.

Гоулдстей Дж., Ньюбери Д., Эчлин П., Джой Д., Фиори Ч., Лифшин Э. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Том 1 — М.: Мир, 1984. — 348 c.
Скачать (прямая ссылка): rastovayaelektronnayamicroskopiya1984.djvu
Предыдущая << 1 .. 102 103 104 105 106 107 < 108 > 109 110 111 112 113 114 .. 139 >> Следующая

срезы. Смола, однако, существенно разбавляет содержимое клеток,
увеличивая общую массу образца. Этот этап в процедуре препарирования
можно опустить, если должны исследоваться очень тонкие образцы или
хорошие суспензии либо если образцы должны исследоваться в отраженных
фотонах или электронах.
Смолы могут удалять и перераспределять элементы, и нет сомнения в том,
что процедура заливки может внести элементы в анализируемые материалы.
Некоторые из эпоксидных смол могут содержать относительно большое
количество серы, в то время как смолы на основе эпихлоргидрина содержат
малое количество хлора. Низкий уровень хлора (0,73%) в смоле Спурра с
низкой вязкостью все еще слишком велик, когда должны проводиться
критические исследования хлора. Желательно проводить элементный анализ
всех заливочных химикатов перед их употреблением для препарирования
образца. Ме-такрилатные смолы теоретически свободны от минеральных
элементов, но вызывают сильную усадку при полимеризации и нестабильны под
электронным пучком.
12.2.7. Получение срезов и изломов
Трудно представить, как изготовление срезов и изломов могло бы влиять на
аналитические результаты, но необходимо рассмотреть ряд эффектов. Режущие
кромки ножей не остают-
Препарирование биологических образцов для РМА
285
ся все время острыми и постепенно изнашиваются при взаимодействии с
образцом. Следует учитывать, куда исчез материал с острия ножа в процессе
изготовления среза. Стекло обычно содержит бор, кремний, натрий и калий
вместе со следами других элементов. Алмазные ножи состоят из чистого
углерода, и мало вероятно, что они внесут существенное загрязнение в
объект. Стальные ножи часто используются для нарезки срезов и, вполне
возможно, загрязняют образцы. Очень важно тщательно после заточки очищать
стальные ножи для того, чтобы удалить все хонинговые соединения. Это
лучше всего достигается путем использования мягкой тряпочки и
органической жидкости, например ацетона. Необходимо обратить внимание на
чистоту промывочной жидкости, если она использовалась, и на обработку
среза после нарезки. Например, если необходимо выровнять срезы из смолы,
лучше, вероятно, избегать паров хлороформа, которые могут легко
поглощаться срезами из смолы, что приводит к большому загрязнению хлором.
12.2.8. Подложки образца
В идеальном случае подложка для образца должна быть хорошим проводником и
быть сделана из материала, который не давал бы вклада в рентгеновский
сигнал, идущий с образца. Для массивных образцов или срезов, изучаемых в
режиме вторичных электронов, образцы обычно помещают на хорошо
отполированные сверхчистые углеродные, алюминиевые или бе-риллиевые
диски. Подходит также для этого легированный бором монокристаллический
кремний. Эти материалы являются достаточно хорошими проводниками и дают
только малый вклад в рентгеновский фон. Материалы, которые нужно
исследовать с помощью световой оптики, должны монтироваться на кварцевых
или прозрачных пластиковых пленках, которые для создания проводимости
дол!жны покрываться тончайшим слоем (~5-7 нм) алюминия. Для материалов в
виде среза пригоден целый ряд подложек, в основном на основе стандартной
сетки (3,08 мм) для просвечивающего электронного микроскопа. Можно
применять сетки, изготовленные из меди, титана, никеля, алюминия,
бериллия, золота, углерода и нейлона. Они могут использоваться с
пластиковой поддерживающей пленкой и без нее. Имеется тенденция
использовать сетки, изготовленные из материалов с низким атомным номером,
таких, как алюминий, углерод или бериллий, так как они дают значительно
меньший вклад в рентгеновский фон. В качестве подложек для образца
использовались нейлоновые пленки с алюминиевым или углеродным покрытием
[300, 426], преимущество которых состоит в том, что они являются более
прочными и прозрачными
286
Глава 12
для электронов, хотя и вносят вклад в фон. Массивные образцы должны
закрепляться на подложке для образца проводящей пастой высокой чистоты,
такой, как коллоидный углерод, и важно проверять, чтобы рентгеновское
излучение клеящего вещества не было бы помехой при исследованиях.
12.2.9. Окрашивание образца
Предупреждения относительно использования фиксаторов в равной степени
применимы к окрашиванию. В связи с опасностью экстракции содержащихся
растворимых веществ и вероятности внесения тяжелых элементов,
рентгеновские пики которых могут маскироваться или налагаться на
излучение интересуемых элементов, по-видимому, лучше всего избегать
окрашивания. Если контраст изображения образца неприемлемо мал, тогда
надо идти на некоторый компромисс, объект должен исследоваться либо в
просвечивающем растровом электронном микроскопе, который дает наиболее
высококонтрастные изображения, либо в режиме вторичной электронной
эмиссии, который дает удивительно хорошую информацию с тонких срезов.
12.2.10. Нанесение покрытия на образец
Обычно перед исследованием принято покрывать образцы тонким проводящим
Предыдущая << 1 .. 102 103 104 105 106 107 < 108 > 109 110 111 112 113 114 .. 139 >> Следующая

Реклама

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed

Есть, чем поделиться? Отправьте
материал
нам
Авторские права © 2009 BooksShare.
Все права защищены.
Rambler's Top100

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed