Введение в методы микроскопического исследования - Аппельт Г.
Скачать (прямая ссылка):
Рис. 97. и 98. Схематическое изображение хода лучей в микроскопе Лейтца «Ортолюкс» при освещении проходящим светом.
Схематическое изображение хода лучей в микроскопе Лейтца «Ортолюкс» при освещении падающим светом.
р
Рис. 99. Бинокулярный микроскоп С 35 Bi фирмы Меопта в Праге.
5.9. СОВРЕМЕННЫЕ МИКРОСКОПЫ ДЛЯ НАБЛЮДЕНИЙ В ПРОХОДЯЩЕМ СВЕТЕ ПО МЕТОДУ СВЕТЛОГО ПОЛЯ
Среди продукции, выпускаемой оптическими фирмами после второй мировой войны, имеется много новых типов микроскопов, свидетельствующих о высоком уровне развития науки в области оптики и точной механики.
Некоторые из этих микроскопов заслуживают особого внимания:
Рис. 100. Универсальный микроскоп «Z» фирмы Рейхерт в Вене, снабженный оптической скамьей и низковольтным осветителем
«Lux FNJ».
1. Микроскоп «Люмипан» Народного предприятия Карл Цейсс в Йене снабжен револьверным устройством для смены конденсоров, несущим два конденсора светлого поля для сильных и слабых объективов и кардиоид-конденсор для темного поля. Под конденсором находится панкратическая система (см. главу 5, раздел 5.6.1). Освещение обеспечивается при помощи вмонтированной в основание штатива микроскопа низковольтной точечной лампой. Микроскоп можно применять при любых исследованиях в проходящем свете.
2. Микроскоп Лейтца «Ортолюкс» является универсальным микроскопом для всех исследований в проходящем и падающем свете. Источник света также вмонтирован в основание прибора. Все без исключения головки регулирующих винтов расположены внизу, что облегчает движения кистей
Рис. 101. Стандартный микроскоп фирмы Цейсс-Винкель.
рук и предохраняет их от утомления. Столик микроскопа перемещается в вертикальном направлении. В соответствии с использованием микроскопа конденсоры можно заменять.
3. Универсальный микроскоп Рейхерта «Z», точно так we как и «Ортолюкс» Лейтца, пригоден для всех исследований в проходящем и падающем свете. Внешне, однако, прибор напоминает более ранние модели. Источник света не вмонтирован внутрь. Однако микроскоп может быть уста-
новлен на плиту-подставку с вмонтированным осветителем (см. рис. 50).
4. Стандартный микроскоп фирмы Цейсс-Винкель. Источник света вмонтирован в основание прибора. Винты для грубой и тонкой наводки, а также для перемещения препарата вперед, назад и в стороны расположены на одной оси.
Микроскоп применяют для всех исследований в проходящем свете.
Рис. 102. Штатив W фирмы Цейсс-Оберкохен.
5. Фирма Цейсс-Оберкохен выпустила новый микроскоп, в который внесены различные усовершенствования. Особыми прецизионными методами была достигнута взаимная юстировка отдельных частей микроскопа после их установки в соответствующих оправах. Благодаря этому отпадает необходимость в центрировании конденсоров темного поля и фазовоконтрастных конденсоров и т. д.
Конденсоры снабжены только механизмом тонкой наводки. Грубая установка зубчатым механизмом, не является необходимой, так как освещенность поля регулируется уже не с помощью отвинчивания фронтальной линзы
и опускания конденсора, как это обычно делается, а путем насадки добавочной линзы на коллектор вмонтированного осветителя.
Все объективы, в том числе и с очень слабыми увеличениями, и масляные иммерсии выравнены между собой, что значительно облегчает работу при последовательной смене объектов и при переходе от малых увеличений к большим.
Наконец, было создано еще одно вспомогательное устройство — «Оптовар». Оно помещается выше револьвера на тубусодержателе и позволяет посредством револьверного диска попеременно включать промежуточные линзы с увеличением 1х; 1,6X; 2,5х, затем линзу Амичи-Бертрана для наблюдения за выходным зрачком объектива и анализатор для поляризационно-оптических исследований.
8*
Глава 6
МИКРОСКОПИЯ В ПРОХОДЯЩЕМ СВЕТЕ ПО МЕТОДУ ТЕМНОГО ПОЛЯ И УЛЬТРАМИКРОСКОПИЯ
6.1. УСЛОВИЯ ОСВЕЩЕНИЯ ПО МЕТОДУ ТЕМНОГО ПОЛЯ В ПРОХОДЯЩЕМ СВЕТЕ
При освещении по методу темного поля получают светлое изображение объекта на фоне темного поля. Благодаря большой контрастности отдельные детали объекта видны лучше, чем при изображении в светлом поле.
Для наблюдений в темном поле пригодны все объекты, структуры которых различаются между собой по показателю преломления, и в первую очередь следующие:
а) Объекты с плоской поверхностью и закономерно повторяющейся структурой, такие, как диатомовые водоросли, фибриллы и др., особенно если они вследствие незначительной разницы в показателе преломления по сравнению с заключающей средой дают в светлом поле вялые изображе-
ния; неоднородные объекты, толщина которых не слишком превышает глубину зрения объектива и отдельные структуры которых отличаются друг от друга показателем преломления.
б) Линейные объекты, такие, как грани и контуры различных объектов, волокна, бактерии, жгутики, иглы, трещины, внутренние и внешние контуры в кристаллах.
